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Viscom將于NEPCON China推出Software Release 7.44

作者: 時(shí)間:2011-05-09 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  將于2011年NEPCON China展推出新型Software 7.44。該新型軟件為客戶帶來(lái)檢測(cè)作業(yè)方面的全套新特性和其他有用功能——從完全重新開(kāi)發(fā)的“在線幫助”、8M應(yīng)用周期時(shí)間的改善,到簡(jiǎn)易檢測(cè)計(jì)劃的創(chuàng)建,優(yōu)化性能均有顧及。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/119334.htm

  新型 7.44的諸多優(yōu)勢(shì)特性使AOI/AXI在生產(chǎn)中的部署更快更方便。在此僅展示少數(shù)精選重點(diǎn)優(yōu)勢(shì)作為示例。不過(guò),該新型軟件版本有許多其他改進(jìn),可提高系統(tǒng)性能和緩解操作員工作強(qiáng)度。我們的用戶在支持論壇可查找完整列表。

  針對(duì)Release 7.44,Viscom已推出全新“在線幫助”?,F(xiàn)在它提供更清晰概覽,注重分析流程,在線幫助對(duì)此有詳細(xì)說(shuō)明。為了適應(yīng)生產(chǎn)實(shí)踐,可輕松調(diào)整分析。借助該新型Release產(chǎn)品,配備系統(tǒng)自帶攝像系統(tǒng)的條碼掃描能力也進(jìn)一步改善?,F(xiàn)在超過(guò)攝像系統(tǒng)像場(chǎng)的較大條碼亦可快速準(zhǔn)確地掃描。

  Viscom的“集成驗(yàn)證”確保已采集并評(píng)估的分析圖像可用于未來(lái)檢測(cè)。一款智能工具,可用來(lái)簡(jiǎn)化檢測(cè),獲取優(yōu)質(zhì)檢測(cè)程序。借助該新型Release,針對(duì)創(chuàng)建新型檢測(cè)方案的圖像采集得到改善,于是這種特性可以得到更有效地應(yīng)用。

  日益受歡迎的另外一款Viscom工具是OnDemand HR功能(HR =高分辨率)。其優(yōu)勢(shì)包括檢測(cè)深度改善、虛報(bào)減少和驗(yàn)證程序簡(jiǎn)化——在周期時(shí)間內(nèi)幾乎沒(méi)有丟失。在此,該新型Release使系列作業(yè)的周期時(shí)間得到進(jìn)一步優(yōu)化。

  通過(guò)EasyGen,快速檢測(cè)計(jì)劃創(chuàng)建過(guò)程得到優(yōu)化,這使新型Release更添價(jià)值。EasyGen是用于創(chuàng)建新檢測(cè)計(jì)劃的Viscom向?qū)С绦颉T谛庐a(chǎn)品試運(yùn)行階段,它可有效指導(dǎo)系統(tǒng)操作人員進(jìn)入檢測(cè)方案。Release 7.44的其他改進(jìn)使檢測(cè)計(jì)劃的創(chuàng)建更快更有效。因此無(wú)需電子組裝數(shù)據(jù)即可輕松確定多屏解決方案或創(chuàng)建檢測(cè)計(jì)劃。

  最后但亦同樣重要,借助組合系統(tǒng)X7056,AXI OnDemand檢測(cè)可順利完成。對(duì)于首先需要高產(chǎn)能AOI的檢測(cè)任務(wù)來(lái)說(shuō),X-ray設(shè)備可用來(lái)選擇性驗(yàn)證單個(gè)瑕疵(AXI OnDemand)。這可確保符合極其嚴(yán)格的AOI容差要求,并可安全避免瑕疵遺漏。同時(shí),它亦可靠防止了人為錯(cuò)誤,從而在嚴(yán)格要求最大檢測(cè)深度的任何環(huán)境中,均有巨大優(yōu)勢(shì)。

  Viscom的X7056將在上海NEPCON展First Tech公司的1D02號(hào)展位與觀眾見(jiàn)面。

  圖片標(biāo)題:Viscom檢測(cè)視圖



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