基于軟件測(cè)試技術(shù)的FPGA測(cè)試研究
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與軟件測(cè)試一樣，在FPGA的開發(fā)階段，測(cè)試就扮演著驗(yàn)證和確認(rèn)的角色。但不同的是，FPGA的每一個(gè)綜合環(huán)節(jié)的輸出結(jié)果都是一種對(duì)設(shè)計(jì)的形式化表示方法，不但可以通過靜態(tài)的方法檢查驗(yàn)證，而且有強(qiáng)大的仿真工具能夠支持在開發(fā)階段對(duì)各個(gè)綜合環(huán)節(jié)進(jìn)行動(dòng)態(tài)仿真驗(yàn)證，這樣更有利于盡早發(fā)現(xiàn)缺陷，減少缺陷修改的成本。
而在測(cè)試階段，在真實(shí)環(huán)境下，自底向上依次進(jìn)行門級(jí)、單元級(jí)、元件級(jí)和系統(tǒng)級(jí)測(cè)試，以分別對(duì)門級(jí)模型、RTL模型、行為模型和系統(tǒng)需求進(jìn)行驗(yàn)證。
（1）門級(jí)測(cè)試：驗(yàn)證基本邏輯門的正確性。
（2）單元測(cè)試：FPGA的單元包括并行代碼塊，以及順序代碼中進(jìn)程、函數(shù)和過程。在這一級(jí)別的測(cè)試中，對(duì)RTL模型規(guī)定的各單元功能、邏輯、接口等逐項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。
（3）元件測(cè)試：在FPGA開發(fā)中，將具有一定功能和接口的電路封裝成的可復(fù)用單元稱為元件（component），通過對(duì)元件的例化和連接構(gòu)成具有更復(fù)雜功能的元件，直到構(gòu)成整個(gè)系統(tǒng)。在元件測(cè)試中，通過元件的輸入輸出接口，對(duì)元件的行為進(jìn)行驗(yàn)證。元件測(cè)試包括對(duì)元件集成的測(cè)試，從對(duì)最底層元件測(cè)試開始，是一個(gè)自底向上逐層集成的過程。
（4）系統(tǒng)測(cè)試：針對(duì)完整的FPGA系統(tǒng)的測(cè)試，驗(yàn)證FPGA系統(tǒng)對(duì)規(guī)定的功能、性能等需求的滿足性。
在FPGA系統(tǒng)開發(fā)過程中，邏輯綜合和結(jié)構(gòu)綜合過程基本通過綜合工具由計(jì)算機(jī)自動(dòng)完成，開發(fā)者主要是依據(jù)仿真結(jié)果進(jìn)行修改與優(yōu)化；而在自然語言綜合和行為綜合中，需要大量的人工介入，是缺陷引入的主要環(huán)節(jié)，也是FPGA測(cè)試的重點(diǎn)。
3.2 測(cè)試類型
與軟件測(cè)試相同，F(xiàn)PGA測(cè)試可分為靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試。靜態(tài)測(cè)試包括文檔審查、代碼審查、靜態(tài)分析、代碼走查等類型。在代碼審查中，除了進(jìn)行軟件測(cè)試的相關(guān)檢查項(xiàng)外，還包括檢查代碼運(yùn)行時(shí)序的正確性、代碼的魯棒性和代碼的可綜合性。而在代碼走查中，需要沿程序的時(shí)序和信號(hào)流兩個(gè)相關(guān)維度，驗(yàn)證代碼的動(dòng)態(tài)執(zhí)行情況。
動(dòng)態(tài)測(cè)試不但沿用軟件測(cè)試中一般采用的邏輯測(cè)試、功能測(cè)試、性能測(cè)試、接口測(cè)試、強(qiáng)度測(cè)試、余量測(cè)試、安全性測(cè)試、恢復(fù)性測(cè)試、邊界測(cè)試、數(shù)據(jù)處理測(cè)試等，還包含F(xiàn)PGA系統(tǒng)特有的下載與配置測(cè)試、魯棒性測(cè)試等。
（1）下載與配置測(cè)試：測(cè)試系統(tǒng)是否能夠正確實(shí)現(xiàn)程序的下載和芯片的配置。一般需要進(jìn)行不同目標(biāo)芯片和編程方式的下載與配置測(cè)試，對(duì)可重構(gòu)FPGA系統(tǒng)重構(gòu)能力的測(cè)試。
（2）魯棒性測(cè)試：驗(yàn)證系統(tǒng)能否避免干擾和沖突得到穩(wěn)定而可靠的輸出測(cè)試，一般需要測(cè)試輸出電平的穩(wěn)定性、輸出邏輯的確定性及系統(tǒng)抗電磁干擾的能力。
3.3 測(cè)試方法與測(cè)試環(huán)境
白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試是軟件測(cè)試中的兩大方法，在FPGA測(cè)試中同樣適用。除此之外，由于嵌入式邏輯分析儀的支持，使得灰盒測(cè)試在FPGA測(cè)試中具有很好的應(yīng)用前景。
（1）白盒測(cè)試是結(jié)構(gòu)性測(cè)試方法，根據(jù)代碼的內(nèi)部特征設(shè)計(jì)、選擇測(cè)試用例。FPGA的白盒測(cè)試一般在仿真環(huán)境下進(jìn)行，可分為代碼仿真、門級(jí)仿真和時(shí)序仿真。代碼仿真不考慮硬件特性，輸出理想情況下源代碼執(zhí)行結(jié)果，具有直觀、速度快的特點(diǎn)，可以在設(shè)計(jì)的最初階段盡早發(fā)現(xiàn)問題；門級(jí)仿真是針對(duì)代碼綜合后生成的門級(jí)網(wǎng)表或是實(shí)現(xiàn)后生成的門級(jí)模型進(jìn)行的仿真，可以檢驗(yàn)綜合或?qū)崿F(xiàn)后對(duì)系統(tǒng)或模塊功能的滿足性。時(shí)序在門級(jí)仿真的基礎(chǔ)上加入時(shí)延文件即時(shí)序仿真，時(shí)序仿真能夠比較真實(shí)地反映邏輯的時(shí)延與功能，但對(duì)于邏輯量大的系統(tǒng)耗時(shí)較長(zhǎng)。
（2）黑盒測(cè)試是一種功能性測(cè)試方法，只測(cè)試產(chǎn)品對(duì)功能、性能等需求的滿足性，而不考慮產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過程。軟件測(cè)試中的測(cè)試方法和測(cè)試環(huán)境可以對(duì)FPGA中的組合邏輯進(jìn)行有效的測(cè)試。而對(duì)于時(shí)序邏輯，測(cè)試環(huán)境還包含了對(duì)動(dòng)態(tài)輸入、動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集的支持，以及對(duì)采集數(shù)據(jù)的比較分析。在測(cè)試用例的設(shè)計(jì)中，規(guī)定系統(tǒng)輸入、輸出隨時(shí)間變化的趨勢(shì)，并對(duì)特殊的評(píng)價(jià)方法和通過準(zhǔn)則進(jìn)行定義。
（3）目前主流的FPGA開發(fā)工具都提供了嵌入式邏輯分析儀工具，使得灰盒測(cè)試成為了可能。嵌入式邏輯分析儀的原理是在FPGA真實(shí)運(yùn)行環(huán)境內(nèi)部，利用冗余的芯片資源，將預(yù)制的系統(tǒng)內(nèi)部信號(hào)實(shí)時(shí)通過接口輸出。這樣就可以在軟件真實(shí)運(yùn)行中，監(jiān)視軟件內(nèi)部的信號(hào)、變量和狀態(tài)，避免了由于輸入輸出域信息丟失以及容錯(cuò)環(huán)節(jié)造成的代碼缺陷無法暴露的問題，提高了FPGA代碼的測(cè)試性[7]。
4 應(yīng)用實(shí)例
以軟件測(cè)試為基礎(chǔ)的FPGA測(cè)試技術(shù)已經(jīng)得到了成功的應(yīng)用。對(duì)某數(shù)字調(diào)制解調(diào)系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)試，該系統(tǒng)以Altera公司EP1C3T144芯片為宿主機(jī)，采用VHDL語言編寫，實(shí)現(xiàn)了偏移四相相移鍵控(OQPSK)的調(diào)制、解調(diào)功能。
測(cè)試項(xiàng)目組對(duì)該系統(tǒng)在元件級(jí)、系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行了測(cè)試，包括靜態(tài)分析、代碼審查、邏輯測(cè)試、功能測(cè)試、性能測(cè)試、邊界測(cè)試、魯棒性測(cè)試、安全性測(cè)試等測(cè)試類型，其中：
（1）靜態(tài)分析采用HDL Designer工具進(jìn)行了編碼規(guī)則檢查，共分析出違反編碼規(guī)則43處，其中2處存在代碼問題，得到了正確的修改，25處影響了代碼的可讀性和維護(hù)性，提出改進(jìn)建議，均進(jìn)行了相應(yīng)處理。
（2）代碼審查發(fā)現(xiàn)代碼問題4處，均為代碼和設(shè)計(jì)文檔不一致所造成，全部修改正確，并提出一處影響邏輯門資源使用效率的改進(jìn)建議。
（3）元件測(cè)試采用Altera Modelsim工具在仿真環(huán)境下進(jìn)行，共設(shè)計(jì)測(cè)試用例95個(gè)，全部執(zhí)行通過。
（4）系統(tǒng)測(cè)試環(huán)境由任意波形發(fā)生器Agilent 33250A、邏輯分析儀Agilent 16902B和示波器Agilent MS09404構(gòu)成動(dòng)態(tài)測(cè)試環(huán)境，如圖2所示，設(shè)計(jì)測(cè)試用例48個(gè)，其中33個(gè)規(guī)定了輸入、輸出信號(hào)的動(dòng)態(tài)時(shí)序，測(cè)試用例全部執(zhí)行通過。
經(jīng)過測(cè)試以及相應(yīng)的修改和回歸，該FPGA系統(tǒng)代碼質(zhì)量和可靠性得到了提高，系統(tǒng)功能、性能得到了驗(yàn)證。
軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的成功應(yīng)用，有效解決了FPGA系統(tǒng)的測(cè)試問題。通過測(cè)試，提高了硬件描述語言的編寫質(zhì)量和系統(tǒng)的可靠性，并對(duì)FPGA的電路行為進(jìn)行了有效的驗(yàn)證。動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)序測(cè)試用例的自動(dòng)生成，以及系統(tǒng)輸出波形與預(yù)期的自動(dòng)比較和判斷，將成為未來進(jìn)一步研究的重點(diǎn)。隨著FPGA系統(tǒng)在各關(guān)鍵領(lǐng)域的進(jìn)一步普及，以軟件測(cè)試為基礎(chǔ)的FPGA測(cè)試將具有更廣闊的應(yīng)用前景。本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/191084.htm
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