電子產(chǎn)品壽命模擬中MTTF系統(tǒng)測算法
作者簡介:胡志山(1978—),男,高級工程師,中國電子學(xué)會高級會員。研發(fā)中心光電項目經(jīng)理。
0 引言
在電子產(chǎn)品更新?lián)Q代日趨頻繁的今天,大批量投產(chǎn)前的可靠性測試顯得尤為重要,這其中的壽命評估即MTTF 測算成了一項系統(tǒng)工作,它給予決策者評估產(chǎn)品壽命提供了一個重要的決策支持。由于長期以來對MTTF 的系統(tǒng)測算沒有明確統(tǒng)一的標準,導(dǎo)致難以普遍應(yīng)用。本文將重點介紹MTTF 的系統(tǒng)試驗計算方法,以供實施相關(guān)測算工作時參考。[2]
1 MTTF、FIT及浴盆曲線
電子產(chǎn)品由于零部件質(zhì)量水平及其工況等原因,使用一段時間后會出現(xiàn)失效,對于無法維修的產(chǎn)品來說,失效就意味著壽命的結(jié)束,平均壽命就是平均失效前的時間,也稱平均故障時間MTTF。
MTTF=[T1+T2+Tn+(N-n+1)×Tn]/n ……( 公式1),單位為小時(h)。例如用100 臺產(chǎn)品進行壽命測試,在測試過程中先后發(fā)現(xiàn)有3 臺出現(xiàn)失效,在第30 h 發(fā)現(xiàn)第1 臺,第300 h 發(fā)現(xiàn)第2 臺,最后在第1 000 h 發(fā)現(xiàn)第3 臺。那么n=3,T1=30,T2=300,Tn=1 000, 則MTTF=[30+300+(100-3)×1000]/3=32 776.66 h。
平均故障時間MTTF 是一個可靠性的度量方法,MTTF 的倒數(shù)就是故障率, 一般以每10 億小時發(fā)生的故障數(shù)量計算,用FIT 表示。由該定義可知1/MTTF=FIT/109,所以1FIT=1/109,意為:109 h 壞了1 臺,故障率為1 FIT。
通過老化試驗就可以獲得FIT 隨時間的變化關(guān)系,這種變化關(guān)系曲線就是“浴盆曲線”。如圖1 所示,早期故障率比較高,隨著時間的推移進入故障率相對穩(wěn)定期,即偶發(fā)故障期。再往后故障率FIT 值又開始升高,進入損耗故障期。早期故障期通??梢栽诠S內(nèi)部進行老化度過,偶發(fā)故障期是故障率相對穩(wěn)定的時間段,處在產(chǎn)品的正常使用階段。損耗故障期故障率不斷升高,產(chǎn)品逐漸失效或報廢。[3]
圖1 浴盆曲線
2 高溫加速老化試驗及計算公式
MTTF 的數(shù)據(jù)來源于壽命老化的模擬試驗(下文簡稱“老化試驗”)。老化試驗經(jīng)常會遇到一個很實際的問題,產(chǎn)品的老化試驗不可能在常溫下做幾年甚至幾十年,那么怎么辦呢?這就需要做加速老化試驗,而高溫加速試驗又是最常用的辦法,那么問題又來了,高溫老化的時間如何確定?也就是高溫老化時間和常溫的關(guān)系如何換算?
根據(jù)多年的工作經(jīng)驗并借鑒一些中外知名單位的計算方法,積累出以下3 種經(jīng)驗公式。
2.1 已知壽命要求計算高溫老化時間
該方法是已知常溫下產(chǎn)品壽命的要求值Time1,用高溫K2 與K1 的差值代入公式便可以求出高溫老化的時間Time2。這里要注意高溫溫度的選擇要合適,需要符合產(chǎn)品工作要求,確保在該溫度下沒有破壞性的損壞。正常電子產(chǎn)品可以取60~80 ℃。
2.2 根據(jù)高低溫度值利用阿倫尼斯(Arrhenius)模型計算出時間關(guān)系
將設(shè)定的高溫老化的溫度值(計算時需要轉(zhuǎn)換成絕對溫度)以及常溫值代入公式2 中,可以計算出溫度加速因子TAF。該因子的意義是:高溫工作A h,相當于常溫A×TAF h。
Ea 為失效反應(yīng)的活化能(eV),一般電子產(chǎn)品取值0.6 ~ 0.7。k 為常數(shù)8.62×105,K1 為常溫的絕對溫度值,K2 高溫絕對溫度值。
3.3 溫濕度加速因子計算法
有時候不但要用高溫加速老化還要同時配合高濕度加速試驗,這個時候就需要用公式3,該公式就是公式2 與高濕度因子公式的乘積。H2 為高濕度值,H1 為正常濕度值。HAF 為高濕度加速因子。該公式的意義就是高溫工作A h,常溫為A×AF h。
表1 計算表格
3 測算實例
3.1 試驗準備
試驗前根據(jù)具體的樣品設(shè)定好合適的高溫溫度值,代入到公式2 中,求出TAF 值后根據(jù)實際期望設(shè)定好高溫加速試驗時間,再折算成常溫時間。再根據(jù)試驗樣品總數(shù),故障樣品數(shù)量,求出MTTF 與FIT 以及年索賠率和預(yù)估年限。將函數(shù)公式分別填入EXCEL表格里。例如:記錄試驗開始時間T0,以及第一個樣品的損壞時間T1,第二樣品損壞的時間T2, 依此類推直到設(shè)定的試驗時間完成。
3.2 EXCEL表格實例
表1 中白色背景的單元格是需要我們填寫和記錄的值,其余藍色背景的單元格為自動計算的數(shù)據(jù),直接讀取就可以。試驗前需要在C2 單元格填寫試驗樣品總數(shù)。試驗過程中記錄故障數(shù)量和出現(xiàn)故障的時間點,比如試驗開始時間為T0,發(fā)現(xiàn)第一個樣品損壞的時間為T1 那么就在F2 單元格記錄T1-T0 的值,用同樣的方法記錄接下來發(fā)現(xiàn)故障樣品的時間以及故障樣品數(shù)量。這樣該行其它藍色背景的單元格就會自動計算出MTTF、FIT、預(yù)估年限等值。
3.3 單元格公式
將前述相關(guān)計算公式具體填寫到EXCEL 單元格中去,具有事半功倍的作用(如表2~ 表4)。
3.4 導(dǎo)出“浴盆曲線”
根據(jù)EXCEL單元格填入的試驗數(shù)據(jù)導(dǎo)出浴盆曲線,評估試驗結(jié)果(如表5)。[4]
表2 單元格公式1
表3 MTTF列單元格公式
表4 單元格公式2
表5 導(dǎo)出浴盆曲線
表5 中,280 h 前為產(chǎn)品早期故障期,20 年后為損耗故障期。中間部分為正常使用的有效壽命期,這一階段產(chǎn)品故障率相對穩(wěn)定。由此可知,我們的產(chǎn)品在出廠前要做好老化工作,讓其度過早期故障期。
3.5 參照標準[5]
參照ISO13849 對MTTFFd( 等同于這里的MTTF)的失效風險評估(如表7)。
表7 ISO13849關(guān)于失效時間的定義
4 結(jié)語
新產(chǎn)品的壽命模擬評估已經(jīng)引起了很多單位的重視,未來會將MTTF 計算系統(tǒng)與高溫老化設(shè)備及電腦終端組建自動化測試系統(tǒng),將使產(chǎn)品壽命模擬測試更加直觀和智能化。
參考文獻:
[1] 胡志山.射頻印刷電感替代低值空心電感的探索[J].電子產(chǎn)品世界,2015(1):54-56.
[2] 胡志山.射頻寬帶產(chǎn)品的指壓調(diào)試法[J].電子世界,2014(17):139-140.
[3] 朱曉燕,曹晉紅.浴盆曲線在可靠性設(shè)計和管理中的應(yīng)用[J].中國質(zhì)量,2007(7):25.
[4] 江玉彬.浴盆曲線在通信電源設(shè)備管理中的應(yīng)用[J].通信電源技術(shù),2013(1):11.
[5] 國際標準化組織.控制系統(tǒng)中與安全[S].ISO 13849-1-2006.
(本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年3月期)
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