歐洲低功耗納電子項目啟動探索電流控制

       意法半導(dǎo)體宣布該公司被任命為歐洲新的集成電路研究項目CLEAN（anoCMOS 系統(tǒng)芯片泄漏功率控制）的負責(zé)人這個為期三年的研究項目是由歐洲委員會提供資金的，項目目標是探討65nm以下CMOS設(shè)計的泄漏電流的控制方法，延長電池使用壽命，降低電子產(chǎn)品功耗。 


       隨著65nm以下制造技術(shù)的芯片的快速發(fā)展，降低泄漏電流成為一個越來越重要的問題。電路設(shè)計工程師承認，如果不能找到并采用一個適當?shù)膶Σ?，泄漏電流將是影響下一代電路及系統(tǒng)呈現(xiàn)精彩紛呈的應(yīng)用性能的主要障礙。 


       要想在市場上取得成功，進而在65nm以下的芯片制造能力上居領(lǐng)先水平，如何降低泄漏電流著一問題，必須在設(shè)計范疇內(nèi)得到解決，因為連續(xù)的改進制造工藝無法克服下一代半導(dǎo)體產(chǎn)品不斷上升的泄漏電流。 


       在這個項目下開發(fā)出來的新一代泄漏功率模型、設(shè)計方法及技術(shù)和原型ＥＤＡ（電子設(shè)計自動化）工具可望能夠有效處理泄漏問題，即便是在非常復(fù)雜的系統(tǒng)中，也能最大限度地降低功率泄漏。 


       在CLEAN項目內(nèi)，ST將管理協(xié)調(diào)一個由14個歐洲合作伙伴組成的研發(fā)聯(lián)盟的全部活動，這些成員組成了一個獨一無二的技術(shù)能力組合（半導(dǎo)體廠商、ＥＤＡ廠商和享譽全球的科研院所），同時，ＳＴ還可以適當?shù)卣{(diào)配所需資源，以確保全部的項目目標都能取得成功。 


       “ CLEAN項目將有助于解決65nm以下技術(shù)節(jié)點的技術(shù)缺陷，特別是泄漏電流、制程變異性和可靠性低等技術(shù)難題，”CLEAN項目的負責(zé)人意法半導(dǎo)體先進系統(tǒng)技術(shù)部研發(fā)項目經(jīng)理Roberto Zafalon表示，“這個項目的開發(fā)成果將有助于降低下一代芯片的功耗，同時還能提高設(shè)計效率，進而加強對這些芯片的更高復(fù)雜性的管理能力?！?nbsp;  

       CLEAN項目的開發(fā)成果預(yù)計會跨躍從建模到優(yōu)化、從設(shè)計方案到設(shè)計方法及工具等低泄漏設(shè)計的不同層面。因為項目參與者的特殊的技術(shù)能力組合，以及歐洲委員會的大力支持，CLEAN的開發(fā)成果將會給歐洲納電子行業(yè)在不同應(yīng)用領(lǐng)域（如消費電子和ＥＤＡ工具）的進步帶來巨大的商機。