USB3.0的物理層接收端的測(cè)試方法
加入技術(shù)交流群
差分電壓擺幅測(cè)試
本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/106228.htm差分電壓擺幅測(cè)試的目的是驗(yàn)證信號(hào)峰峰值是否在0.8-1.2V之間。測(cè)試中Device Under Test(簡(jiǎn)稱DUT)需要發(fā)送出測(cè)試碼型CP8(CP是Compliance Pattern的簡(jiǎn)寫，在USB3的物理層測(cè)試中，各項(xiàng)測(cè)試需要不同的測(cè)試碼型，USB3.0規(guī)范中定義了各種測(cè)試碼流，USB3.0的芯片廠商提供了軟件接口來配置其發(fā)送數(shù)據(jù)的碼型)，CP8由50-250個(gè)連續(xù)的1和50-250個(gè)連續(xù)的0重復(fù)交替組成，而且消除了去加重，其波形相當(dāng)于50-250分頻的時(shí)鐘。在這些測(cè)試中，把USB3.0測(cè)試夾具去嵌后測(cè)量結(jié)果更精確。
去加重比值測(cè)試
為了把5Gbps速率的數(shù)據(jù)傳送較遠(yuǎn)的距離，USB3.0的發(fā)送端使用了去加重技術(shù)，這項(xiàng)測(cè)試可以測(cè)量DUT的去加重程度是否滿足規(guī)范要求(要求在-3dB到-4dB之間)。測(cè)試時(shí)DUT發(fā)送出CP7碼流，CP7碼型由50-250個(gè)連續(xù)的1和50-250個(gè)連續(xù)的0重復(fù)交替組成，而且是添加了去加重的信號(hào)波形。圖3為某USB3.0芯片的去加重測(cè)量結(jié)果，該芯片采用了-3.47dB的去加重。
圖3：某USB3.0芯片的去加重比值測(cè)量
負(fù)離子發(fā)生器相關(guān)文章:負(fù)離子發(fā)生器原理 網(wǎng)線測(cè)試儀相關(guān)文章:網(wǎng)線測(cè)試儀原理
評(píng)論