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USB3.0的物理層接收端的測(cè)試方法

作者: 時(shí)間:2010-02-24 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  PeRT3可以自動(dòng)測(cè)量多個(gè)頻點(diǎn)下的抖動(dòng)容限和誤碼率,如下圖5所示為某芯片的抖動(dòng)容限測(cè)試結(jié)果,橫軸為頻率,縱軸為該頻點(diǎn)的抖動(dòng)幅度,黑線(xiàn)為規(guī)范要求的抖動(dòng)容限,紅點(diǎn)為出現(xiàn)誤碼的正弦抖動(dòng)的幅度,由于紅點(diǎn)都在黑線(xiàn)之上,說(shuō)明該芯片的抖動(dòng)容限滿(mǎn)足規(guī)范要求。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/106228.htm

  

 

  圖5:某芯片接收機(jī)測(cè)試結(jié)果

  結(jié)語(yǔ):本文簡(jiǎn)要介紹了測(cè)試USB3.0的的解決方案。的PeRT3結(jié)合了誤碼率測(cè)試儀和協(xié)議分析儀兩種功能,可以快速驗(yàn)證USB3.0芯片的抖動(dòng)容限和誤碼率,配合力科第四代示波器SDA813Zi強(qiáng)大的眼圖和抖動(dòng)分析能力,可以快速的調(diào)試和分析USB3.0設(shè)計(jì)中的碰到的各種問(wèn)題。

  

 

  圖6:力科的USB3.0的發(fā)送端和接收端測(cè)試系統(tǒng)

  參考文獻(xiàn)

  1, Universal Serial Bus 3.0 Specification, Revision 1.0.

  2, USB3.0 Electrical Compliance Methodology White Paper, Revision 0.5.

  3, LeCroy USB3.0 Datasheet.

負(fù)離子發(fā)生器相關(guān)文章:負(fù)離子發(fā)生器原理
網(wǎng)線(xiàn)測(cè)試儀相關(guān)文章:網(wǎng)線(xiàn)測(cè)試儀原理


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