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晶振選型、采購(gòu)、調(diào)試時(shí)應(yīng)該注意的問(wèn)題

作者: 時(shí)間:2009-07-22 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

恒溫OCXO時(shí)

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/163708.htm

1)不要一味追求高指標(biāo),因?yàn)楦咧笜?biāo)意味著成本大幅度增加,交貨期加長(zhǎng)

2)封裝的可替代性,盡量不選用非標(biāo)準(zhǔn)封裝

3)盡量不要壓縮供應(yīng)商的交貨期限,有可能的情況下,盡量提供需求預(yù)測(cè),要求廠家備貨,至少做好晶體的備貨、老化、篩選工作。

4)了解供應(yīng)商情況的時(shí)候,著重考察供應(yīng)商的晶體來(lái)源、工藝控制能力、通信行業(yè)客戶情況,最好定期做現(xiàn)場(chǎng)考察。供應(yīng)商沒(méi)有批量出過(guò)貨的產(chǎn)品,時(shí)應(yīng)非常小心。

5)選擇供應(yīng)商時(shí),盡量選擇有較強(qiáng)技術(shù)支持能力的廠家。

6)如果可能的話,應(yīng)允許供應(yīng)商在研發(fā)階段就參與到指標(biāo)的確認(rèn)工作中。

恒溫OCXO的及測(cè)試時(shí)的點(diǎn)

1)每一個(gè)單獨(dú)指標(biāo)必須單獨(dú)測(cè)試,不能同時(shí)測(cè)試幾種指標(biāo),也不能同時(shí)測(cè)試幾只

2)測(cè)試時(shí)要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試電路和測(cè)試環(huán)境進(jìn)行測(cè)試。

3)在沒(méi)有相當(dāng)?shù)臏y(cè)試設(shè)備和測(cè)試人員的情況下,不建議客戶自行測(cè)試晶振,更不能隨意晶振,測(cè)試設(shè)備的等級(jí)應(yīng)至少比晶振指標(biāo)高一個(gè)數(shù)量級(jí)。

4)對(duì)不同廠家的產(chǎn)品,尤其是來(lái)自不同國(guó)家的產(chǎn)品,有一些指標(biāo)的測(cè)試方法不盡相同,應(yīng)提前了解各廠家的異同點(diǎn),統(tǒng)一意見(jiàn),以減少不必要的麻煩。

5)對(duì)一些短期指標(biāo)如頻率精度,開(kāi)機(jī)特性等,應(yīng)多做幾次重復(fù)的測(cè)試,以減少測(cè)試結(jié)果的偶然性。



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