獲得射頻儀器最大功效的最優(yōu)方法

　　了解你的被測(cè)試裝置

　　被測(cè)試裝置(DUT)的性能會(huì)顯著影響射頻測(cè)量。例如，溫度會(huì)影響穩(wěn)定性，并因此與可重復(fù)性密切相關(guān)。許多射頻器件和射頻儀器沒(méi)有對(duì)溫度變化的內(nèi)部補(bǔ)償。因此，它們必須在穩(wěn)定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測(cè)量誤差最小。當(dāng)前的環(huán)境(例如，空調(diào)循環(huán)的開(kāi)啟與關(guān)閉，覆蓋物和面板的移除或增加，處于戶外或室內(nèi)，以及是否接近熱源)會(huì)有很大影響。需要注意適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時(shí)間、被測(cè)試裝置的冷卻需求和周邊的環(huán)境以確保溫度穩(wěn)定性。

　　在有源器件中，過(guò)高的功率會(huì)導(dǎo)致發(fā)熱。例如，在測(cè)試高功率放大器時(shí)，被測(cè)試器件本身可以保持溫度穩(wěn)定，但是下游組件會(huì)怎么樣呢?看看是否有開(kāi)關(guān)或衰減器因?yàn)榉糯笃鞯妮敵龆患訜?。尋找由放大器產(chǎn)生的異常信號(hào)，例如諧波。電源線容易受到可直接疊加到輸出的環(huán)境噪聲的影響。而且，測(cè)量放大器的線性參數(shù)(增益和相位)，隨后卻發(fā)現(xiàn)放大器同時(shí)處于被壓縮狀態(tài)是令人沮喪的。所有這些都影響了射頻測(cè)量的精度。在器件被測(cè)試前對(duì)其本身、其運(yùn)作方式以及它對(duì)射頻測(cè)量參數(shù)的影響進(jìn)行了解，會(huì)得到有意義的結(jié)果。

　　識(shí)別出現(xiàn)不確定性的方面

　　僅僅匹配射頻測(cè)試設(shè)備的數(shù)據(jù)表格說(shuō)明與被測(cè)試裝置的測(cè)試要求是不夠的。這在更高頻率或者失配的射頻測(cè)量中尤其明顯，除其它外，還有放大不確定性。在測(cè)量的每個(gè)步驟中引入的誤差會(huì)使總體結(jié)果出現(xiàn)偏差。當(dāng)一個(gè)不正確的測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)時(shí)，你應(yīng)該在質(zhì)疑被測(cè)量裝置存在問(wèn)題之前首先懷疑測(cè)量出現(xiàn)錯(cuò)誤。

　　請(qǐng)?jiān)跍y(cè)量過(guò)程中了解儀器儀表以及被測(cè)試裝置的關(guān)鍵操作規(guī)范。在其它規(guī)范中，了解匹配，頻率響應(yīng)，噪聲系數(shù)和功率。同時(shí)，也要了解這些參數(shù)的容許誤差。請(qǐng)記住如下要素：

　　射頻開(kāi)關(guān)重復(fù)性，老化和功率處理

　　耦合器的指向性，電纜的相穩(wěn)定性以及適配器的插入損耗和回波損耗

　　電路板線路的阻抗質(zhì)量，器件插座和電路板的開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換

　　測(cè)量中的電磁干擾(EMI)輻射和耦合

　　一些通常沒(méi)有被認(rèn)真考慮的項(xiàng)目，例如冷卻、諧波、激勵(lì)以及其他非線性行為也能夠增加測(cè)量中的誤差。審視整個(gè)測(cè)試設(shè)備并確定每一塊的誤差分布以獲得對(duì)預(yù)期測(cè)量不確定性的實(shí)際評(píng)價(jià)。找出誤差原因和它們對(duì)精度、重復(fù)性和不確定性的影響。這可以得到更好的結(jié)果，使您能更加有效和有意義地分配預(yù)算和資源。