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DigRF 協(xié)議層測試方法

作者： 時間：2017-01-12 來源：網(wǎng)絡(luò) 收藏
對于從事DigRF設(shè)計特別是相關(guān)基帶和射頻芯片研發(fā)的人員來說，僅僅確認(rèn)信號質(zhì)量沒有問題是不夠的，隨著BB IC和RF-IC 之間的通信鏈路從模擬向高速串行數(shù)字的不斷演進(jìn)，DigRF 標(biāo)準(zhǔn)為移動無線開發(fā)、集成和驗證團(tuán)隊帶來了新的挑戰(zhàn)。其中一個主要挑戰(zhàn)是測試期間有些元器件不可用或未準(zhǔn)備就緒。例如，需要在沒有BB-IC 的條件下測試RF-IC (或相反的情況)，為了重現(xiàn)系統(tǒng)問題或運行回歸測試，通常需要生成流量條件，對于實際器件來說這些條件可能很難重現(xiàn)。另外，在集成測試階段，查找互通性問題的根本原因成為一個難題，問題可能存在于數(shù)字域或射頻域內(nèi)。數(shù)字和射頻設(shè)計團(tuán)隊需要一個能夠在所選域內(nèi)提供深入分析功能的通用平臺。針對這種應(yīng)用，Agilent推出了針對DigRF的全套的協(xié)議分析方案。這套系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，主要模塊由2部分組成，一部分是訓(xùn)練器，另一部分是協(xié)議分析儀，兩部分可以獨立使用，也可以配合起來組成全面的測試系統(tǒng)。


本文引用地址：http://m.butianyuan.cn/article/201701/337821.htm



訓(xùn)練器模塊用于在BB-IC或RF-IC的開發(fā)階段產(chǎn)生DigRF的數(shù)據(jù)流和被測芯片進(jìn)行交互。N5343A可以把各種來源(包括Agilent的Signal Studio 和ADS軟件) 的數(shù)字 IQ 數(shù)據(jù)加載進(jìn)來，并封裝到符合DigRF v3 或v4 標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)包中。另外根據(jù)用戶的規(guī)定，控制包也可以插入到數(shù)據(jù)包流量中，并同時在波形中循環(huán)，基于這一特性，工程師在測試中也可以調(diào)整不同的配置參數(shù)，比如設(shè)置射頻放大器的增益等。


N5344A 分析模塊能夠捕獲被測件的流量。使用信號提取工具，可識別數(shù)據(jù)包并從中自動提取數(shù)字IQ 數(shù)據(jù)。通過在主機(jī)控制器上運行的89601 矢量信號分析工具對數(shù)字IQ數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。這些功能使用戶能夠?qū)Ρ忍丶壷翉?fù)雜IQ 調(diào)制的信號進(jìn)行深入分析，并驗證數(shù)字IQ是否被正確地轉(zhuǎn)換為DigRF格式，從而使射頻和數(shù)字工程師能夠迅速驗證RF-IC 和解決交叉域問題。

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