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基于LabVIEW的集成電路測(cè)試分析儀

作者: 時(shí)間:2011-12-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

2.3 矢量與響應(yīng)矢量設(shè)計(jì)
矢量和響應(yīng)矢量是操作的基本數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。測(cè)試矢量是欲向芯片管腳施加的激勵(lì)數(shù)據(jù),響應(yīng)矢量是單片機(jī)從芯片管腳讀回的數(shù)據(jù)。兩者均為16位,與芯片管腳一一對(duì)應(yīng)。測(cè)試矢量的16位數(shù)據(jù)中對(duì)應(yīng)于芯片輸入管腳的那些數(shù)據(jù)位是激勵(lì)位,對(duì)應(yīng)于輸出管腳的數(shù)據(jù)位是功能正確時(shí)的響應(yīng)。對(duì)于功能測(cè)試,測(cè)試矢量預(yù)先根據(jù)真值表生成并存于單片機(jī)FLASH中。如果是邏輯分析,測(cè)試矢量由用戶提供。響應(yīng)矢量中僅對(duì)應(yīng)于芯片輸出管腳的那些數(shù)據(jù)位有意義,單片機(jī)通過讀取芯片管腳狀態(tài)獲得響應(yīng)矢量。
一個(gè)完整的測(cè)試過程包含施加測(cè)試矢量、讀取響應(yīng)矢量、響應(yīng)矢量比較3個(gè)步驟。為了簡(jiǎn)化操作,單片機(jī)采用端口讀寫方式,這樣一個(gè)16位的矢量只需2次8位讀或?qū)懖僮骷纯赏瓿?。需要注意的是,響?yīng)矢量與測(cè)試矢量的比較僅對(duì)其中的芯片輸出位有意義,由于程序中采用字節(jié)比較方式,應(yīng)采取措施屏蔽掉輸入位對(duì)比較結(jié)果的影響。針對(duì)這個(gè)問題,設(shè)置了16位的屏蔽矢量,該矢量將對(duì)應(yīng)于芯片輸入管腳的數(shù)據(jù)位置“0”,對(duì)應(yīng)于芯片輸出管腳的數(shù)據(jù)位置“1”。在執(zhí)行比較操作前,先將測(cè)試矢量和響應(yīng)矢量分別與屏蔽矢量進(jìn)行位與后再比較,從而消除了輸入位對(duì)比較結(jié)果的影響。屏蔽輸入位的流程如圖5所示。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/178222.htm

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3 上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)
上位機(jī)軟件提供了一個(gè)操作友好的人機(jī)界面,使用平臺(tái)開發(fā)。是圖形化編程工具,內(nèi)置有各種儀器驅(qū)動(dòng)程序和操作面板控件,非常適合測(cè)試與控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。利用開發(fā)上位機(jī)軟件需要重點(diǎn)解決2個(gè)問題:一是通信功能的實(shí)現(xiàn);二是測(cè)試數(shù)據(jù)編輯和波形顯示的實(shí)現(xiàn)。
LabVIEW中實(shí)現(xiàn)串行通信十分方便,僅需調(diào)用串口配置、串口寫、串口讀等函數(shù),對(duì)函數(shù)參數(shù)簡(jiǎn)單設(shè)置即可,整個(gè)過程完全圖形化操作,簡(jiǎn)便快捷。測(cè)試數(shù)據(jù)編輯和波形圖顯示是本設(shè)計(jì)的一個(gè)特色,利用LabVIEW中的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)(Digital Data)和數(shù)字波形圖(Digital Wave Gragh)控件可以十分容易地實(shí)現(xiàn)這2個(gè)功能。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)控件類似于一張真值表,用戶可以任意添加和刪除數(shù)據(jù)。數(shù)字波形圖將測(cè)試響應(yīng)以圖形的方式直觀顯示出來,橫軸代表時(shí)間,縱軸代表信號(hào),不同信號(hào)配以不同的顏色,便于識(shí)別與分析。開發(fā)的軟件界面如圖6所示。軟件包括功能測(cè)試和邏輯分析2部分。功能測(cè)試位于界面左側(cè),用于快速判別芯片有無故障,用戶僅需設(shè)置好芯片型號(hào)、封裝類型、串口號(hào)等參數(shù),按下“開始測(cè)試”按鈕啟動(dòng)測(cè)試。如果功能正常,則會(huì)顯示綠燈表明測(cè)試結(jié)果正確。反之顯示紅燈,指示芯片故障。界面右側(cè)是邏輯分析部分,用戶預(yù)先在數(shù)據(jù)窗口中編輯好測(cè)試向量,按下“發(fā)送數(shù)據(jù)”按鈕啟動(dòng)測(cè)試,待測(cè)試完成后即可看到用波形圖顯示的響應(yīng)結(jié)果。

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4 結(jié)語
本設(shè)計(jì)利用LabVIEW開發(fā)平臺(tái)和單片機(jī)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了一個(gè)性價(jià)比良好,界面美觀,操作方便,體積小巧的測(cè)試分板儀。該儀器在傳統(tǒng)功能測(cè)試的基礎(chǔ)上加以擴(kuò)展,增加了芯片邏輯分析功能,并輔以波形圖的直觀顯示方式。經(jīng)測(cè)試,系統(tǒng)功能正確,運(yùn)行穩(wěn)定,各項(xiàng)指標(biāo)均達(dá)到要求,為數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)教學(xué)和管理提供了有力工具,具有良好的推廣與應(yīng)用價(jià)值。


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