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EAG實驗室將在中國舉行一系列材料分析研討會

作者: 時間:2017-09-19 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  實驗室宣布公司將于10月份在中國多地舉辦一系列技術(shù)研討會。實驗室是一家面向技術(shù)、生命科學(xué)相關(guān)行業(yè)提供測試、分析和表征服務(wù)的全球科學(xué)服務(wù)公司。實驗室于2017年10月17日和19日在北京、成都、上海舉辦的研討會將關(guān)注材料分析方法以及如何更加有效地使用這些方法優(yōu)化生產(chǎn)工藝和產(chǎn)品升級。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201709/364489.htm

  EAG實驗室亞洲區(qū)高級副總裁Aoyama Tomoya博士說:“EAG實驗室在材料科學(xué)和工程科學(xué)領(lǐng)域的測試、分析和表征技術(shù)方面有著大量的經(jīng)驗和特長。這屆研討會將會提供一個很好的知識分享平臺,最終幫助我們的客戶以及潛在的中國客戶改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計和生產(chǎn)工藝。”

  EAG實驗室是一家聯(lián)系緊密的全球公司,在世界范圍內(nèi)擁有20家實驗室,服務(wù)客戶超過4000家,能夠提供30多種分析技術(shù)服務(wù),包括二次離子質(zhì)譜(SIMS)、輝光放電質(zhì)譜(GDMS)、四極桿二次離子質(zhì)譜(Quad SIMS)、飛行時間–二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)、電感耦合等離子體質(zhì)譜發(fā)射光譜、X射線光電子圖譜(XPS)、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜(FTIR)、掃描電子顯微鏡/能譜分析(SEM/EDS)、聚焦離子束(FIB)、全反射X射線熒光光譜(TXRF)、原子力顯微鏡/掃描探針顯微鏡(AFM/SPM)、盧瑟福背散射譜(RBS)、氫前向散射光譜法(HFS)、質(zhì)子激發(fā)X熒光光譜分析(PIXE)、X射線熒光分析(XRF)、拉曼光譜(Raman)和氣相色譜質(zhì)譜(GC/MS)。

  10月17日在北京舉行的研討會主要集中在表面分析技術(shù)上,如二次離子質(zhì)譜(SIMS)。同日在成都舉行的研討會則關(guān)注體相分析技術(shù),如輝光放電質(zhì)譜(GDMS)。10月19日在上海舉行的研討會涵蓋表面分析技術(shù)(SIMS等)和體相分析技術(shù)(GDMS等)兩個方面,兩個會場全天同時進(jìn)行。

  北京、成都、上海研討會議程

  北京,10月17日,上午8:45~下午5:10,北京世紀(jì)蓮花酒店

  主題:表面分析技術(shù)

  內(nèi)容:EAG與表面分析的介紹;SIMS (1)-SIMS基礎(chǔ)、歷程與意義;X射線光電圖譜(XPS)/俄歇電子圖譜(AES);飛行時間-二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS);SIMS的應(yīng)用;透射電子顯微鏡(TEM);使用SIMS分析粉末半導(dǎo)體——以GaN與SiC為例;基于X射線的分析技術(shù)(XRD、XRF、XRR)。

  成都, 10月17日,上午8:45~下午5:10,成都總府皇冠假日酒店

  主題:體相分析技術(shù)

  內(nèi)容:EAG與表面分析的介紹;GDMS介紹、溶液分析與固體分析的對比;GDMS分析的實例;激光刻蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICPMS)的介紹;基于熔融(或燃燒)的分析技術(shù)(IGA、TGA、DAT、DSC)介紹;EAG針對陶瓷基復(fù)合材料分析的方案。

  上海,10月19日午8:45~下午5:10,上海帝盛酒店

  主題:表面與體相分析技術(shù)

  會場A-表面分析技術(shù)

  內(nèi)容:EAG與表面分析的介紹;SIMS (1) - SIMS基礎(chǔ)、歷程與意義;X射線光電圖譜(XPS)/俄歇電子圖譜(AES);飛行時間 - 二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS);SIMS的應(yīng)用;透射電子顯微鏡(TEM);使用SIMS分析粉末半導(dǎo)體——以GaN與SiC為例;基于X射線的分析技術(shù)(XRD、XRF、XRR)。

  會場B-體相分析技術(shù)

  內(nèi)容:EAG與表面分析的介紹;GDMS介紹、溶液分析與固體分析的對比;GDMS分析的實例;激光刻蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICPMS)的介紹;基于加熱熔融(或燃燒)的分析技術(shù)(IGA、TGA、DAT、DSC)介紹;EAG針對陶瓷基復(fù)合材料分析的方案。

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