新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 儀表放大器電路設(shè)計(jì)

儀表放大器電路設(shè)計(jì)

作者: 時間:2009-07-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

2.2 性能測試與分析
實(shí)現(xiàn)電路的四種方案中,都采用4個電阻組成電橋電路的形式,將雙端差分輸入變?yōu)閱味说男盘栐摧斎搿P阅軠y試主要是從信號源Vs的最大輸入和Vs最小輸入、電路的最大增益及共模抑制比幾方面進(jìn)行仿真和實(shí)際電路性能測試。測試數(shù)據(jù)分別見表1和表2。其中,Vs最大(小)輸入是指在給定測試條件下,使電路輸出不失真時的信號源最大(小)輸入;最大增益是指在給定測試條件下,使輸出不失真時可以實(shí)現(xiàn)的電路最大增益值。共模抑制比由公式KCMRR=20|g | AVd/AVC|(dB)計(jì)算得出。

說明:
(1)f為Vs輸入信號的頻率;
(2)表格中的電壓測量數(shù)據(jù)全部以峰峰值表示;
(3)由于仿真器件原因,實(shí)驗(yàn)中用Multisim對方案3的仿真失效,表1中用“-”表示失效數(shù)據(jù);
(4)表格中的方案1~4依次分別表示以LM741,OP07,LM324和AD620為核心組成的電路。
由表1和表2可見,仿真性能明顯優(yōu)于實(shí)際測試性能。這是因?yàn)榉抡骐娐返男阅芑旧鲜怯煞抡嫫骷男阅芎碗娐返慕Y(jié)構(gòu)形式確定的,沒有外界干擾因素,為理想條件下的測試;而實(shí)際測試電路由于受環(huán)境干擾因素(如環(huán)境溫度、空間電磁干擾等)、人為操作因素、實(shí)際測試儀器精確度、準(zhǔn)確度和量程范圍等的限制,使測試條件不夠理想,測量結(jié)果具有一定的誤差。在實(shí)際過程中,仿真與實(shí)際測試各有所長。一般先通過仿真測試,初步確定電路的結(jié)構(gòu)及器件參數(shù),再通過實(shí)際電路測試,改進(jìn)其具體性能指標(biāo)及參數(shù)設(shè)置。這樣,在保證電路功能、性能的前提下,大大提高的效率。
由表2的實(shí)測數(shù)據(jù)可以看出:方案2在信號輸入范圍(即Vs的最大、最小輸入)、電路增益、共模抑制比等方面的性能表現(xiàn)為最優(yōu)。在價格方面,它比方案1和方案3的成本高一點(diǎn),但比方案4便宜很多。因此,在四種方案中,方案2的性價比最高。方案4除最大增益相對小點(diǎn),其他性能僅次于方案2,具有電路簡單,性能優(yōu)越,節(jié)省設(shè)計(jì)空間等優(yōu)點(diǎn)。成本高是方案4的最大缺點(diǎn)。方案1和方案3在性能上的差異不大,方案3略優(yōu)于方案1,且它們同時具有絕對的價格優(yōu)勢,但性能上不如方案2和方案4好。
綜合以上分析,方案2和方案4適用于對電路有較高性能要求的場合,方案2性價比最高,方案4簡單、高效,但成本高。方案1和方案3適用于性能要求不高且需要節(jié)約成本的場合。針對具體的要求,選取不同的方案,以達(dá)到最優(yōu)的資源利用。電路的設(shè)計(jì)方案確定以后,在具體的電路設(shè)計(jì)過程中,要注意以下幾個方面:
(1)注意關(guān)鍵元器件的選取,比如對圖2所示電路,要注意使運(yùn)放A1,A2的特性盡可能一致;選用電阻時,應(yīng)該使用低溫度系數(shù)的電阻,以獲得盡可能低的漂移;對R3,R4,R5和R6的選擇應(yīng)盡可能匹配。
(2)要注意在電路中增加各種抗干擾措施,比如在電源的引入端增加電源退耦電容,在信號輸入端增加RC低通濾波或在運(yùn)放A1,A2的反饋回路增加高頻消噪電容,在PCB設(shè)計(jì)中精心布局合理布線,正確處理地線等,以提高電路的抗干擾能力,最大限度地發(fā)揮電路的性能。


3 結(jié) 語
在具體討論儀表放大器電路結(jié)構(gòu)、原理的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了四種儀表放大器電路。通過仿真與實(shí)際性能測試,分析、總結(jié)出四種方案的特點(diǎn),為儀表放大器電路的設(shè)計(jì)者提供一定的思路借鑒。


上一頁 1 2 下一頁

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉