一種用于高速高精度ADC的電壓基準(zhǔn)源設(shè)計(jì)
因流入Q3的電流也與溫度無關(guān),故有:
由于流過R4和R5的電流INL正比與VNL,故可表示為:
設(shè)M1、M2、M3和M4管的寬長比一樣,所以,流過四個(gè)管子的電流相等且都等于:
從式(10)可以看出,式子的第三項(xiàng)用來消除VEB1的非線性,這樣,結(jié)合(6)式可得:
這樣,由(10)式可以得到輸出的基準(zhǔn)電壓源為:
2.2 低噪聲箝位運(yùn)放的設(shè)計(jì)
在基準(zhǔn)源中,箝位運(yùn)放的主要作用是通過電流負(fù)反饋使與輸入端連接的結(jié)點(diǎn)的電壓強(qiáng)制相等,并且與電源電壓無關(guān)??捎眠\(yùn)放的輸出對(duì)電流源進(jìn)行適當(dāng)?shù)钠?,使其流過的電流與輸入電壓無關(guān),從而使R的電流為PTAT電流。實(shí)際的運(yùn)放通常會(huì)存在失調(diào)電壓、有限增益以及運(yùn)放噪聲,這些都會(huì)對(duì)基準(zhǔn)電壓源的性能造成影響,由于基準(zhǔn)電壓源一般工作在低頻條件下,因此,對(duì)運(yùn)放的頻率特性要求不高。
本文在設(shè)計(jì)低噪聲箝位運(yùn)放的過程中,重點(diǎn)考慮了以下幾個(gè)因素:
(1)由于運(yùn)放的兩個(gè)輸入端基本為固定電位,不需要考慮動(dòng)態(tài)范圍,因此,運(yùn)放的設(shè)計(jì)不考慮共模輸入范圍;為了保證電路適用于低電源電壓場合,cascode結(jié)構(gòu)不再適合,因此,本文選用普通兩級(jí)運(yùn)放的設(shè)計(jì)方式;
(2)選用PMOS作為運(yùn)放的輸入級(jí)。因?yàn)镻MOS的載流子與空穴的遷移率比NMOS的電子遷移率低2~5倍,故可以較大的減小1/f噪聲。同時(shí)由于1/噪聲與MOS管的面積成反比,因此,輸入管的面積需要做的很大;
(3)為了使1/f噪聲最小化,負(fù)載晶體管的柵長應(yīng)該比輸入管的柵長更長;
(4)減小箝位運(yùn)放的帶寬可以有效的減小熱噪聲的影響。
經(jīng)過仿真可以得到如圖2所示的低噪聲箝位運(yùn)放的頻率特性曲線,該曲線表明箝位運(yùn)放的開環(huán)增益為81dB,單位增益帶寬為139 MHz,相位裕度為61°,失調(diào)電壓為0.02 mV,可見該運(yùn)放能夠滿足系統(tǒng)要求。
評(píng)論