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三洋采用DFT MAX改善測試質(zhì)量

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作者: 時間:2006-12-08 來源: 收藏
看重Synopsys解決方案簡便易行及高可預知結(jié)果的優(yōu)勢


全球電子設計自動化軟件工具(EDA)領導廠商Synopsys(Nasdaq: SNPS)近日宣布,領先的消費類電子產(chǎn)品供應商半導體公司采用Synopsys的 掃描壓縮自動解決方案,大大提高了其數(shù)字設計的質(zhì)量。憑借 工具,的工程師們將的數(shù)據(jù)總量降低了90%以上,實現(xiàn)了以更短的時間完成高質(zhì)量的目標。 工具充分利用Synopsys Galaxy™ 設計工具集內(nèi)部的物理識別連接,幫助設計者避免成本較高的迭代測試,更快實現(xiàn)設計收斂。
 
三洋的工程師們要求靈活地生成更多的測試模式,并在必要時,對大規(guī)模集成電路(LSI)進行最高質(zhì)量的快速的測試。但他們發(fā)現(xiàn),如果沒有有效的方法來壓縮數(shù)據(jù)以適應測試程序的存儲限制,提高將導致測試數(shù)據(jù)量劇烈增加。
 
三洋系統(tǒng)解決方案事業(yè)部總經(jīng)理Hiroyuki Oike 先生表示:“我們發(fā)現(xiàn),將DFT MAX工具添加到我們的Galaxy設計平臺流程中,可以滿足我們對高質(zhì)量目標的追求。在全面評估了DFT MAX的片上壓縮功能之后,我們決定將其應用于未來所有的LSI設計當中?!?
 
三洋設計人員需要的解決方案不僅要滿足他們對數(shù)據(jù)壓縮的需求,同時還要像傳統(tǒng)的測試一樣實施起來簡單易行。DFT MAX不僅簡便易用,同時還可以與Galaxy設計平臺中的其它流程有效實現(xiàn)無縫整合,這大大加快了三洋設計人員向DFT MAX遷移的速度,并在兩個LSI數(shù)字設計中將測試數(shù)據(jù)量降低了90%以上。這兩個LSI設計分別為400萬門級的通信處理芯片和200萬門級的數(shù)字圖像處理芯片。對于這兩種設計,DFT MAX僅需要追加0.1%和0.2%的門級用于壓縮處理。
 
三洋設計工程部的數(shù)字設計科長Yuji Shiine先生表示:“我們之所以采用DFT MAX,是因為我們可以改善復雜設計的質(zhì)量,縮短測試時間,并減少測試數(shù)據(jù)量。DFT MAX可以輕松地整合到我們原有的DFT Compiler™ 流程中,遷移非常簡便??傊?,我們在今后將同時應用DFT MAX及其它Galaxy解決方案中的工具,以持續(xù)改善我們產(chǎn)品的質(zhì)量和技術差異性?!?
 

Synopsys芯片設計解決方案部測試營銷總監(jiān)Graham Etchells先生認為:“三洋采用DFT MAX工具,使我們確實看到了市場對簡便易用、快速實施并且不影響芯片物理實現(xiàn)的壓縮解決方案的需求,由于DFT MAX的簡便易用和壓縮結(jié)果高可預知的特點,能夠為我們的客戶立即帶來實質(zhì)性的投資回報。此外,由于DFT MAX在Galaxy工具集中具有的物理識別連接的優(yōu)勢,其在芯片的物理實現(xiàn)方面所產(chǎn)生的時間和空間影響微乎其微,從而實現(xiàn)了快速的設計收斂。比較而言,需要連續(xù)邏輯的壓縮架構(gòu)則需要更多的迭代來完成時序收斂,因而延長了整個設計周期?!?


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