簡易鋰電池保護IC測試電路的設(shè)計

圖2  鋰電池保護IC測試電路

根據(jù)鋰電池保護IC的工作原理設(shè)計的測試電路如圖2所示，圖3詳細說明了圖2中模塊B的電路。模塊A在測試過流保護時為CS引腳提供電壓，模擬圖1中的CS引腳所探測到的電壓。調(diào)整模塊中的可變電位器可為CS引腳提供可變電源，控制其中的跳變開關(guān)可為CS提供突變電壓。模塊B為電源，模擬為IC提供工作電壓。調(diào)整電路中的可變電位器R7可為整個電路提供一個可變電壓，在測試過充電保護電壓和過放電保護電壓時使用?？刂颇K中的開關(guān)S1的閉合為測試電路提供一個跳變電源，在測試IC的過充、過放和過流延遲時使用。跳線端口P1、P2在測試IC工作電流時使用，在測試其他參數(shù)時將開關(guān)S2導通即可。測試IC工作電流時，將電流表接在P1、P2上，將開關(guān)S2斷開。模塊C是用2個MOSFET做成的微電流源，在測試OD、OC輸出高、低電平時向該引腳吸、灌電流，只要MOSFET選擇恰當，可以滿足測試需要。模塊D是2片MOSFET集成芯片，相當于圖1中的M1、M2，其中的兩個端口在測試MOSFET漏電流時使用，在測試其他參數(shù)時要將這兩個端口短接。模塊E是一個IC插座，該插座用于放置待測IC，最多可以放置4片IC（測試時只能放一片IC），測試完以后可以將IC取出，不留任何痕跡，不影響IC的銷售和再次測試。

圖3  模塊B的電路圖

在測試電路的設(shè)計中，對電阻的選擇要慎重。在模塊A、B、C中由于有可變電位器的存在，如果其他電阻選擇不適當容易造成電路的燒毀，尤其是模塊A和B中的可變電位器的選擇對測試各種電壓的精度影響很大。本電路中兩個可變電位器都是1K/10圈的，精度較高。模塊C中的MOSFET的選擇要注意其工作電流范圍，在測試需要用到的電流只有兩個級別，一個是零點幾個微安，一個是幾十微安，因此一般要求能提供微安級以下的電流。另外，電源的穩(wěn)定度對整個IC測試參數(shù)的影響很大，因此，在測試時盡量使用穩(wěn)定性好的電源。

本設(shè)計的特點

本設(shè)計有以下三個特點。

● 在測試IC過充、過放和過流的延遲時利用開關(guān)將電阻短路或開路來實現(xiàn)電路電源的突變，并且利用示波器同時抓電源和OC、OD跳變波形圖來測量延遲時間。

● 為了實現(xiàn)測試OC、OD高、低電平時向引腳吸、灌電流，本電路用MOSFET做了兩個簡單的微電流源，選用的MOSFET型號為TN0201T，利用柵級電壓控制漏、源級電流，以漏、源級電流為電流源，精度可以達到0.1μA，基本可以滿足測試的需要。

● 測試過流保護電壓時，即測試使OD引腳從高電平跳變?yōu)榈碗娖降腃S引腳電壓。短流保護電壓遠高于過流保護電壓，當電壓達到過流保護電壓時電路已經(jīng)發(fā)生跳變，OD輸出一直為低電平，因此常規(guī)方法無法測試出短流保護電壓，于是，本文采用了一種間接的近似測試方法。IC對過電流保護的延遲時間大概為幾個到十幾個毫秒，而短流延遲時間則大概為十幾個微秒，因此可以根據(jù)過流延遲時間與短流延遲時間的不同來近似測試短流保護電壓。此參數(shù)使用專用的鋰電池保護板測試儀也無法測出。