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基于GB3442-82的集成運(yùn)放參數(shù)測試儀設(shè)計

作者: 時間:2009-09-01 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

3.2.2 差模開環(huán)交流電壓增益AVD的測量
閉合S1、S3、S4、S10、S12,S2→3、S11→1,設(shè)信號源輸出電壓為VS,測得輔助運(yùn)放輸出電壓為VLO,則有:

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/188690.htm



AVD的測量誤差在很大程度上取決于電路中R1、R2的匹配精度,若匹配誤差為δ=(R1-R2)/R2,δ1=(Rf-Ri)/Ri,則單純由電阻失配引起的相對誤差為△A VD=20 log(δ+1),該系統(tǒng)占為0.6%。
3.2.3 共模抑制比KCMR的測量
閉合S1、S3、S4、S10、S12,S2→1、S11→3、S13→1,設(shè)信號源輸出電壓為VS,測得輔助運(yùn)放輸出電壓為VIO,則有:



KCMR的測量誤差在很大程度上取決于電路中待測運(yùn)放兩輸入端電阻的匹配精度,若匹配誤差為δ1,則單純由電阻失配引起的相對誤差為△KCMR=20log(δ1+1),δ1=δ。

5 系統(tǒng)測量與分析
利用該系統(tǒng)測量OP07、μA741、LF256等,運(yùn)放器件的參數(shù)可在FPGA顯示器上顯示,后果表明,該測試儀測量精度高,符合設(shè)計要求,其中表1是測量OP07結(jié)果。

6 結(jié)束語
該系統(tǒng)完成了對運(yùn)放參數(shù)VIO(0~40 mV)、IIO(0~4μA)、AVD(60~120 dB)、KCMR的測量,(誤差分別為1%和±2 dB),而且還實現(xiàn)了BWC的測量和自動量程轉(zhuǎn)換功能,其中掃頻信號的步進(jìn)頻率為1 kHz,電壓有效值為(2±0.1)V。系統(tǒng)通過FPGA提供鍵盤和顯示器等人機(jī)交互界面。能準(zhǔn)確實現(xiàn)對測量方式的控制及相關(guān)信息的顯示,且增加觸摸屏控制和打印測量結(jié)果功能,具有較好的可重復(fù)性和參考性。另外,在系統(tǒng)中通過對硬件的處理,消除了因使用繼電器由環(huán)路正反饋帶來的自
激效應(yīng),進(jìn)一步提高了系統(tǒng)穩(wěn)定性。


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關(guān)鍵詞: 3442 GB 82 集成運(yùn)放

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