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測控中高精度快速 A/D 采樣轉(zhuǎn)換模塊設(shè)計

作者: 時間:2010-03-17 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1 前言

  隨著計算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展和普及,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)也迅速地得到應(yīng)用,在生產(chǎn)過程中, 應(yīng)用這一系統(tǒng)可對生產(chǎn)現(xiàn)場的工藝參數(shù)進(jìn)行采集、監(jiān)視和記錄,為提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低成 本提供信息和手段。在科學(xué)研究中,應(yīng)用數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)可獲得大量的動態(tài)信息,是研究瞬 間物理過程的有力工具,也是獲取科學(xué)奧秘的重要手段之一。尤其是在電路測試與診斷過 程中,為了非常詳細(xì)、準(zhǔn)確地分析電路工作過程中的詳細(xì)信息,往往需要采集大量的電路 工作過程中電流、電壓、功耗等信號變化情況,并將這些采集的信號為數(shù)字信號以便后臺處理。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/188310.htm

  數(shù)據(jù)采集的任務(wù),具體地說,就是采集傳感器輸出的模擬信號并成計算機(jī)能識別 的數(shù)字信號,然后送入計算機(jī)或相應(yīng)的信號處理系統(tǒng),根據(jù)不同需要進(jìn)行相應(yīng)的計算和處 理,得出所需的數(shù)據(jù);與此同時,將計算機(jī)得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示或打印,以便實(shí)現(xiàn)對某些 物理量的監(jiān)視,其中一部分?jǐn)?shù)據(jù)還將被控制生產(chǎn)過程中的計算機(jī)控制系統(tǒng)用來控制某些物 理量。在電路測試診斷過程中,在故障未被定位之前,需要采集的大量的信號,并快速進(jìn) 行分析與處理。因此整個信號采集過程中對采集處理芯片、處理算法的選擇是非常重要的, 直接關(guān)系到測試診斷系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。

  2 A/D 芯片的選取與配置

  通過增加ADC 位數(shù)或提高其頻率,可以有效降低量化噪聲,但由于受工藝等 限制,ADC 的位數(shù)限制在一定的范圍內(nèi),同時兼顧后續(xù)處理器實(shí)際處理數(shù)據(jù)能力,保證采 樣數(shù)據(jù)實(shí)時處理,ADC 的頻率不宜太高,否則采集的數(shù)據(jù)將無法及時處理。對ADC 采 樣速率和位數(shù)的選擇將直接影響著后續(xù)微處理器的運(yùn)算量,因此在本文設(shè)計時,必須考慮測 控系統(tǒng)的實(shí)時性要求。本系統(tǒng)中微處理器通過中斷讀取A/D 數(shù)據(jù),然后進(jìn)行數(shù)字式平 均算法。要在兩次中斷時間間隔內(nèi)完成如此多的運(yùn)算,一方面要求處理器的速度要快;另一 方面要求處理時間間隔盡可能長,此可通過適當(dāng)增加相鄰中斷的間隔時間來實(shí)現(xiàn),即降低 ADC 的采樣速率實(shí)現(xiàn)。從提高信噪比的角度考慮,利用過采樣技術(shù),其采樣頻率越高越好; 但從處理器數(shù)據(jù)處理的實(shí)時性角度出發(fā),采樣頻率不宜太高。

  本文應(yīng)用的系統(tǒng)中,按照需求,每個信號周期內(nèi)通常采樣 96 個點(diǎn),采樣值累 加次數(shù)為4096 次,若采樣頻率選擇為1 MHZ,則平均每個采樣占用時間為0.393216 秒,為 了滿足實(shí)時性的要求。因此本系統(tǒng)設(shè)計中,ADC 的采樣頻率選擇為1MHZ。

  從存儲器存儲數(shù)據(jù)的角度考慮,為了便于傳輸數(shù)據(jù),最后的累加值若利用一個長整形數(shù) 據(jù)格式(兩個字,共32 位)傳送,實(shí)現(xiàn)傳送比較方便,若系統(tǒng)中每點(diǎn)累加次數(shù)為4096 次, 則ADC 轉(zhuǎn)換的位數(shù)將不超過20 位(212=4096,32-12=20)。根據(jù)測控系統(tǒng)實(shí)際精度要 求,并借鑒國內(nèi)外相關(guān)電路經(jīng)驗(yàn),本文設(shè)計采用12 位采樣精度即可滿足系統(tǒng)實(shí)際要求。

  綜合以上諸多考慮,本文的ADC 采用NATIONAL semiconductor 公司的ADC12062,內(nèi)部 自帶采樣保持電路,12 位采樣精度,最高采樣頻率可達(dá)1MHZ,其基準(zhǔn)電壓為4.096V,則 最小可檢測電壓為=1mV。ADC12062 采用先進(jìn)的CMOS 工藝,在高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換時功耗很 低,其功耗僅為75mW,適合于長時間的穩(wěn)定工作,特別適合于低功耗要求的便攜式設(shè)備。 芯片的A/D 轉(zhuǎn)換工作時序如圖1 所示。

  ADC12062 主要引腳的功能介紹:

  ADC IN 模擬信號輸入引腳,其電壓輸入范圍為-0.005DD4.95V。

  /CS 片選信號,低電平有效,ADC 處A/D 轉(zhuǎn)換狀態(tài)。

  /INI 中斷輸出信號,初始狀態(tài)為高電平,當(dāng)AD 轉(zhuǎn)換完成以后,變?yōu)榈碗娖綍r,通知微處理器ADC 轉(zhuǎn)換完成,數(shù)據(jù)已經(jīng)在數(shù)據(jù)線上,可以讀取數(shù)據(jù)。

  /RD 讀控制信號,低電平有效,和同時為低時,可以讀取數(shù)據(jù)。

  S-/H 采樣保持信號,下降沿觸發(fā)。該引腳接入控制采樣平臺發(fā)出的抽樣觸發(fā)脈沖,其下降沿觸發(fā)信號取樣。

  /PD 低功耗控制模式,高電平時處于正常工作狀態(tài);輸入低電平時,進(jìn)入低功耗模式。

  本A/D 轉(zhuǎn)換模塊復(fù)位以后,ADC 首先處于低功耗狀態(tài),直到處理器發(fā)送數(shù)據(jù)采集命令,控制其處于正常的A/D 轉(zhuǎn)換工作狀態(tài)。

  


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關(guān)鍵詞: 測控 采樣 高精度 轉(zhuǎn)換

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