新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 設計應用 > NAND FLASH在儲存測試系統(tǒng)中的應用

NAND FLASH在儲存測試系統(tǒng)中的應用

作者: 時間:2011-05-17 來源:網(wǎng)絡 收藏

0 引言

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/194960.htm

  計算機技術的高速發(fā)展,存儲系統(tǒng)容量從過去的幾KB存儲空間,到現(xiàn)在的T8;乃至不久的將來要達到的PB存儲空間,其數(shù)據(jù)存取的能力在飛速擴展。隨之而來產(chǎn)生的SCSI、FC、SAN、iSCSI、IPStorage和數(shù)據(jù)生命周期管理等嶄新的領域,更給計算機技術和網(wǎng)絡技術賦予了蓬勃的生命力。存數(shù)性能的提升通常是通過在基礎結構上增加更多的物理磁盤驅(qū)動數(shù)目或者采用更快轉(zhuǎn)速的磁盤驅(qū)動器來完成。

  機載存儲設備要求具有高的可靠性和高抗撞擊、抗震、防潮、耐高壓和承受高溫的特點,而磁盤驅(qū)動器存取數(shù)據(jù)時有機械轉(zhuǎn)動,其抗沖擊,抗震動性不強,所以不適用于航空航天等惡劣環(huán)境下使用?;诎雽w存儲芯片閃存的固態(tài)存儲器(SSD)的出現(xiàn)很好的解決了以上問題。SSD作為介質(zhì),沒有機械轉(zhuǎn)動部件、存儲密度高、可靠性高、體積小、重量輕,并且抗震動、抗沖擊、溫度適應范圍寬,具有很強的環(huán)境適應性,可以滿足苛刻條件下的數(shù)據(jù)要求,因此,高性能大容量固態(tài)存儲器已成為軍用重大項目中的只要數(shù)據(jù)方式。

  1 Memory的控制要求

  1.1 FLASI-1存儲器結構功能介紹

  我們選用的是三星公司的K9K8G08UOM型芯片作為存儲系統(tǒng)的介質(zhì),該款 F1ash存儲容量為8448Mbit,其中主數(shù)據(jù)區(qū)為8192M bit,輔助數(shù)據(jù)區(qū)為256Mbit,工作電壓為2.7V~3.6V,I/O端口的寬度為8位。NAND 不同于NOR FLASH,NOR FLASH在出廠時不容許芯片有壞塊存在,而NAND FLASH容許成品中存在壞塊,這是NAND技術所特有的現(xiàn)象。

  芯片內(nèi)的8448M bit內(nèi)存是按塊和頁的概念來組織的,一個FLASH存儲器包含8192塊(block),每塊包含64頁(page),每頁有2112 Bytes。芯片內(nèi)具有一個容量為2112 Bytes的數(shù)據(jù)寄存器,稱為頁寄存器,用來在數(shù)據(jù)存取時作為緩沖區(qū),當對芯片內(nèi)的某一頁進行讀寫時,其數(shù)據(jù)首選被轉(zhuǎn)移到此數(shù)據(jù)寄存器內(nèi),通過數(shù)據(jù)緩沖區(qū)和芯片外進行數(shù)據(jù)交換,以完成讀寫功能。頁內(nèi)的2112Bytes被劃分為2048 Bytes的主數(shù)據(jù)區(qū)和164 Bytes的輔助數(shù)據(jù)區(qū),主數(shù)據(jù)區(qū)存放用戶數(shù)據(jù),輔助數(shù)據(jù)區(qū)被用來儲存ECC(Error correctiON Code,錯誤校驗碼)、壞塊信息和文件系統(tǒng)相關代碼。其組織關系如圖1所示:


上一頁 1 2 3 下一頁

評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉