新聞中心

EEPW首頁 > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于CMOS工藝的鋰聚合物電池保護(hù)電路設(shè)計(jì)

基于CMOS工藝的鋰聚合物電池保護(hù)電路設(shè)計(jì)

作者: 時(shí)間:2011-09-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
耗盡型NMOS管閾值電壓為負(fù)值,在VGS=0時(shí)也處于工作狀態(tài),該特性可有效降低其工作電壓及功耗。因而,該基準(zhǔn)電路中利用串聯(lián)的耗盡型NMOS管MN1-MN4、串聯(lián)的增強(qiáng)型NMOS管MN5-MN9、MN11-MN12和電阻R1、R2構(gòu)成VGS的基準(zhǔn)電壓電路,該基準(zhǔn)電路的輸出為檢測(cè)比較器反相端的基準(zhǔn)電壓信號(hào)VREF。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/178653.htm

  由于本電路中耗盡管閾值電壓為負(fù)值,且柵源電壓恒為0,故耗盡型管始終工作在飽和區(qū)。且其電流值恒定為:

  

  同時(shí)為滿足該電路低功耗的要求,應(yīng)盡可能使電路中增強(qiáng)性管工作在亞閾值區(qū)。如圖3所示,襯偏效應(yīng)和源極電位的升高,MN5管工作于亞閾值區(qū)。

  

  

  即對(duì)于增強(qiáng)型NMOS管,VTH隨溫度升高而下降,而對(duì)于耗盡型NMOS管,VTH為負(fù)值,其絕對(duì)值隨溫度升高而上升。由此推得,當(dāng)選取合適的參數(shù)時(shí),本電路的溫度漂移可以控制在較小范圍內(nèi)。

  3.3 其余部分設(shè)計(jì)

  3.3.1 延時(shí)電路

  為了防止干擾信號(hào)使電路產(chǎn)生誤操作,系統(tǒng)針對(duì)不同的異常狀態(tài),設(shè)置了相應(yīng)的延遲時(shí)間。

  該延遲時(shí)間是由振蕩電路以及計(jì)數(shù)器共同實(shí)現(xiàn)。

  振蕩電路采用三級(jí)環(huán)形振蕩器結(jié)構(gòu),其每一級(jí)由一個(gè)反相器和一個(gè)電容構(gòu)成,該振蕩電路正常工作時(shí),向計(jì)數(shù)器輸出振蕩方波,不工作時(shí)輸出高電平。

  計(jì)數(shù)器由D觸發(fā)器級(jí)聯(lián)而成。

  3.3.2 電平轉(zhuǎn)換電路

  同時(shí),為了保證充電控制管MC在過充電狀態(tài)下有效關(guān)斷,利用電平轉(zhuǎn)換電路使輸出COUT端為邏輯電路輸出信號(hào)的四級(jí)反相,從而使COUT端低電平由VSS降至V-。

  3.3.3 待機(jī)狀態(tài)

  芯片中的部分電路設(shè)有使能端,為邏輯電路輸出。當(dāng)電路進(jìn)入過放電狀態(tài)后,該使能端由高電位變?yōu)榈碗娢唬P(guān)閉相應(yīng)電路,芯片進(jìn)入待機(jī)狀態(tài),從而大大降低消耗電流,減小功耗。

  

過充電保護(hù)及復(fù)原波形圖

  圖4 過充電保護(hù)及復(fù)原波形圖



評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉