測控中高精度快速 A/D 采樣轉(zhuǎn)換模塊設(shè)計(jì)

　　隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展和普及，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)也迅速地得到應(yīng)用，在生產(chǎn)過程中， 應(yīng)用這一系統(tǒng)可對(duì)生產(chǎn)現(xiàn)場的工藝參數(shù)進(jìn)行采集、監(jiān)視和記錄，為提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低成 本提供信息和手段。在科學(xué)研究中，應(yīng)用數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)可獲得大量的動(dòng)態(tài)信息，是研究瞬 間物理過程的有力工具，也是獲取科學(xué)奧秘的重要手段之一。尤其是在電路測試與診斷過 程中，為了非常詳細(xì)、準(zhǔn)確地分析電路工作過程中的詳細(xì)信息，往往需要采集大量的電路 工作過程中電流、電壓、功耗等信號(hào)變化情況，并將這些采集的信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)以便后臺(tái)處理。

　　數(shù)據(jù)采集的任務(wù)，具體地說，就是采集傳感器輸出的模擬信號(hào)并轉(zhuǎn)換成計(jì)算機(jī)能識(shí)別 的數(shù)字信號(hào)，然后送入計(jì)算機(jī)或相應(yīng)的信號(hào)處理系統(tǒng)，根據(jù)不同需要進(jìn)行相應(yīng)的計(jì)算和處 理，得出所需的數(shù)據(jù)；與此同時(shí)，將計(jì)算機(jī)得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示或打印，以便實(shí)現(xiàn)對(duì)某些 物理量的監(jiān)視，其中一部分?jǐn)?shù)據(jù)還將被控制生產(chǎn)過程中的計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)用來控制某些物 理量。在電路測試診斷過程中，在故障未被定位之前，需要采集的大量的信號(hào)，并快速進(jìn) 行分析與處理。因此整個(gè)信號(hào)采集過程中對(duì)采集處理芯片、處理算法的選擇是非常重要的， 直接關(guān)系到測試診斷系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。

　　2 A/D 芯片的選取與配置

　　通過增加ADC 采樣位數(shù)或提高其采樣頻率，可以有效降低量化噪聲，但由于受工藝等 限制，ADC 的位數(shù)限制在一定的范圍內(nèi)，同時(shí)兼顧后續(xù)處理器實(shí)際處理數(shù)據(jù)能力，保證采 樣數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理，ADC 的采樣頻率不宜太高，否則采集的數(shù)據(jù)將無法及時(shí)處理。對(duì)ADC 采 樣速率和位數(shù)的選擇將直接影響著后續(xù)微處理器的運(yùn)算量，因此在本文設(shè)計(jì)時(shí)，必須考慮測 控系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性要求。本系統(tǒng)中微處理器通過中斷讀取A/D 轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，然后進(jìn)行數(shù)字式平 均算法。要在兩次中斷時(shí)間間隔內(nèi)完成如此多的運(yùn)算，一方面要求處理器的速度要快；另一 方面要求處理時(shí)間間隔盡可能長，此可通過適當(dāng)增加相鄰中斷的間隔時(shí)間來實(shí)現(xiàn)，即降低 ADC 的采樣速率實(shí)現(xiàn)。從提高信噪比的角度考慮，利用過采樣技術(shù)，其采樣頻率越高越好； 但從處理器數(shù)據(jù)處理的實(shí)時(shí)性角度出發(fā)，采樣頻率不宜太高。

　　本文應(yīng)用的測控系統(tǒng)中，按照測控需求，每個(gè)信號(hào)周期內(nèi)通常采樣 96 個(gè)點(diǎn)，采樣值累 加次數(shù)為4096 次，若采樣頻率選擇為1 MHZ，則平均每個(gè)采樣占用時(shí)間為0.393216 秒，為 了滿足測控實(shí)時(shí)性的要求。因此本系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，ADC 的采樣頻率選擇為1MHZ。

　　從存儲(chǔ)器存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的角度考慮，為了便于傳輸數(shù)據(jù)，最后的累加值若利用一個(gè)長整形數(shù) 據(jù)格式（兩個(gè)字，共32 位）傳送，實(shí)現(xiàn)傳送比較方便，若系統(tǒng)中每點(diǎn)累加次數(shù)為4096 次， 則ADC 轉(zhuǎn)換的位數(shù)將不超過20 位（212＝4096，32－12＝20）。根據(jù)測控系統(tǒng)實(shí)際精度要 求，并借鑒國內(nèi)外相關(guān)電路經(jīng)驗(yàn)，本文設(shè)計(jì)采用12 位采樣精度即可滿足系統(tǒng)實(shí)際要求。

　　綜合以上諸多考慮，本文的ADC 采用NATIONAL semiconductor 公司的ADC12062，內(nèi)部 自帶采樣保持電路，12 位采樣精度，最高采樣頻率可達(dá)1MHZ，其基準(zhǔn)電壓為4.096V，則 最小可檢測電壓為＝1mV。ADC12062 采用先進(jìn)的CMOS 工藝，在高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換時(shí)功耗很 低，其功耗僅為75mW，適合于長時(shí)間的穩(wěn)定工作，特別適合于低功耗要求的便攜式設(shè)備。 芯片的A/D 轉(zhuǎn)換工作時(shí)序如圖1 所示。

　　ADC12062 主要引腳的功能介紹：

　　ADC IN 模擬信號(hào)輸入引腳，其電壓輸入范圍為－0.005DD4.95V。

　　/CS 片選信號(hào)，低電平有效，ADC 處A/D 轉(zhuǎn)換狀態(tài)。

　　/INI 中斷輸出信號(hào)，初始狀態(tài)為高電平，當(dāng)AD 轉(zhuǎn)換完成以后，變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，通知微處理器ADC 轉(zhuǎn)換完成，數(shù)據(jù)已經(jīng)在數(shù)據(jù)線上，可以讀取數(shù)據(jù)。

　　/RD 讀控制信號(hào)，低電平有效，和同時(shí)為低時(shí)，可以讀取數(shù)據(jù)。

　　S-/H 采樣保持信號(hào)，下降沿觸發(fā)。該引腳接入控制采樣平臺(tái)發(fā)出的抽樣觸發(fā)脈沖，其下降沿觸發(fā)信號(hào)取樣。

　　/PD 低功耗控制模式，高電平時(shí)處于正常工作狀態(tài)；輸入低電平時(shí)，進(jìn)入低功耗模式。

　　本A/D 轉(zhuǎn)換模塊復(fù)位以后，ADC 首先處于低功耗狀態(tài)，直到處理器發(fā)送數(shù)據(jù)采集命令，控制其處于正常的A/D 轉(zhuǎn)換工作狀態(tài)。