基于箔式有感電容器在高溫高壓下的探討

　　前言

　　1．電容器在節(jié)能燈中的工作溫度：

　　因節(jié)能燈的燈管與電子鎮(zhèn)流器為一體，當(dāng)節(jié)能燈正常點燃時，燈管的溫度在100℃以上，由于燈管緊貼密閉的電子鎮(zhèn)流器塑殼，受熱傳遞影響，一部分熱量向空間散發(fā)，另一部分傳導(dǎo)給電子鎮(zhèn)流器，再加上塑殼內(nèi)部元器件發(fā)熱等綜合因素，因此，塑殼內(nèi)空間的溫度可達(dá)105℃左右。也就是說電容器要在105℃左右的環(huán)境溫度下工作。

　　2．電容器在節(jié)能燈中的額定電壓：

　　電容器在電子節(jié)能燈的電路中，最高額定電壓選擇一般都在1000V以上，耐壓要求比較高。如：電容器在振蕩電路中，由于振蕩頻率比較高，產(chǎn)生的反峰電壓（或著瞬時過電壓）易使電容器擊穿。 來源:http://tede.cn

　　一．電容器在高溫高壓下失效機(jī)理的分析

　　電容器的擊穿在很大程度上決定與它的宏觀結(jié)構(gòu)和工藝條件，以及由此而引起的不均勻電場和不均勻的介質(zhì)，電容器的擊穿往往就發(fā)生在這些弱點處。在此列舉如下主要影響因數(shù)進(jìn)行分析。

　　1．介質(zhì)對電容器擊穿的影響：

　　. 電容器在產(chǎn)品設(shè)計時，介質(zhì)的擊穿電壓若接近工作電壓，易使電容器在高溫高壓下產(chǎn)生早期失效。

　　.介質(zhì)在均勻電場作用下，介質(zhì)的微觀本質(zhì)和介質(zhì)質(zhì)量的不良，如介質(zhì)表面粗糙、氣孔、皺折、裂紋等都會降低介質(zhì)承受電場強(qiáng)度能力，使介質(zhì)擊穿。

　　其機(jī)理為電容器介質(zhì)中的自由電子，在強(qiáng)電場作用下，碰撞中性分子，使之電離產(chǎn)生正離子和新的自由電子。電離過程的急劇發(fā)展形成雪崩式的電子流，導(dǎo)致介質(zhì)擊穿。使之電容器在高溫高壓下的耐受力下降。

　　2．極板（鋁箔）對電容器擊穿的影響：

　　鋁箔在分切時，由于滾刀不銳利，分切后鋁箔盤料的端面將會出現(xiàn)鋸齒狀、毛刺等。這樣的盤料在卷繞中易刺傷介質(zhì)膜，降低耐電壓，嚴(yán)重的毛刺還將導(dǎo)致電容器加壓后擊穿。

　　3．放電路徑（留邊量）對電容器邊緣擊穿的影響：

　　電容器在瞬時過電壓作用下，電容器不僅可能通過介質(zhì)內(nèi)部發(fā)生擊穿，當(dāng)極板邊緣電場顯著不均勻或放電路徑（留邊量）較小時，還有可能沿極板邊緣發(fā)生表面擊穿。如下圖所示，“△L”為放電路徑， “△b”為留邊量， “d”為介質(zhì)厚度。

　　從上圖可以看出，若鋁箔跑偏或者因產(chǎn)品設(shè)計時放電路徑（留邊量）較小，易導(dǎo)致引線根部表面擊穿。這是由于電容器引出線的引出方式所決定的。在正常情況下，引線根部兩極間的放電路徑ΔL =Δb +d，而無引線端,放電路徑ΔL =2Δb +d。若d＜＜ΔL忽略不計，則引出線端放電路徑比無引出線端放電路徑減少1／2。加之鋁箔在分切時盤料的寬度誤差或卷繞過程中因鋁箔出現(xiàn)“蛇形”跑偏。致使其中一鋁箔極板與該位置另一鋁箔上引線根部之間放電路徑（留邊量）減小，加壓后特別是在高溫高壓下電容器易產(chǎn)生表面擊穿。

　　4．引線點焊對電容器擊穿的影響：

　　電容器在卷繞過程中，引出線是直接點焊在鋁箔上，因此，點焊時兩電極頭的壓力、點焊電流的大小、點焊平臺的平整度等調(diào)試不當(dāng)，將會造成引線與鋁箔焊接處產(chǎn)生毛刺，刺傷介質(zhì)膜，降低耐電壓，嚴(yán)重的毛刺將導(dǎo)致電容器加壓后擊穿，

　　5．外包膜熱封對電容器擊穿的影響：

　　電容器芯組卷繞的外包膜是通過熱封器的熱量將外包膜封住，若熱封器的熱量控制不當(dāng)，或熱封器與芯組接觸時間過長，易燙傷外包膜，影響電容器的耐電壓，嚴(yán)重將導(dǎo)致電容器加壓后擊穿。

　　二．控制措施

　?。ㄒ唬┰牧希ń橘|(zhì)、鋁箔）對電容器擊穿影響的控制：

　　1．建立完善的原材料管理、檢驗制度，確保原材料的質(zhì)量符合要求。

　　2．產(chǎn)品設(shè)計時，因根據(jù)電容器的工作電壓高低，正確選擇介質(zhì)厚度，使其能在較大的場強(qiáng)下工作不致于擊穿。

　　3．分切材料的設(shè)備建立完善的管理制度和操作要求，特別是滾刀要定期檢查和更換，杜絕不良影患。