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在射頻產(chǎn)品設(shè)計(jì)中將仿真與測(cè)量相結(jié)合

作者:DAVIDHALL 時(shí)間:2012-09-12 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  當(dāng)前的軟件的一個(gè)新特性是能夠不斷提高環(huán)境和測(cè)試軟件間軟件之間連通性。更具體地說,這種連通性能夠?qū)崿F(xiàn):(1)現(xiàn)代的軟件環(huán)境推動(dòng)測(cè)量軟件的發(fā)展,以及(2)測(cè)量自動(dòng)化環(huán)境能夠?qū)崿F(xiàn)EDA設(shè)計(jì)環(huán)境的自動(dòng)化。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/136704.htm

  連通軟件環(huán)境的好處之一是,它允許設(shè)計(jì)工程師在設(shè)計(jì)過程的早期階段就使用更為豐富的測(cè)量算法。這不僅讓工程師在設(shè)計(jì)過程中及早地了解其設(shè)計(jì)相關(guān)的重要信息,而且還能夠?qū)碜则?yàn)證/確認(rèn)過程的測(cè)量數(shù)據(jù)與仿真建立關(guān)聯(lián)。增加EDA和測(cè)試環(huán)境的連通性的第二個(gè)好處是,它允許測(cè)試工程師在設(shè)計(jì)過程中更快地開發(fā)工作測(cè)試代碼——最終減少復(fù)雜產(chǎn)品的上市時(shí)間。

  EDA豐富了測(cè)量的內(nèi)容

  EDA和測(cè)試軟件的連通性改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程的方法之一是提供了更豐富的測(cè)量。從根本上說,EDA工具使用行為模型來預(yù)測(cè)新設(shè)計(jì)產(chǎn)品的行為。但可惜的是,仿真設(shè)計(jì)的驗(yàn)證所使用的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn),與用于驗(yàn)證最終產(chǎn)品的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)完全不同——這使得關(guān)聯(lián)仿真和測(cè)量數(shù)據(jù)變得相當(dāng)困難。

  一個(gè)日益明顯的趨勢(shì)是:在過程中使用相同的工具鏈——這種趨勢(shì)最終能夠使工程師將測(cè)量結(jié)果及早引入到設(shè)計(jì)流程中。

  例如,考慮一個(gè)蜂窩多模式RF功率放大器的設(shè)計(jì)案例。過去,這種類型的放大器使用RF EDA工具來設(shè)計(jì)和建模,如AWR Microwave Office。在EDA環(huán)境中,工程師們通常“測(cè)量”RF的特性,如效率、1-dB壓縮點(diǎn),并通過仿真獲取這些參數(shù)。但是,最終的產(chǎn)品必須應(yīng)用額外的RF測(cè)量標(biāo)準(zhǔn),以符合公開發(fā)布的蜂窩通信標(biāo)準(zhǔn),例如,GSM/EDGE、 WCDMA、和 LTE。

  從過去來看,針對(duì)特定標(biāo)準(zhǔn)的參數(shù)測(cè)量數(shù)據(jù),例如LTE標(biāo)準(zhǔn)的誤差向量幅度(EVM)和相鄰信道泄露比(ACLR),都需要連接被測(cè)設(shè)備的測(cè)量?jī)x器,因?yàn)槠錅y(cè)量方法非常復(fù)雜。而展望未來,由于EDA軟件和自動(dòng)化軟件之間的連通性,能夠在EDA環(huán)境中的仿真設(shè)備上實(shí)現(xiàn)這些復(fù)雜的測(cè)量算法, 因此,工程師能夠及早地在設(shè)計(jì)階段就識(shí)別出系統(tǒng)相關(guān)的或者復(fù)雜產(chǎn)品相關(guān)的問題,從而大大地縮短產(chǎn)品的設(shè)計(jì)時(shí)間。

  產(chǎn)品開發(fā)流程的并行化

  將過程連通的另一個(gè)趨勢(shì)是:使用EDA生成的行為模型,可加速產(chǎn)品驗(yàn)證/確認(rèn)過程和生產(chǎn)測(cè)試軟件的開發(fā)。過去,導(dǎo)致產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中效率低下的原因之一就是:對(duì)于一個(gè)特定的產(chǎn)品,只有在完成第一個(gè)物理原型后,才能夠開始開發(fā)測(cè)試代碼。

  改進(jìn)這一過程的方法之一就是:針對(duì)一個(gè)特定的產(chǎn)品設(shè)計(jì),建立其軟件原型,并將其作為編寫特性測(cè)試或產(chǎn)品測(cè)試代碼時(shí)的待測(cè)設(shè)備(DUT)。通過這一方法,特性測(cè)試或產(chǎn)品測(cè)試軟件的開發(fā)過程能夠與產(chǎn)品的設(shè)計(jì)過程并行,從而減少產(chǎn)品投向市場(chǎng)的總體時(shí)間。

  以Medtronic公司的工程師在最近的一個(gè)起搏器產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中所使用的方法為例,他們采用了一個(gè)新的軟件工具,將Mentor Graphics EDA環(huán)境與 LabVIEW軟件連通。在連通這兩個(gè)軟件環(huán)境之后,Medtronic公司的工程師可以在生產(chǎn)出實(shí)際的產(chǎn)品之前,就開始著手建立一個(gè)測(cè)試工作站。這種設(shè)計(jì)方法所實(shí)現(xiàn)的固有的并行機(jī)制,能夠讓工程師比過去更快地將產(chǎn)品推向市場(chǎng)。

  Mentor Graphics公司系統(tǒng)工程部門的副總裁Serge Leef指出:“將EDA工具和我們的測(cè)試軟件連通,能夠在開發(fā)產(chǎn)品的同時(shí)開發(fā)測(cè)試工作站,并將測(cè)試結(jié)果更早地反饋至開發(fā)過程中,通過開發(fā)過程與測(cè)試過程的并行運(yùn)行,而非串行運(yùn)行,大大地縮短產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期。”


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