8月問世 日置HIOKI首款阻抗分析儀-IM3570

　　概要

　　阻抗分析儀IM3570是實(shí)現(xiàn)了測(cè)量頻率4Hz~5MHz的日置首款高精度·高速阻抗分析儀。根據(jù)客戶的用途，可以與原來本公司的LCR產(chǎn)品一樣選擇將測(cè)量值用數(shù)值顯示模式來顯示頻率/電平特性的測(cè)量圖表。

　　定位

　　IM3570是類似本公司以往產(chǎn)品LCR測(cè)試儀3532-50，并較其功能更為強(qiáng)大的產(chǎn)品。特別加強(qiáng)了頻率的掃描測(cè)量、高速測(cè)量、低ESR測(cè)量、DCR的連續(xù)測(cè)量和測(cè)量穩(wěn)定性，是HIOKI首款能在掃頻測(cè)量時(shí)顯示圖表的產(chǎn)品。此外，這款產(chǎn)品的測(cè)試速度、操作性、價(jià)格都非常符合現(xiàn)今市場(chǎng)需求，極具行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)性。

　　特點(diǎn)

　　關(guān)于測(cè)量精度，特別是低阻抗的操作反復(fù)精度比起以往產(chǎn)品都提高了一位，所以比較適合測(cè)量多mΩ、低ESR功能性高分子電容。

　　另外，測(cè)量時(shí)間最快為0.5ms(100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF時(shí))，所以能夠高速測(cè)量共振頻率、發(fā)聲零件、振動(dòng)傳感器等，適合用于生產(chǎn)壓電元件的生產(chǎn)線。

　　最大的優(yōu)點(diǎn)是，與以往產(chǎn)品相比可高速的切換測(cè)量條件后進(jìn)行測(cè)量。因此，以往的裝備多臺(tái)測(cè)試儀的系統(tǒng)現(xiàn)在用一臺(tái)IM3570就能搞定。比如，測(cè)量線圈，DCR測(cè)量(電阻計(jì))和1MHz的L-Q值測(cè)量(LCR)都可以用IM3570測(cè)量。

　　主要應(yīng)用

　　壓電元件(發(fā)聲零件、濾波器)、高分子電容的生產(chǎn)線上的檢查中，另外頻率掃描測(cè)量也可用于電池材料評(píng)估等多種用途中。