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基于Multitest Mercury探針的晶片級測試座受好評 測試良品率提高6%

作者: 時間:2010-09-30 來源:SEMI 收藏

   宣布全球最大的無晶圓半導體制造商之一對基于Mercury的座進行了評估,結(jié)果發(fā)現(xiàn)該產(chǎn)品優(yōu)于以往傳統(tǒng)的POGO型彈簧針解決方案。Mercury測試座有八個試驗位,每個試驗位將近200個彈簧探針??蛻魹闈M足不斷增加的產(chǎn)量,已經(jīng)購買了三十多個測試座。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/113158.htm

  座已被中國臺灣和新加坡的多個測試代工廠采用??蛻舴从矼ercury測試座使測試良品率比以往的方案提高了4-6%,顯著節(jié)約了測試成本。此外,分包商對Mercury測試座的經(jīng)久耐用、維護要求低以及低廉的替換探針價格感到滿意。

  英國的另一家無晶圓廠制造商購買了數(shù)個32試驗位Mercury座,并將其中一臺發(fā)到中國臺灣的一家測試分包商,在那里也取得了極大成功。

  Mercury的成功故事包括了數(shù)千個用于單粒器件、條帶測試和晶片級測試的測試座。Mercury系列因其卓越的機械和電氣性能而深受歡迎,其卓越性能則源自其獨特的結(jié)構(gòu)和制造流程。

  從性能量化方面來看,探針擁有大約20 GHz的帶寬、超過2安培的載流容量、大約1 nH的電感以及50 – 80萬次的使用壽命(數(shù)值與引腳間距有關(guān))。



關(guān)鍵詞: Multitest 晶片級測試

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