新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術 > 設計應用 > 亞穩(wěn)態(tài)的錯誤率分析

亞穩(wěn)態(tài)的錯誤率分析

作者: 時間:2010-06-22 來源:網(wǎng)絡 收藏

如圖3.30所示,采用ACTEL ACT-1門陣列實現(xiàn)的電路,當輸入電壓變化時,其輸出產(chǎn)生脈沖的概率有多大?簡單應用同步邏輯理論,它永遠也不會發(fā)生。但現(xiàn)在我們會更好地理解這個問題了。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/187913.htm

首先檢查最壞情況下建立時間:

TPD=9.3NS(時鐘到Q1,建立時間很好)
TPD=9.3NS(反相器-異或門之和)
TSU=5.5NS/23.6NS(D2的建立時間)

任何小于42MHZ的時鐘(23.6NS)都能滿足傳播時間和建立時間。Y1和Y2始終匹配,輸出Q4永遠也不會變成高電平。

電路唯一發(fā)生錯誤的可能是使得Q1轉換推遲,錯過了D2的建立時間窗口(因為經(jīng)G1和G2的傳播延時),但Q1并沒有錯過D3。

如果實際時鐘F的速率小于42MHZ,我們可以算出Q1不錯過D2建立時間窗口的嚴穩(wěn)態(tài)延時預算。允許額外分配給的為:

這個TR延時稱為允許的判決時間。

Q1需要比TR更長的時間來達到穩(wěn)定,這個窗口是:

落在正負TW內,且在總的周期時間1/F之外的概率是:

ACTEL在1989年出版的“ACT-1 FANILY GATE ARRAYS PRODUCT GUIDE”列出了常數(shù)C和K。這里我們對兩個進行調整,使之符合我們的單位體系:HZ和S。

以小時為單位的平均失效間隔時間,可以通過失效概率和輸入信號的轉換率R來計算得到。因為亞穩(wěn)態(tài)僅僅在輸入信號變化時發(fā)生,如果輸入信號變化較快,則失效的概率也較大。

其中,MPBF=平均失效間隔時間,H
R=輸入信號轉換率真,HZ
PROB(失效)=在任意單個輸入信號轉換時的失效概率

圖3.31給出了MTBF與頻率的關系圖,這個圖假定輸入信號的轉換頻率時鐘頻率的1/10。在35MHZ時,失效概率是4*10的負12次方。如果電路每秒處理350萬次輸入,則每19小時發(fā)生一次失效。



評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉