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新思科技與中芯國(guó)際合作推出 DesignWareUSB 2.0 nanoPHY

作者: 時(shí)間:2010-05-14 來(lái)源:美通社 收藏

  全球制造軟件和知識(shí)產(chǎn)權(quán)領(lǐng)先企業(yè)新思科技有限公司和全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體制造商集成電路有限公司今天宣布開(kāi)始提供用于 (nanoMEter) 低漏電 (Low-Leakage)工藝技術(shù)的新思科技經(jīng)硅驗(yàn)證的和獲得 USB 標(biāo)志認(rèn)證的DesignWare(R) USB 2.0 nanoPHY知識(shí)產(chǎn)權(quán) (IP)。作為一家提供包括控制器、PHY 和驗(yàn)證 IP 等 USB2.0接口完整 IP 解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商,新思科技繼續(xù)致力于通過(guò)提供高品質(zhì)IP助力設(shè)計(jì)人員降低集成風(fēng)險(xiǎn),這些 IP 具備了驗(yàn)證過(guò)的互操作性,并與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范設(shè)計(jì)兼容。DesignWare USB 2.0 nanoPHY IP 專(zhuān)為各種高市場(chǎng)容量移動(dòng)和消費(fèi)電子應(yīng)用而設(shè)計(jì)的,這些應(yīng)用的關(guān)鍵要求包括要實(shí)現(xiàn)面積最 ⒌投托孤┕牡忍匭浴4送?,DesignWare USB 2.0 nanoPHY IP 內(nèi)建了調(diào)整電路,可支持快速的、芯片加工后的調(diào)整,以應(yīng)對(duì)意外的芯片/電路板寄生或工藝變化,而無(wú)需用戶(hù)對(duì)現(xiàn)有設(shè)計(jì)進(jìn)行修改。這一特性使得設(shè)計(jì)人員能夠提高良品率,并最大限度地降低昂貴的芯片改版成本。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/108973.htm

  “新思科技經(jīng)過(guò)硅驗(yàn)證的 DesignWare USB2.0 nanoPHY IP 與的低漏電65nm 工藝技術(shù)相互融合,使得我們雙方的客戶(hù)能夠容易地將先進(jìn)功能集成到可幫助他們滿(mǎn)足低功耗要求、實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵上市時(shí)間目標(biāo)和快速投入量產(chǎn)的工藝中,”中芯國(guó)際高級(jí)副總裁兼首席業(yè)務(wù)官季克非表示,”近來(lái),客戶(hù)充分利用中芯國(guó)際 LL 工藝和新思科技 USB2.0 nanoPHY IP 在硅晶片領(lǐng)域大獲成功,這讓我們信心倍增。我們將加強(qiáng)與新思科技的戰(zhàn)略和協(xié)同關(guān)系,利用我們業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的集成、功率效率和性?xún)r(jià)比,為我們的客戶(hù)提供明顯領(lǐng)先的優(yōu)勢(shì)。我們期待著與新思科技一如既往地開(kāi)展持續(xù)合作,并向更先進(jìn)的工藝制程邁進(jìn)。”

  “隨著新思科技面向 SMIC 65 nm LL 工藝技術(shù)的高品質(zhì) DesignWare USB2.0 nanoPHY 的上市,我們將繼續(xù)向設(shè)計(jì)人員提供他們滿(mǎn)足當(dāng)今制造工藝要求所需的知識(shí)產(chǎn)權(quán),”新思科技解決方案集團(tuán)營(yíng)銷(xiāo)副總裁 John Koeter 表示,“我們通過(guò)與中芯國(guó)際合作,在其65 nm LL 工藝中對(duì)我們的 USB 2.0 nanoPHY IP 進(jìn)行硅驗(yàn)證。這種做法為我們的客戶(hù)提供了成熟的、經(jīng)過(guò)認(rèn)證的 IP 解決方案,使他們能夠在集成 DesignWare IP 的過(guò)程中降低所面臨的風(fēng)險(xiǎn),并加快產(chǎn)品的上市時(shí)間。”



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