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基于NI采集卡和LabVIEW設(shè)計(jì)的濾波器測量裝置

作者:鹿文龍(陜西電器研究所 陜西西安710075) 時間:2022-03-03 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
編者按:傳感器設(shè)計(jì)時為了滿足輸出信號的頻率響應(yīng)要求,需要設(shè)計(jì)高階濾波器對信號進(jìn)行濾波處理。由于實(shí)際生產(chǎn)中器件存在誤差等原因,需要測試濾波器的頻率響應(yīng)特性,以確定具體參數(shù)是否滿足要求。本文基于LabVIEW和NI高速采集卡設(shè)計(jì)出高頻濾波器測量裝置,可實(shí)現(xiàn)自動測量和批量測試,對傳感器批量生產(chǎn)具有重要意義。


本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/202203/431653.htm

1   概述

在傳感器信號調(diào)理電路或者其他信號電路設(shè)計(jì)過程中,受應(yīng)用場景或電磁環(huán)境的限制,需要電路滿足一定的頻率響應(yīng)要求。比如測量較高頻率的壓力傳感器需要設(shè)計(jì)低通濾波器,對通帶頻率、帶內(nèi)波動和帶外衰減有嚴(yán)格限制。實(shí)際生產(chǎn)中,由于電阻阻值和電容容值存在誤差、放大器存在失調(diào)電壓等原因,濾波的實(shí)際參數(shù)與設(shè)計(jì)值存在偏差。傳統(tǒng)方法使用信號源和示波器在不同頻率下逐個測試,存在測試效率低、易受干擾、測量精度低等缺點(diǎn)。本文基于(一款圖文編程平臺)和NI(美國國家儀器公司)高速采集卡設(shè)計(jì)出一款參數(shù)可調(diào)、可自動掃頻、自動計(jì)算的濾波器測量裝置,并可實(shí)現(xiàn)多路同步測量。

2   傳感器濾波器設(shè)計(jì)

傳感器的濾波器分為無源濾波器和有源濾波器,無源濾波器是通過電阻或電感與電容組成濾波電路,形成對一定頻率高次諧波的吸收通道,從而實(shí)現(xiàn)濾波作用。無源濾波器結(jié)構(gòu)簡單,但是精度不高,而且濾波效果有限。有源濾波器是基于運(yùn)算放大器和阻容元件設(shè)計(jì)的濾波器,有源濾波器可以補(bǔ)充主電路的諧波,并可克服無源濾波器的諧波抑制和無功補(bǔ)償?shù)娜秉c(diǎn)。

以壓力傳感器為例,在測量較高頻率的壓力信號時,為了消除測量頻率以外的雜波信號的干擾,同時保證測量頻帶范圍內(nèi)有效信號的穩(wěn)定性,需要設(shè)計(jì)低通濾波器對傳感器進(jìn)行濾波。比如要求通帶截止頻率為1 kHz,通帶范圍內(nèi)的信號不平度小于1 dB,而阻帶頻率不大于5 kHz,阻帶信號衰減不小于-40 dB。顯然普通的無源濾波器無法滿足指標(biāo)要求,需要設(shè)計(jì)高階有源濾波器。

基于以上指標(biāo)設(shè)計(jì)出的有源如圖1 所示。設(shè)計(jì)的濾波器由4 只運(yùn)算放大器和阻容元件組成,每只運(yùn)算放大器構(gòu)成一個2 階低通濾波電路,共同組成一個8 階低通濾波器。該濾波器屬于巴特沃茲型sallenkey式[1],圖2 為該濾波器的幅頻和相頻曲線。從圖中可以看出該濾波器通帶內(nèi)頻響曲線平坦,阻帶曲線迅速下降,具有巴特沃茲濾波器的典型特征。

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圖1 sallen-key 8階低通濾波器原理圖

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圖2 8階低通濾波器頻率響應(yīng)曲線圖

該濾波器是基于理想運(yùn)算放大器模型和理想阻容值得到的[2],其頻率響應(yīng)曲線非常理想。實(shí)際中為了減小偏差,選擇較高精度的阻容器件和高精度的運(yùn)算放大器。電阻選擇較高精度的E192 系列電阻,電容選擇E12 系列電容,運(yùn)算放大器選擇OPA4228。OPA4228 是一款四路高精度低噪聲運(yùn)算放大器,工作電流3.7 mA,噪聲小于3 nV/Hz,溫漂小于0.3 uV/℃?;趯?shí)際元器件搭建的8 階低通濾波器如圖3 所示,通過仿真獲得該濾波器的幅頻特性曲線[3]如圖4 所示。從圖4 可以看出該濾波器在1 kHz 處衰減為-3.03 dB,5 kHz 處衰減頻率為-111.88 dB,滿足通帶截止頻率1 kHz,阻帶衰減大于-40 dB 的要求。

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圖3 8階低通濾波器頻率響應(yīng)曲線圖

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圖4 Tina仿真幅頻特性曲線圖

3   濾波器測試

在實(shí)際生產(chǎn)中,電阻、電容都存在阻值和容值偏差,E192 系列電阻偏差為0.5%,E12 系列電容偏差為10%,而且放大器也存在一定的失調(diào)電壓,電路板存在耦合電容、分布電容等原因,高階濾波器的頻率特性與仿真情況會有一定偏差。因此需要對濾波器進(jìn)行實(shí)際測試,滿足指標(biāo)要求的方可用于產(chǎn)品。傳統(tǒng)的測試方法如圖5 所示,由信號發(fā)生器產(chǎn)生一定頻率的正弦波信號注入濾波器電路板,通過示波器兩個通道分別測試注入信號和濾波器輸出信號的幅值,然后按照公式(1)計(jì)算得到測試頻率點(diǎn)的信號衰減dB 值。該方法只能通過手動調(diào)節(jié)信號發(fā)生器輸出頻率來測量不同頻率下濾波器的響應(yīng),無法測量所有頻率點(diǎn),只能挑選個別點(diǎn)進(jìn)行驗(yàn)證。這種方法的測量效率低,可測頻率點(diǎn)受限,測量準(zhǔn)確性不高。

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(注:dB 為信號衰減率,Ai 為注入信號幅值,Ao為輸出信號幅值)

4   

NI 推出的高速采集卡具有集成式信號調(diào)理功能,可同時輸出、采集多路模擬電壓信號,可通過USB 與上位機(jī)連接。并可通過NI 的圖形編輯軟件設(shè)置操作NI-DAQmx驅(qū)動, 實(shí)現(xiàn)針對性測試。

該高階濾波器自動測量裝置選擇NI 的USB(通用串行總線)-6281 型數(shù)據(jù)采集卡,采樣位數(shù)18 位,16 路差分信號輸入,采樣范圍-5 V ~ +5 V,數(shù)據(jù)采集速度500 kS/s,單路采樣頻率高于60 kHz,采樣精度0.05%,可同時配置為信號發(fā)生器和信號采集器。

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圖5 傳統(tǒng)濾波器測試實(shí)物圖

5   濾波器自動測量裝置設(shè)計(jì)

基于LabVIEW 設(shè)計(jì)高階濾波器自動測量裝置的信號發(fā)生器部分設(shè)計(jì)如圖6 所示。該模塊可以將采集卡固定通道配置為正弦信號發(fā)生器。其輸出幅值和輸出頻率均可通過軟件設(shè)置。

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圖6 信號發(fā)生器軟件設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)

信號采集部分如圖7 所示,將采集卡的輸入通道配置為模擬電壓信號采集方式,對采樣方式、采樣頻率、采樣點(diǎn)數(shù)都可進(jìn)行配置。該部分通過輸出控件顯示采樣結(jié)果,并可對采集通道進(jìn)行多路配置實(shí)現(xiàn)多路信號同時測量。

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圖7 信號采集器軟件設(shè)計(jì)圖

設(shè)計(jì)中還可以將軟件設(shè)置為連續(xù)掃頻模式,由自動變量在規(guī)定頻率范圍內(nèi)自增,同步采集并記錄數(shù)據(jù),然后由計(jì)算單元對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,最后將計(jì)算結(jié)果顯示在用戶界面。測試人員可以方便地得到帶內(nèi)不平度、帶外衰減、通帶截止頻率、阻帶頻率等有效數(shù)據(jù),并可以通過指示燈的顏色判斷是否合格。軟件的掃頻單元和計(jì)算單元如圖8、圖9 所示。

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圖8 掃頻單元圖

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圖9數(shù)據(jù)計(jì)算處理單元圖

軟件的操作界面簡潔明了,便于測試人員使用,如圖10 所示。

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圖10操作軟件界面圖

6   多路

如圖11 所示,通過數(shù)字穩(wěn)壓源同時為多個高階濾波器供電,將采集卡的信號發(fā)生器通道注入高階濾波器的信號輸入端,各濾波器的信號輸出端分別接至采集卡的各信號采集通道,通過采集軟件自動掃頻測量,同時得到多塊濾波器的測試結(jié)果[4-5]。從而實(shí)現(xiàn)了對多個高階濾波器的,提高了測試效率。

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7   結(jié)論

本文提出的高階濾波器測量裝置,可以通過軟件自動測量濾波器的多個參數(shù),通過配置可以同步多路測量。相對于傳統(tǒng)的測量方式,提高了濾波器的測量自動化程度和測量效率。對提高濾波器和傳感器的測試和批量生產(chǎn)具有重要意義。

參考文獻(xiàn):

[1] 李鐘慎,洪健.基于改進(jìn)型Butterworth傳遞函數(shù)的高階低通濾波器的有源設(shè)計(jì)[J].電子測量與儀器學(xué)報,2008,22(1).86-89.

[2] 曾喆昭,李仁發(fā).高階帶通濾波器設(shè)計(jì)研究[J].通信學(xué)報,2001,22(10).99-103.

[3] 肖有平,胡霞.高階橢圓濾波器的設(shè)計(jì)與仿真[J].電子測量技術(shù),2007,30(3).147-150.

[4] 李紅剛,張素萍. 基于單片機(jī)和LabVIEW的多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J].國外電子測量技術(shù),2014,33(4).62-67.

[5] 梁志超.通用多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D].西安:西安電子科技大學(xué)學(xué)報,2010

(本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2022年2月期)



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