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CadenceRTL-to-GDSII流程幫助夏普縮短設(shè)計(jì)周期

—— 夏普改進(jìn)CMOS圖像傳感器開發(fā)的效率和設(shè)計(jì)質(zhì)量
作者: 時(shí)間:2012-07-23 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  全球電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新領(lǐng)先企業(yè)設(shè)計(jì)系統(tǒng)公司(NASDAQ: CDNS),日前宣布公司已經(jīng)采用  Encounter RTL-to-GDSII流程開發(fā)其CMOS圖像,與過去的設(shè)計(jì)流程相比,在設(shè)計(jì)周期方面加快了兩倍。除了加快產(chǎn)品上市時(shí)間外,在時(shí)序、面積和生產(chǎn)效率方面也獲得大幅改進(jìn)。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/134905.htm

  “改用 Encounter RTL-to-GDSII流程后,我們看到設(shè)計(jì)周期有了大幅度的改進(jìn),設(shè)計(jì)質(zhì)量也更高了,”電子元件及設(shè)備集團(tuán)感應(yīng)設(shè)備部門產(chǎn)品規(guī)劃科部門副總經(jīng)理兼科室總經(jīng)理Naoya Fujita說,“我們超越了設(shè)計(jì)要求和期望,并且期待著繼續(xù)與Cadence合作,滿足高質(zhì)量CMOS圖像越來越高的要求。”

  夏普此次采用完整的Cadence RTL-to-GDSII流程 包括標(biāo)準(zhǔn)化的Encounter RTL Compiler、Encounter Conformal Equivalence Checker、Encounter Digital Implementation和Encounter Test。

  與其之前的設(shè)計(jì)方法相比,夏普獲得的優(yōu)勢(shì)包括更好的擁塞處理能力以及更快的時(shí)序收斂。

  “Cadence致力于繼續(xù)推進(jìn)數(shù)字設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),”Cadence硅實(shí)現(xiàn)部高級(jí)副總裁Chi-Ping Hsu博士說,“我們與夏普的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)密切合作,展示了我們技術(shù)領(lǐng)先的Encounter RTL-to-GDSII流程如何幫助他們?cè)谶@個(gè)競(jìng)爭(zhēng)激烈的CMOS圖像領(lǐng)域里實(shí)現(xiàn)和超越他們的目標(biāo)。通過合作與技術(shù)投資,我們能幫助夏普等公司實(shí)現(xiàn)盡可能最高的芯片質(zhì)量,并極大加快產(chǎn)品上市時(shí)間。”



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