2022 Electronica 展會的 Seica：11月15日至18日,德國慕尼黑-展位A3-459

Seica是客戶尋找前沿解決方案的地方，在2022年Electronica展會A3-459展位上，他們將重點介紹旨在提供便利的、可持續(xù)的、同時強(qiáng)大的“可測試性設(shè)計”的創(chuàng)新解決方案。

可測試性設(shè)計

 “可測試性設(shè)計”是電路板設(shè)計領(lǐng)域的一個眾所周知的概念，也是設(shè)計工程師每天必須處理的眾多要求之一。他們?nèi)粘９ぷ鞯牧硪粋€方面是設(shè)計驗證，特別是測試原型，所有這些都是在如今產(chǎn)品生命周期加速所帶來的市場限制的時間內(nèi)進(jìn)行的：從概念到設(shè)計，到原型，再到生產(chǎn)，再到遺留問題修復(fù)。

Seica的Pilot VX擁有一套廣泛的測量硬件和軟件工具，能夠以最小的工作量快速測試和驗證原型。當(dāng)提到飛針測試儀時，首先想到的肯定是小批量測試，盡管Pilot VX所代表的最新一代測試儀由于速度和性能的顯著提高，已成為許多大批量生產(chǎn)環(huán)境中的關(guān)鍵。但Seica增加了許多功能和工具，專門解決設(shè)計師在測試原型時的需求。

對電路施加激勵并測量結(jié)果是對電路物理訪問的基本要求。PILOT VX能夠探測20μm焊盤，即使是非常小的目標(biāo)，也可以精確地物理訪問，強(qiáng)大的Flylab軟件允許您與電路板“互動”，就像您手中有八個探針和一張可用的儀器表，可以隨時用于執(zhí)行驗證測試一樣，無需對測試人員進(jìn)行專門培訓(xùn)或生成測試程序。可以使用集成攝像頭并點擊圖形板圖像手動選擇接觸點，然后簡單直觀的軟件界面通過簡單選擇測量類型并輸入值來實現(xiàn)參數(shù)和功能測量。系統(tǒng)自動定位移動探針，測量結(jié)果顯示在集成示波器上。此外，飛針上電測試功能還提供了為電路板（每個探針最多2A個）提供所有8個標(biāo)準(zhǔn)電子探針的能力，以實現(xiàn)有源電路測試和其他功能測試，這些測試是設(shè)計驗證過程的重要組成部分。紅外熱掃描配件是另一個有用的驗證工具，允許用戶獲取通電板的配置文件，以檢查電路各個部分的熱行為。

當(dāng)然，SEICA的VIVA軟件平臺還包括一個快速、簡化的過程，從電路板CAD數(shù)據(jù)開始自動生成和調(diào)試完整的測試程序，從而能夠立即測試原型電路板，以檢測任何制造錯誤。功能測試可以通過功能強(qiáng)大的QuickTest軟件輕松創(chuàng)建，只需了解待測電路（不一定是測試儀或編程語言）。移動連接器配件通過專用的單個移動探針來攜帶多達(dá)10個通道，可以訪問邊界掃描電路，并在無需任何外部固定電纜的情況下增加在板編程功能，從而進(jìn)一步擴(kuò)展了測試能力。

設(shè)計師通常必須實施最初的功能測試規(guī)范，而Seica的 MINI Line測試解決方案提供了廣泛的集成儀器、開關(guān)矩陣和用戶電源，使其成為開發(fā)定制測試基準(zhǔn)的一個非常有用且具有成本效益的平臺。用戶可以自由選擇配置和編程語言：Seica的VIVA集成平臺（VIP?) 能夠輕松集成現(xiàn)成的儀器，可以使用VIVA Test Studio環(huán)境或廣泛的第三方軟件（包括LabView?、TestStand?、C和Python）開發(fā)測試序列。與自制的“機(jī)架堆疊式”測試臺不同，Seica的MINI測試解決方案具有標(biāo)準(zhǔn)的“核心”VIP? 包括完整的用戶文檔和自我診斷程序，確保其隨時間和資源周轉(zhuǎn)的可持續(xù)性和可維護(hù)性。此外，在MINI上開發(fā)的程序完全可移植到其他SEICA系統(tǒng)，這有助于快速輕松地設(shè)置制造測試過程。

PILOT和MINI測試解決方案（與所有SEICA系統(tǒng)一樣）包括支持每個單板測試結(jié)果完全可追溯性的特性和性能，使其可用于后續(xù)維修操作、統(tǒng)計分析等，并通過常駐維修站軟件模塊或外部信息系統(tǒng)將其存儲在本地。Pilot VX添加了更多信息，因為它包括收集和存儲測試探針在測試板上每個點上施加的機(jī)械壓力數(shù)據(jù)的能力，使其可用于可視化、圖形化和統(tǒng)計分析。

來自機(jī)器的額外數(shù)據(jù)的采集和數(shù)字化是Canavisia工業(yè)4.0解決方案的一部分，SEICA展臺的參觀者將看到儀表盤和APP提供了連接資源的實時視圖以及統(tǒng)計報告。

來參觀A3-459展位，看看SEICA為幫助您驗證原型而開發(fā)的各種前沿解決方案，盡可能減少工作量，最大限度地快速返回可跟蹤數(shù)據(jù)。