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新型的嵌入式存儲器測試算法

作者: 時間:2011-12-22 來源:網絡 收藏

3.2 內部存儲單元
內部單元的有Checkboard、MSCAN、March算法、GALPAT、跨步法等算法,本文對內部單元進行測試,采用如圖2所示的棋盤和跨步相結合的算法,在檢測數(shù)據(jù)單元時采用棋盤圖形,在檢測地址譯碼時采用跨步圖形,將棋盤測試法和跨步法各自的優(yōu)點合二為一。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/149950.htm

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4 測試結果
將本文所涉及的算法進行測試效率與故障覆蓋率的分析,并將結果進行比較,如表2所列。其中d為地址線數(shù)目,n為數(shù)據(jù)線數(shù)目,M為待測空間大小,一般M=2d。從表中可以看出這些算法的測試效率比典型的March算法效率高很多,三步法的測試復雜度只有4(n+d+1),棋盤跨步相結合的算法的測試復雜度也有5M,在故障覆蓋率也滿足應用要求,完全可以為實際項目所采用。

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linux操作系統(tǒng)文章專題:linux操作系統(tǒng)詳解(linux不再難懂)

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