諧波對(duì)愛(ài)波斯坦方圈法測(cè)量結(jié)果的影響

1.概述
測(cè)量電工鋼片比總損耗時(shí)需要保持磁通正弦，在初級(jí)注入諧波會(huì)改變波形因數(shù)，使得次級(jí)感應(yīng)電壓偏離正弦，對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響，國(guó)標(biāo)中介紹了在波形失真的情況按照波形因數(shù)修正比總損耗測(cè)量值的方法，然而，在諧波條件下測(cè)試時(shí)，波形因數(shù)不僅與注入的諧波量有關(guān)，還與注入諧波的初始相角有關(guān)，這兩者都會(huì)對(duì)波形因數(shù)產(chǎn)生影響，本文通過(guò)測(cè)量不同諧波條件下的比總損耗，探討了諧波對(duì)愛(ài)波斯坦方圈法測(cè)量結(jié)果的影響，證實(shí)了采用國(guó)標(biāo)中的修正關(guān)系并不能得到理想的結(jié)果，對(duì)于在諧波條件下測(cè)量比總損耗具有一定的指導(dǎo)意義。


2.原理
2.1數(shù)字法測(cè)量愛(ài)波斯坦方圈的比總損耗
采用數(shù)字法測(cè)量愛(ài)波斯坦方圈比總損耗的原理圖如圖（1）所示，其中T為愛(ài)波斯坦方圈，M為空氣磁通補(bǔ)償線圈，R為勵(lì)磁電流采樣電阻，U為勵(lì)磁電源。兩路AD分別轉(zhuǎn)換勵(lì)磁電流和次級(jí)感應(yīng)電壓。在一個(gè)周期內(nèi)，進(jìn)行N點(diǎn)等間隔采樣，得到電壓和電流的兩組數(shù)據(jù)Uk、Ik, k=1…N則總損耗P如式（1）所示：


圖（1）數(shù)字法測(cè)量愛(ài)波斯坦方圈比總損耗的原理圖

a)比總損耗的傅立葉分析
對(duì)于數(shù)字法得到的次級(jí)電壓U2(t)，初級(jí)勵(lì)磁電流I(t)，分別進(jìn)行傅立葉分析，可得到以下關(guān)系式：



由于：

當(dāng)M≠N時(shí)，

當(dāng)M＝N時(shí)


因此：

由上式（7）可以看出，總損耗為各次諧波損耗之和。


b)波形因數(shù)修正
按照國(guó)標(biāo)要求，需要保證波形系數(shù)在1.111±1%范圍內(nèi)，在實(shí)際測(cè)量中，這一條件可以采用模擬或者數(shù)字反饋技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)，然而，當(dāng)測(cè)量接近飽和磁感時(shí)，次級(jí)感應(yīng)電壓波形偏離正弦，很難保證波形因數(shù)在此范圍內(nèi)，為此，國(guó)標(biāo)中介紹了依據(jù)波形因數(shù)的比總損耗修正方法，這種修正方法將比總損耗分為磁滯損耗和渦流損耗，其中磁滯損耗與波形因數(shù)無(wú)關(guān)，渦流損耗與波形因數(shù)有關(guān)，由于可以通過(guò)改變頻率的辦法確定這兩種損耗在比總損耗的比例，最終可以得到僅依賴于波形因數(shù)的修正關(guān)系，如式（8）所示：

式中：
K：波形因數(shù)，為次級(jí)感應(yīng)電壓的有效值和平均值的比值；
Ps：試樣的比總損耗，單位為瓦特每千克（W/kg）；
Pˊs：波形失真時(shí)比總損耗的修正值，單位為瓦特每千克（W/kg）；
e：渦流損耗在比總損耗中占得比例；
h：磁滯損耗在比總損耗中占得比例，其值為（1-e）。


3.實(shí)驗(yàn)方法
依據(jù)原理1中介紹的方法，采用長(zhǎng)沙天恒測(cè)控技術(shù)有限公司生產(chǎn)的TD8510硅鋼測(cè)量裝置及25CM愛(ài)波斯坦方圈構(gòu)成實(shí)驗(yàn)裝置，樣品為馬鋼標(biāo)準(zhǔn)樣品（樣品編號(hào)為：TD-2011-0644），整個(gè)實(shí)驗(yàn)裝置如照片（1）所示。

TD8510硅鋼測(cè)量裝置包括一個(gè)精密可調(diào)勵(lì)磁電源和兩個(gè)數(shù)字采集通道，通過(guò)軟件可以方便地設(shè)置勵(lì)磁電壓的諧波分量及其相角，并進(jìn)行傅立葉分析，初級(jí)磁感波形調(diào)節(jié)原理如下：

其中：
U11、U12…U1n為基波和各次諧波的幅值；
φ1、φ2…φn為基波和各次諧波的相角。
通過(guò)計(jì)算機(jī)設(shè)定各次諧波的幅值和相角，TD8510即可在基波勵(lì)磁電壓的基礎(chǔ)上添加諧波勵(lì)磁分量。
由于實(shí)際測(cè)量中主要的諧波成為為3次諧波，我們只考慮添加3次諧波的情況，為此進(jìn)行了兩組實(shí)驗(yàn)考察諧波對(duì)比總損耗測(cè)量的影響，一是保持諧波相角為0，改變諧波分量的比重；二是保持諧波分量比重為5%，改變諧波相角。


4.實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析
按照（三）中所描述的實(shí)驗(yàn)裝置及實(shí)驗(yàn)方法，得到了兩組數(shù)據(jù)如表（1）和表（2）所示，表（1）為保持相位角為0，改變諧波分量比重得到的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。表（2）為保持諧波分量比重為5%，改變諧波相位角得到的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。其中，波形因數(shù)、總損耗、基波工作點(diǎn)是TD8510測(cè)試的原始數(shù)據(jù)，Pˊs為按照式（8）修正的數(shù)據(jù)，基波損耗和三次諧波損耗則是按照原理（2）進(jìn)行的傅立葉分析所得數(shù)據(jù)。
a)保持相位角不變，改變諧波分量的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析

3次諧波百分比	波形因數(shù)K	總損耗Ps	波形因數(shù)修正Ps′	基波損耗	三次諧波損耗	基波工作點(diǎn)（T）
0	1.1112	1.4985	1.4971	1.506	0.005	1.503
1%	1.1125	1.4997	1.4990	1.493	0.011	1.503
2%	1.1091	1.5056	1.5081	1.475	0.031	1.503
3%	1.1070	1.5115	1.5170	1.458	0.055	1.503
4%	1.1048	1.5183	1.5268	1.441	0.079	1.503
5%	1.1028	1.5249	1.5363	1.423	0.104	1.503

表（1）初始相位角為0，改變諧波分量比重所得測(cè)試數(shù)據(jù)列表
從上表可以看出，隨著諧波分量的增加，
l波形因數(shù)會(huì)發(fā)生變化，對(duì)于3次諧波，諧波分量達(dá)到5%時(shí)，波形因數(shù)變化仍在1.111±1%的范圍內(nèi)，這是由于TD8510采用了模擬反饋的方法維持次級(jí)磁通正弦;
l總損耗Ps會(huì)增加，根據(jù)傅立葉分析，即使基波工作點(diǎn)不變，當(dāng)諧波功率增加時(shí)，基波損耗減小，但是基波損耗與諧波損耗的和近似等于總損耗；
l當(dāng)諧波分量為0時(shí)，其所得總損耗應(yīng)該最接近真實(shí)值，但是按照國(guó)標(biāo)給出的修正關(guān)系，諧波分量增加時(shí)，Ps變化為1.7%，修正后的Pˊs變化為2.6%，比總損耗與理想值偏差反而增大，修正效果不理想。



b)保持諧波分量為5%，改變諧波相位角的實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析

3次諧波相角	波形因數(shù)K	總損耗Ps	波形因數(shù)修正Ps′	基波損耗	三次諧波損耗	基波工作點(diǎn)（T）
0°	1.1027	1.5260	1.5374	1.424	0。。103	1.503
15°	1.0995	1.5348	1.5507	1.449	0.087	1.503
30°	1.0972	1.5417	1.5610	1.477	0.066	1.503
45°	1.0960	1.5457	1.5668	1.508	0.04	1.503
60°	1.0958	1.5472	1.5685	1.539	0.01	1.503
75°	1.0967	1.5454	1.5654	1.568	-0.021	1.503
90°	1.0988	1.5401	1.5576	1.568	-0.05	1.503

表（2）諧波分量為5%，改變諧波相位角所得實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)列表
上表中3次諧波分量為5%，諧波相位角從0°變化到90°：波形因數(shù)變化為1%左右，但是基波損耗變化8%，基波損耗和諧波損耗之和仍等于總損耗；隨著諧波相位角的變化，諧波功率可以為負(fù)功。
綜合上述分析，我們認(rèn)為：當(dāng)磁感非正弦，波形因數(shù)偏離1.111時(shí)，由于諧波相位角不確定，采用國(guó)標(biāo)中介紹的修正方法可能會(huì)帶來(lái)比較大的誤差。

5.展望
本文通過(guò)實(shí)驗(yàn)初步探討了諧波對(duì)比總損耗測(cè)量的影響，由于諧波情況非常復(fù)雜，更多的實(shí)驗(yàn)包括繼續(xù)增大諧波分量，使波形因數(shù)偏離5%或者10%、添加比3次更高次的諧波、使諧波相位角在0°～360°內(nèi)變化等。當(dāng)磁通波形失真時(shí)，特別是在諧波測(cè)試條件下，能否采用國(guó)標(biāo)中建議的修正方法來(lái)保證測(cè)量誤差需要更加全面的考察。