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大功率VDMOS(200V)的設(shè)計(jì)研究

作者: 時(shí)間:2011-12-28 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

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3 結(jié)語

器件的主要受到擊穿電壓和導(dǎo)通電阻兩個(gè)參數(shù)的相互影響和相互制約,在中應(yīng)優(yōu)化兩個(gè)參數(shù)的范圈。在滿足其中一個(gè)的條件下使另一個(gè)達(dá)到最優(yōu)的選擇,采用仿真可大大減少設(shè)計(jì)成本。



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