LED燈具檢測(cè)及改善
文章介紹了通過(guò)Vf-TJ 曲線的標(biāo)出并控制LED 在控定的結(jié)溫下測(cè)量其光、色、電參數(shù)不僅對(duì)采用LED的照明器具的如何保證LED 工作結(jié)溫提供了目標(biāo)限位,同時(shí)也使LED 及其模塊的光、色、電參數(shù)的測(cè)量參數(shù)更接近于實(shí)際的應(yīng)用條件。文章還介紹了采用LED的照明器具如測(cè)量LED 的結(jié)溫并確定LED 參考點(diǎn)的限值溫度與結(jié)溫的函數(shù)關(guān)系。這對(duì)快速評(píng)估采用LED 的照明器具的工作狀態(tài)和使用壽命提供了一個(gè)有效的途徑。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/200319.htm一、 序言
對(duì)于一個(gè)新興的產(chǎn)品,其產(chǎn)品自身的發(fā)展總是先于產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)方法。雖然產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)方法不可能先于產(chǎn)品的研發(fā),但是,產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)方法應(yīng)盡可能地緊跟產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的進(jìn)度,因?yàn)楫a(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)方法的制定過(guò)程本身就是對(duì)產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程的回顧研討和小結(jié),只要條件基本成熟,產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)方法的制訂越及時(shí),就越能減少產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程的盲目性。LED 照明產(chǎn)業(yè)發(fā)展到現(xiàn)在,我們對(duì)LED 照明產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)方法的回顧、小結(jié)的時(shí)候已經(jīng)基本到來(lái)。
二、 LED 模塊的光電參數(shù)和檢測(cè)方法的現(xiàn)狀和改進(jìn)方法
1、傳統(tǒng)的LED 模塊的檢測(cè)方法
目前傳統(tǒng)的 LED 模塊的檢測(cè)方法主要有兩種,第一種是采用脈沖測(cè)量的方法,它是把照明LED 模塊固定在測(cè)量裝置上(例如積分球的測(cè)量位置等),采用脈沖恒流電源與瞬時(shí)測(cè)量光譜儀的同步聯(lián)動(dòng),即對(duì)LED 發(fā)出數(shù)十毫秒~數(shù)佰毫秒恒流的脈沖電流的同時(shí),同步打開瞬時(shí)測(cè)量光譜儀器的快門,對(duì)LED 發(fā)出的光參數(shù)(光通量、光色參數(shù)等)進(jìn)行快速檢測(cè),同時(shí),也同步采集LED 的正向壓降和功率等參數(shù)。由于這種方式在檢測(cè)過(guò)程中,LED 的結(jié)溫幾乎等同于室溫,所以,測(cè)量結(jié)果的光效高,光色和電參數(shù)與實(shí)際使用情況有明顯差異,這一般都是LED 芯片(器件)生產(chǎn)商采用的快速檢測(cè)方法,而與LED 實(shí)際應(yīng)用在最終照明器具中的狀態(tài)不具有可參比性。
第二種檢測(cè)方法是把LED模塊安裝在檢測(cè)裝置上后,可能帶上一固定的散熱器(也可能具有基座控溫功能),給LED施加其聲稱的工作電流,受傳統(tǒng)的照明光源檢測(cè)方法的影響,也是等到LED達(dá)到熱平衡后再開始測(cè)量它的光電參數(shù)。這種方法看似比較嚴(yán)密,但實(shí)際上,它的熱平衡條件和工作條件與此類LED裝入最終的照明器具中的狀態(tài)仍沒有好的關(guān)聯(lián)性,因此所測(cè)的光電參數(shù)與今后實(shí)際的應(yīng)用狀態(tài)的參數(shù)仍不具有可參比性。已經(jīng)頒布的GB/T24824-2009/CIE 127-2007NEQ《普通照明用LED模塊的基本性能的測(cè)量方法》標(biāo)準(zhǔn)中,在這方面是這樣規(guī)定的:’試驗(yàn)或測(cè)量時(shí)LED模塊應(yīng)工作在熱平衡狀態(tài)下,在監(jiān)視環(huán)境溫度的同時(shí),最好能監(jiān)視LED模塊自身的工作溫度,以保證試驗(yàn)的可復(fù)現(xiàn)性。如可能監(jiān)測(cè)LED模塊結(jié)電壓,則應(yīng)首選監(jiān)測(cè)結(jié)電壓。否則,應(yīng)監(jiān)測(cè)LED模塊指定溫度測(cè)量點(diǎn)的溫度’。可見在監(jiān)測(cè)結(jié)電壓的條件下來(lái)測(cè)量LED 模塊的光電參數(shù)是保證檢測(cè)重現(xiàn)性的首選方案,但是,標(biāo)準(zhǔn)中沒有指明在模擬實(shí)際使用結(jié)溫條件下檢測(cè)LED 模塊的光、色、電參數(shù)。
2、LED 模塊測(cè)量方法的改進(jìn)
眾所周知,LED 的光、電參數(shù)特性與它的工作時(shí)的結(jié)溫密切相關(guān),同一個(gè)LED 產(chǎn)品,結(jié)溫的不會(huì)造成這些參數(shù)的明顯不同,這也造成了同一個(gè)LED 光、色、電參數(shù)測(cè)量結(jié)果的明顯不一致性,所以測(cè)量LED 的光電參數(shù)首先應(yīng)考慮在設(shè)定的工作結(jié)溫的條件下來(lái)進(jìn)行。另外,LED 因?yàn)榉庋b的工藝、材料等差異,其聲稱的最高工作結(jié)溫是明顯不同的,為了保證LED 照明產(chǎn)品具有高效、長(zhǎng)壽的特點(diǎn),LED 實(shí)際的工作結(jié)溫應(yīng)明顯低于最高工作結(jié)溫。例如,目前我們大量采用的LED 封裝方法和技術(shù),在LED 的發(fā)光面前,都具有高分子硅膠加熒光粉的覆蓋層。實(shí)踐證明,要使此類LED 照明器具,到70%的光通維持率的時(shí)間要≥6 萬(wàn)小時(shí),其工作結(jié)溫必須保持在70℃~75℃以下。從提高光效和使用壽命的角度來(lái)講,LED 的工作結(jié)溫能保持在60℃以下更好,但從照明器具的造型、體積、性價(jià)比來(lái)講,則應(yīng)該控制在能達(dá)到預(yù)期的光效和使用壽命的基礎(chǔ)上把LED的最高工作結(jié)溫控制在70℃~75℃最為合適。為了使LED 及其模塊的光、色、電參數(shù)的檢測(cè)也盡可能接近于實(shí)際應(yīng)用的結(jié)溫狀態(tài),就必須解決如何測(cè)量LED的結(jié)溫并能在這一結(jié)溫下進(jìn)行光、色、電參數(shù)的檢測(cè)問題。
(1)目前LED 的結(jié)溫測(cè)量方法大概有
1)通過(guò)測(cè)量管腳溫度和芯片耗散功率和熱阻系數(shù)求得結(jié)溫。但是因?yàn)楹纳⒐β屎蜔嶙柘禂?shù)的不準(zhǔn)確,所以測(cè)量精度比較低。
2)紅外熱成像法,利用紅外非接觸溫度儀直接測(cè)量LED 芯片的溫度,但要求被測(cè)器件處于未封裝的狀態(tài),另外對(duì)LED 封裝材料折射率有特殊要求,否則無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量,測(cè)量精度比較低。
3)利用發(fā)光光譜峰位移測(cè)定結(jié)溫,也是一種非接觸的測(cè)量方法,直接從發(fā)光光譜確定禁帶寬度移動(dòng)技術(shù)來(lái)測(cè)量結(jié)溫,這一方法對(duì)光譜測(cè)試儀器分辨精度要求較高,發(fā)光峰位的精度測(cè)定難度較大,而光譜峰位移1 納米的誤差變化就對(duì)應(yīng)著測(cè)量結(jié)溫約30 度的變化,所以測(cè)量精度和重復(fù)性都比較低。
4)向列型液晶熱成像技術(shù),對(duì)儀器分辨率要求高,只能測(cè)量未封裝的單個(gè)裸芯片,不能測(cè)量封裝后的LED。
5)利用二極管 PN 結(jié)電壓與結(jié)溫的Vf-TJ 關(guān)系曲線,來(lái)測(cè)量LED 的結(jié)溫。
從上述介紹的各種 LED 結(jié)溫的測(cè)量方法可看出,采用監(jiān)視二極管PN 結(jié)電壓的變化來(lái)推算結(jié)溫的方法最具有可行性并且測(cè)量精度也最高,所以在很多集成IC 電路中,為了檢測(cè)IC 芯片的工作結(jié)溫,往往會(huì)刻出或值入1 個(gè)或幾個(gè)二極管,通過(guò)測(cè)量其正向電壓降的變化來(lái)達(dá)到測(cè)量芯片結(jié)溫的目的。
(2)目前國(guó)際上較先進(jìn)的Vf-TJ 測(cè)量方法
目前國(guó)際上先進(jìn)的 Vf-TJ 測(cè)量方法是把被測(cè)的LED 連上引出線放入在硅油缸內(nèi),隨后加熱硅油缸使硅油的溫度達(dá)到140℃左右,隨后讓缸內(nèi)硅油自然冷卻,只要冷卻時(shí)硅油溫度下降的速度足夠慢,就可以認(rèn)為L(zhǎng)ED 的結(jié)溫與LED 的熱沉的溫度是基本一致的,在此過(guò)程中,根據(jù)所測(cè)的硅油溫度,每下降2℃~10℃時(shí)瞬時(shí)給LED 輸入規(guī)定的電流脈沖,并測(cè)量其在這一溫度下的正向電壓降,把這一測(cè)量點(diǎn)的溫度和正向電壓降導(dǎo)入到電腦軟件的數(shù)據(jù)庫(kù),從140℃左右開始,隨溫度的下降,每下降一個(gè)設(shè)定的等分溫度測(cè)量一次熱沉溫度和正向電壓降,一直測(cè)量到25℃左右,當(dāng)完成這一組測(cè)量數(shù)據(jù)并導(dǎo)入到電腦軟件的數(shù)據(jù)庫(kù)后,由軟件產(chǎn)生一個(gè)Vf-TJ 曲線。這一方法屬于在溫度下降時(shí)測(cè)量方法,對(duì)于測(cè)量來(lái)說(shuō)是可行的,但是因?yàn)樵囼?yàn)室的環(huán)境溫度是衡定的(一般為25℃),而硅油缸的油溫是從高到低下降的,這就造成當(dāng)硅油缸的油溫較高時(shí),因?yàn)榕c試驗(yàn)室環(huán)境溫度的溫差大而使冷卻速度較快,為了保證測(cè)量的準(zhǔn)確性采用了適當(dāng)?shù)拇胧┦构栌透自跍囟容^高時(shí)溫度下降不致于太快,但當(dāng)硅油缸溫度較低時(shí),因?yàn)榕c室溫的溫差太小而使冷卻的速度太慢,這大大延長(zhǎng)了這一檢測(cè)過(guò)程的測(cè)量時(shí)間。因?yàn)樯鲜鲈?,這一溫度下降時(shí)的測(cè)量方法在標(biāo)定Vf-TJ 過(guò)程是不可能短的,(大約需4~5 小時(shí)),否則將產(chǎn)生明顯的測(cè)量誤差。另外,這種檢測(cè)裝置油缸是固定的,要測(cè)量第二組,時(shí)間很慢。還有上述加熱裝置是在硅油缸外面的底部,加熱與控溫以及測(cè)量的溫度都存在明顯的滯后,這也造成這一方法測(cè)量結(jié)溫的準(zhǔn)確性比較差。
評(píng)論