晶體管的相關(guān)知識(shí)介紹

　(一)晶體管材料與極性的判別

　　1.從晶體管的型號(hào)命名上識(shí)別其材料與極性 國(guó)產(chǎn)晶體管型號(hào)命名的第二部分用英文字母AD表示晶體管的材料和極性。其中，“A”代表鍺材料PNP型管，“B”代表鍺材料NPN型管，“C”代表硅材料PNP型管，“D”代表硅材料NPN型管。

　　***產(chǎn)晶體管型號(hào)命名的第三部分用字母AD來(lái)表示晶體管的材料和類型(不代表極性)。其中，“A”、“B”為PNP型管，“C”、“D”為NPN型管。通常，“A”、“C”為高頻管，“B”、“D”為低頻管。

　　歐洲產(chǎn)晶體管型號(hào)命名的第一部分用字母“A”和“B”表示晶體管的材料(不表示NPN或PNP型極性)。其中，“A”表示鍺材料，“B”表示硅材料。

　　2.從封裝外形上識(shí)別晶體管的引腳 在使用權(quán)晶體管之前，首先要識(shí)別晶體管各引腳的極性。

　　不同種類、不同型號(hào)、不同功能的晶體管，其引腳排列位置也不同。通過(guò)閱讀上述“晶體管的封裝外形”中的內(nèi)容，可以快速識(shí)別也常用晶體管各引腳的極性。

　　3.用萬(wàn)用表判別晶體管的極性與材料 對(duì)于型號(hào)標(biāo)志不清或雖有型號(hào)但無(wú)法識(shí)別其引腳的晶體管，可以通過(guò)萬(wàn)用表測(cè)試來(lái)判斷出該晶體管的極性、引腳及材料。

　　對(duì)于一般小功率晶體管，可以用萬(wàn)用表R×100Ω檔或R×1k檔，用兩表筆測(cè)量晶體管任意兩個(gè)引腳間的正、反向電阻值。

　　在測(cè)量中會(huì)發(fā)現(xiàn)：當(dāng)黑表筆(或紅表筆)接晶體管的某一引腳時(shí)，用紅表筆(或黑表筆)去分別接觸另外兩個(gè)引腳，萬(wàn)用表上指示均為低阻值。此時(shí)，所測(cè)晶體管與黑表筆(或紅表筆)連接的引腳便是基極B，而別外兩個(gè)引腳為集電極C和發(fā)射極E。若基極接的是紅表筆，則該管為PNP管;若基極接的是黑表筆，則該管國(guó) NPN管。

　　也可以先假定晶體管的任一個(gè)引腳為基極，與紅表筆或黑表筆接觸，再用另一表筆去分別接觸另外兩個(gè)引腳，若測(cè)出兩個(gè)均較小的電阻值時(shí)，則固定不動(dòng)的表筆所接的引腳便是基極B，而另外兩個(gè)引腳為發(fā)射極E和集電極C。

　　找到基極B后，再比較基極B與另外兩個(gè)引腳之間正向電阻值的大小。通常，正向電阻值較大的電極為發(fā)射極E，正向電阻值較小的為集電極C。

　　PNP型晶體管，可以將紅表筆接基極B，用黑表筆分別接觸另外兩個(gè)引腳，會(huì)測(cè)出兩個(gè)略有差異的電阻值。在阻值較小的一次測(cè)量中，黑表筆所接的引腳為集電極C;在阻值較大的一次測(cè)量中，黑表筆所接的引腳為發(fā)射極E。

　　NPN型晶體管，可將黑表筆接基極B。用紅表筆去分別接觸另外兩個(gè)引腳。在阻值較小的一次測(cè)量中，紅表筆所接的引腳為集電極C;在阻值較大一次測(cè)量中，紅表筆所接的引腳為發(fā)射極E。

　　通過(guò)測(cè)量晶體管PN結(jié)的正、反向電阻值，還可判斷出晶體管的材料(區(qū)分出是硅管還是鍺管)及好壞。一般鍺管PN結(jié)(B、E極之間或B、C極之間)的正向電阻值為200500Ω，反向電阻值大于100kΩ;硅管PN結(jié)的正向電阻值為315kΩ，反向電阻值大于500kΩ。若測(cè)得晶體管某個(gè)PN結(jié)的正、反向電阻值均為0或均為無(wú)窮大，則可判斷該管已擊穿或開(kāi)路損壞。

　　(二)晶體管性能的檢測(cè)

　　1.反向擊穿電流的檢測(cè)

　　普通晶體管的反向擊穿電流(也稱反向漏電流或穿透電流)，可通過(guò)測(cè)量晶體管發(fā)射極E與集電極C之間的電阻值來(lái)估測(cè)。測(cè)量時(shí)，將萬(wàn)用表置于R×1k檔， NPN型管的集電極C接黑表筆，發(fā)射極E接紅表筆;PNP管的集電極C接紅表筆，發(fā)射極E接黑表筆。

　　正常時(shí)，鍺材料的小功率晶體管和中功率晶體管的電阻值一般大于10Kω(用R×100檔測(cè)，電阻值大于2kΩ)，鍺大功率晶體管的電阻值為1.5kΩ(用 R×10檔測(cè))以上。硅材料晶體管的電阻值應(yīng)大于100kΩ(用R×10k檔測(cè))，實(shí)測(cè)值一般為500kΩ以上。

　　若測(cè)得晶體管C、E極之間的電阻值偏小，則說(shuō)明該晶體管的漏電流較大;若測(cè)得C、E極之間的電阻值接近0，則說(shuō)明其C、E極間已擊穿損壞。若晶體管C、E極之間的電阻值隨著管殼溫度的增高而變小許多，則說(shuō)明該管的熱穩(wěn)定性不良。

　　也可以用晶體管直流參數(shù)測(cè)試表的ICEO檔來(lái)測(cè)量晶體管的反向擊穿電流。測(cè)試時(shí)，先將hFE/ICEO選擇開(kāi)關(guān)置于ICEO檔，選擇晶體管的極性，將被測(cè)晶體管的三個(gè)引腳插個(gè)測(cè)試孔，然后按下ICEO鍵，從表中讀出反向擊穿電流值即可。