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第7屆電子設計創(chuàng)新大會聚焦于高頻和高速電子設計技術

作者: 時間:2019-04-03 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

2019年4月1日,第7屆電子設計創(chuàng)新大會(EDI CON China 2019)今日至3日在北京國家會議中心舉行。大約100家行業(yè)領先企業(yè)參加了展覽。120多場不同形式的會議同期舉行,包括全體會議、技術報告會、贊助商研習會、專家論壇、短期課程和標準/法規(guī)培訓。截止開幕前一天,預注冊人數(shù)已超過4500,預計參會人數(shù)也將創(chuàng)紀錄。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201904/399168.htm

今年的技術報告會和研習會包含以下專題:5G和區(qū)塊鏈技術;5G/先進通信;毫米波技術;射頻/微波放大器設計;電磁兼容/電磁干擾;低功耗射頻和物聯(lián)網(wǎng)、前端設計;電源完整性;雷達和國防;射頻和微波設計;信號完整性;仿真和建模;測試和測量。

全體會議于今日上午10點開幕,來自首席贊助商是德科技、鉆石贊助商羅德與施瓦茨等公司的專家發(fā)表了主旨演講:

●用于網(wǎng)絡設備制造、芯片組和設備的5G測試和測量技術

——是德科技全球5G項目經(jīng)理Roger Nichols

隨著3GPP第15版的發(fā)布,無線通信行業(yè)已開始大規(guī)模生產(chǎn)5G設備、器件并開始初期的部署。本演講探討了未來的主要市場趨勢和挑戰(zhàn),并概述測試和測量解決方案。

●5G新無線電測試和測量挑戰(zhàn)以及應對方法

——羅德與施瓦茨副總裁Alexander Pabst

本演講討論了5G NR OTA挑戰(zhàn),并概述輻射測試環(huán)境的解決方案,以優(yōu)化技術的可行性、測試次數(shù)/周期和投資/維護需求。將討論不同的幾何形狀和外形因素、頻率范圍和環(huán)境條件,以反映3GPP、CTIA、ETSI等相關標準化組織的最新進展。

●射頻、微波和高速電路中的功率相關因素

——Picotest創(chuàng)始人兼CTO Steve Sandler

作為工程師,我們的任務是為我們的射頻、微波和高速數(shù)字電路實現(xiàn)最佳性能。然而,我們經(jīng)常設計、仿真和測量性能,而不考慮電源對這些電路的影響??紤]電源影響意味著什么呢?本演講著眼于電源對射頻、微波和高速數(shù)字系統(tǒng)的多種影響,解釋了我最喜歡的仿真、測量和排除這些復雜問題的技術之一。

主旨演講快結束時,展廳將開放,包括是德科技、羅德與施瓦茨、Mini-Circuits、福聯(lián)集成電路、穩(wěn)懋半導體、四川益豐電子、廈門三安集成電路、ADI、NI、偉博電訊、ANSYS、羅杰斯等在內的行業(yè)領先公司將展示它們的創(chuàng)新產(chǎn)品和方案。今年的展會還將舉辦第二屆EDI CON創(chuàng)新產(chǎn)品獎,該獎項旨在表彰過去一年內對行業(yè)產(chǎn)生重大影響并為下一代電子設計創(chuàng)新提供工具的產(chǎn)品。入圍產(chǎn)品已在展會開始前公布,獲獎者將于4月2日在EDI CON China的展廳中公布。

EDI CON China 2019將舉辦兩場專家論壇,都由Microwave Journal總編Pat Hindle主持。

“5G OTA測試”專家論壇將討論大規(guī)模MIMO、動態(tài)波束賦形以及設備和系統(tǒng)上缺少射頻測試端口如何使得無線(OTA)測試對5G部署至關重要。行業(yè)專家們將討論OTA測試的選項,如近場測量、間接遠場測量和混響室技術。這些技術對5G設備和系統(tǒng)的生產(chǎn)測量非常實用。

在“GaN技術的現(xiàn)狀”專家論壇中,半導體代工廠和設備制造商的專家們將回顧和討論GaN制造技術的現(xiàn)狀,涵蓋可靠性、先進的散熱技術、新的封裝創(chuàng)新、Si與SiC襯底、毫米波GaN器件、將GaN用于其他類型的器件(如開關、LNA、混頻器)等主題,以及中國GaN半導體生產(chǎn)的狀況。

三天的活動將包括很多技術報告會,每場報告的內容都由EDI CON China 2019技術顧問委員會進行了同行評審。今年將包括一個新的專題分會:應用于5G的區(qū)塊鏈技術。本專題包括講座和小組討論,探討區(qū)塊鏈技術應用于5G的新方法,例如5G中大規(guī)模物聯(lián)網(wǎng)的可擴展共識機制、動態(tài)頻譜管理和設備安全性。

EDI CON會議還包括贊助商研習會,涵蓋具體的應用和產(chǎn)品,并提供有關如何在最新電子設計中使用系統(tǒng)、設備以及測試測量、仿真和建模設備的實用建議。展廳中的應用講座(在Frequency Matters Theater)將提供有關最佳設計實踐的見解,向所有與會者開放。

展覽時間:4月1日11:00-17:00;4月2日9:30-17:00;4月3日9:30-13:00。

會議時間:4月1日10:00-17:30;4月2日 9:30-17:00;4月3日9:30-12:30。



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