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特頻率計(jì)算工具(FCT)簡(jiǎn)化測(cè)試程序開發(fā)

作者: 時(shí)間:2010-08-08 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1 引言

數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)為工程師進(jìn)行特殊模擬、混合信號(hào)應(yīng)用開發(fā)提供了極大的靈活性。然而這一靈活性的增加也使工程師開發(fā)程序時(shí)存在不易發(fā)現(xiàn)的缺陷從而降低性能的可能性有所增加。

2 使采樣技術(shù)符合的要求

進(jìn)行模擬DSP測(cè)試時(shí)工程師依賴復(fù)雜的相關(guān)采樣技術(shù)保證采樣與測(cè)試一致。要實(shí)現(xiàn)相關(guān)采樣需要滿足下列公式的最優(yōu)解決方案:

式中:M為采樣窗口中的周期數(shù); N為采樣點(diǎn)數(shù);Ft為測(cè)試; Fs為采樣頻率。

滿足該公式測(cè)試程序編寫人員必須考慮各種限制:M/N的比值必須是素?cái)?shù),N必須是2的整數(shù)次冪才能保證使用快速傅立葉變換技術(shù)的相關(guān)性。同時(shí)N必須足夠大以提供所需的分辨率,但又不能太大否則測(cè)試時(shí)間會(huì)太長(zhǎng)。另外正確的解決方案還必須解決測(cè)試設(shè)備的物理限制,如采樣頻率的特殊限制或分辨率的上限。測(cè)試頻率必須考慮到各種可能,如多諧波測(cè)試。另外測(cè)試頻率的選擇必須考慮 FFT方法,測(cè)試頻率選擇不同會(huì)使結(jié)果很復(fù)雜。

過(guò)去測(cè)試工程師依賴表格或手工計(jì)算決定采樣參數(shù)。實(shí)際上這種人工勞動(dòng)使工程師不得不將精力集中到參數(shù)選擇問(wèn)題上。而且當(dāng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括欠采樣或過(guò)采樣方法時(shí)這種人工方法會(huì)變得非常困難。即使在較簡(jiǎn)單的情況下,這種需要反復(fù)試驗(yàn)的方法會(huì)使工程師考慮是否還有更好的參數(shù)設(shè)置可以更高效的進(jìn)行測(cè)試。

3 使用新的軟件工具決定采樣頻率和高速儀器設(shè)置

領(lǐng)先的ATE供應(yīng)商(如科利登)提供的獨(dú)特頻率()是一種交互式的軟件工具,可以幫助測(cè)試程序開發(fā)人員決定模擬測(cè)試中的采樣頻率(圖1)。是科利登OctetTM 系統(tǒng)中的程序開發(fā)軟件工具,該工具可以計(jì)算不同的方案,在測(cè)試系統(tǒng)能力范圍內(nèi)避免N值太大或太小。因此能夠根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的配置和特定的應(yīng)用找到最佳的參數(shù)設(shè)置組合。有了這些參數(shù)設(shè)置,測(cè)試工程師能夠簡(jiǎn)單的拖拽參數(shù)值到Octet的模擬波形工具(AWT)用來(lái)產(chǎn)生波形。


本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/195360.htm

另外,科利登的儀器設(shè)置工具(IST)簡(jiǎn)化了測(cè)試程序的開發(fā)和高速儀器的設(shè)置。傳統(tǒng)的系統(tǒng)中,工程師開發(fā)測(cè)試程序需要詳細(xì)的了解測(cè)試系統(tǒng)中配置的每個(gè)儀器的詳細(xì)命令。IST消除了這一煩雜的工作。由于IST中存儲(chǔ)了關(guān)于系統(tǒng)儀器限制和能力的信息,該工具可以提供簡(jiǎn)單的交互式的方法用于產(chǎn)生C程序代碼。測(cè)試程序開發(fā)過(guò)程中,測(cè)試工程師填寫一張IST中的表格,描述預(yù)期的波形。而關(guān)于產(chǎn)生該波形所需的參數(shù)設(shè)置、信號(hào)捕獲和分析工作則由IST完成。測(cè)試程序開發(fā)人員不再需要掌握不同儀器的命令和編程機(jī)制,可以把精力集中于更高層面的測(cè)試應(yīng)用,優(yōu)化測(cè)試方法。

4 結(jié)論

通過(guò)自動(dòng)分析的方法,新型的軟件工具,如 FCT,可以幫助測(cè)試工程師節(jié)省人工勞動(dòng)同時(shí)可以得到更好的測(cè)試結(jié)果。除了象FCT和IST這樣的工具,領(lǐng)先的ATE公司,如科利登,正在不斷加強(qiáng)測(cè)試軟件的能力以提高測(cè)試產(chǎn)能和質(zhì)量。


評(píng)論


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