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如何正確的測試石英晶振以及需要注意的要素

作者: 時間:2016-12-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
在解析之前我們首先來了解一下石英晶振,石英晶體是一種天然的水晶制品,它被廣泛應(yīng)用于電話終端機,程控交換機, 移動電話,無線電話,傳呼機,

傳真機,無線通信,微波通信,打印機,調(diào)制解調(diào)器,掃描儀。于錄像機,。
攝像機,VCD,DVD,CD,數(shù)字像機和數(shù)字收音機等。家用電器如電冰箱,微波爐,
電飯鍋,洗衣機,空調(diào),機頂盒等。電子游戲機,對講機,遙控器。汽車導(dǎo)航,功能控制,
電子地圖,電子定位儀和汽車音響系統(tǒng)。計算機(主板,顯卡,顯示器,硬盤)及其周邊設(shè)備
(鼠標(biāo),鍵盤,U盤,讀卡器,攝像頭,),手機通訊,車載GPS,藍牙無線傳輸等高精度電子領(lǐng)域.
一、石英晶振測試需準(zhǔn)備的材料、零部件
1細(xì)紗手套
2待測石英晶體元件
設(shè)備及工裝
1頻率計(1×10-7)
2阻抗計(f:±5×10-6,R1:±10%)
3絕緣電阻測試儀(±20%)
4精密電容測試儀(±0.1%±0.003PF)
5恒溫箱(±0.1℃)
6溫度計(-50-+50℃,0-100℃)
7鑷子(中號)
8各種電容夾具
9晶體插板
10器件測試回流焊(M6/M7/M8)

測試前準(zhǔn)備工作
1將所需電子儀器接通電源,預(yù)熱30分鐘以上.
2查看技術(shù)條件,了解測試內(nèi)容.
操作過程
二、絕緣電阻測試
1調(diào)整好絕緣電阻測試儀(電壓100V±15V).
2用儀器表筆碰被測石英晶體元件的外殼與引線間(晶片電極引線),測量其之間的絕緣電阻.
3測得的絕緣電阻應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格.
三、并電容測試
1調(diào)整好精密電容測試儀
2用儀表筆測量被測石英晶體元件的并電容,測得的電容值應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格
四、諧振頻率及諧振電阻的測試
基準(zhǔn)溫度條件下,石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測試.
1將被測石英晶體諧振器放在基準(zhǔn)溫度(該產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的溫度)下至少放置1小時.
2調(diào)整好頻率計阻抗計.
3在阻抗計上測試被測石英晶體元件的諧振頻率,其值與標(biāo)稱頻率之差應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則為不合格.
4測石英晶體元件的諧振電阻,則在阻抗計上將石英晶體元件的諧振電阻與標(biāo)準(zhǔn)電阻相比較.
比較方法:
A高頻石英晶體元件:
首先將與產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)相符合的標(biāo)準(zhǔn)電阻插在阻抗計上,看其流幅度.
再將石英晶體元件插在阻抗計上看其柵流幅度(當(dāng)石英晶體元件要求諧振電阻時
石英晶體元件直接插在阻抗計上,當(dāng)石英晶體元件要求是負(fù)載諧振電阻時,則石英晶體元件插在電容夾具上,然后插在阻抗計上.)
如插石英晶體元件的阻抗計柵流大于插標(biāo)準(zhǔn)電阻時的阻抗計柵流,則判為合格,否則判為不合格.
B低、中頻石英晶體元件
在阻抗計上用電位器測出負(fù)載諧振電阻(諧振電阻)值,然后插入晶體插孔,記下此時電壓表指針位置。
實測石英晶體元件,若諧振時電壓表指針位置超過4中位置時,則此晶體元件的阻值為合格,否則為不合格。
低溫條件下石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測試
1將石英晶體元件放在低溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)工作溫度的下限恒溫半小時以上。
2重復(fù)上述相同工步。
3注:要求總頻差時,用低溫時實測頻率與標(biāo)準(zhǔn)頻率相減,要求溫度頻差時,用低溫時實測頻率與基準(zhǔn)溫度時實測頻率相減,以下高溫測試也如此。
4將被測石英晶體元件放在高溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)工作溫度的上限恒溫半小時以上。
5重復(fù)上述相同工步。
五、串并間隔的測試(在常溫條件下測試)
1調(diào)整好頻率計,阻抗計。
2按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)在阻抗上分別測出被測石英晶體元件在兩種(或多種)負(fù)載電容情況下的頻率。
3計算出的頻率差值,其值應(yīng)符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),否則判為不合格。

注意事項
測試時頻率計數(shù):高頻石英晶體元件以第三次顯示的數(shù)字為準(zhǔn),中、低頻石英晶體元件以第二次顯示的數(shù)字為準(zhǔn)。
六、為確保晶振在焊接方面不會出現(xiàn)的高溫與加熱速率影響品質(zhì),我們要求對晶振模擬焊接條件進行,由器件測試回流焊(力鋒M系列測試回流焊)焊接高溫測試,通過對晶振進行測試可確定出不良的晶振器件
七、上錫測試,通過將錫膏熔接其引腳,可抽測晶振引腳上錫是否良好。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201612/333901.htm


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