新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 搞定電路設(shè)計(jì)之高精度、寬帶寬電流測量信號(hào)鏈

搞定電路設(shè)計(jì)之高精度、寬帶寬電流測量信號(hào)鏈

作者: 時(shí)間:2023-02-15 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

為數(shù)據(jù)處理、網(wǎng)絡(luò)、便攜式、可穿戴和其他計(jì)算應(yīng)用設(shè)計(jì)并優(yōu)化電源解決方案,需要對(duì)電壓和電流進(jìn)行精確、寬帶、高動(dòng)態(tài)范圍的測量。這些系統(tǒng)可能包含一個(gè)、數(shù)十個(gè)或數(shù)百個(gè)中央處理單元(CPU)、圖形處理單元 (GPU)、網(wǎng)絡(luò)接口、存儲(chǔ)硬件和各種支持電路。為了響應(yīng)不斷變化的系統(tǒng)需求,這些電路可能在幾微秒內(nèi)從消耗數(shù)微安電流的空閑狀態(tài)轉(zhuǎn)換到消耗數(shù)百安培電流的滿載狀態(tài)。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/202302/443377.htm

自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)測試解決方案和功率分析儀通常使用多個(gè)通道來精確捕獲電流、電壓或功率曲線,并在更寬帶寬上測量諧波。此外,低壓電源軌具有嚴(yán)格的噪聲要求,必須在不同的負(fù)載條件、溫度下進(jìn)行表征,并考慮旁路電容隨時(shí)間的退化。

圖1所示ADI電路提供了一個(gè)完整的寬范圍電流測量系統(tǒng),適合這些具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。精度、帶寬和漂移性能與適用于生產(chǎn)測試環(huán)境的臺(tái)式和機(jī)架安裝式測試設(shè)備處于同一水平。同時(shí),該解決方案足夠小,可以集成到這些需要持續(xù)監(jiān)控的應(yīng)用中。當(dāng)對(duì)快速瞬變和小信號(hào)電平進(jìn)行數(shù)字化處理時(shí),15MSPS的采樣速率大大放寬了抗混疊濾波器要求并最大限度地提高了帶寬。為了適應(yīng)所執(zhí)行的特定測量,可以應(yīng)用額外的過采樣來權(quán)衡噪聲和帶寬。

image.png

圖1 ADI EVAL-CN0560-FMCZ簡化功能框圖

評(píng)估和設(shè)計(jì)支持

■   電路評(píng)估板

■   CN0560參考設(shè)計(jì)板(EVAL-CN0560-FMCZ)

■   SDP-H1開發(fā)平臺(tái)(EVAL-SDP-H1)

■   設(shè)計(jì)和集成文件

■   原理圖、布局文件、物料清單

電路描述

ADI CN0560使用分流電阻、板載放大器和μModule?的組合提供三個(gè)電流量程的高精度測量。盡管有尺寸限制,該解決方案不僅增加了每片電路板的通道數(shù)量,緩解了熱挑戰(zhàn),減輕了自熱引起的系統(tǒng)漂移校準(zhǔn)負(fù)擔(dān),而且優(yōu)化了整體精度性能。CN0560非常適合于自動(dòng)化測試設(shè)備、電源(如CPU/GPU供電軌中)監(jiān)控和分析儀中使用的測試儀器。

最常見的電流測量技術(shù)包含分流電阻、模擬前端(AFE)和模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC),然后是微控制器或現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)。CN0560提供寬帶寬前端,并將分流電阻上產(chǎn)生的小差分電壓轉(zhuǎn)換為較大電壓來饋送,然后將其數(shù)字化。

●   電流輸入

CN0560能夠測量三種電流輸入范圍:10μA、10mA和10A。電流輸入范圍通過控制高電壓、防閂鎖、低毛刺、快速建立的多路復(fù)用器ADG5209來選擇(通過A0、A1);根據(jù)板載跳線的配置方式,可以手動(dòng)或通過軟件進(jìn)行設(shè)置。表1顯示了每個(gè)電流量程的跳線配置。圖2顯示了10μA電流量程的簡化CN0560評(píng)估設(shè)置。

施加來自電流源的10μA、10mA和10A已知電流,使用萬用表通過電壓檢測墊測量每個(gè)分流電阻(0.05Ω、5Ω和5kΩ)上產(chǎn)生的差分電壓。通過每個(gè)分流電阻的電流產(chǎn)生50mV的最大電壓降。該電壓由ADA4898-1 放大器(默認(rèn)增益為40)放大,然后饋入ADAQ23878 μModule?的差分輸入。

表1 電流量程選擇

電流量程

A0

A1

10μA

1

1

10mA

0

0

10A

1

0

image.png

圖2 簡化評(píng)估測試設(shè)置,10μA范圍

將每個(gè)分流電阻上的電壓讀數(shù)與μModule輸出端的實(shí)際電壓讀數(shù)進(jìn)行比較。該電路的整體精度受多個(gè)誤差源影響,包括分流器、放大器和μModule的電阻溫度系數(shù)(TCR),以及電流源或萬用表本身的精度。然而,分流電阻的選擇在決定該電路的精度方面起著主導(dǎo)作用。圖3和圖4顯示了分流電阻對(duì)CN0560的影響。

image.png

圖3 CN0560 FFT,無過采樣(使用分流電阻)

image.png

圖4 CN0560 FFT,OSR為256(使用分流電阻)

●   輸入保護(hù)

36V雙向瞬態(tài)電壓抑制器(TVS)二極管和100Ω電阻保護(hù)分流器輸入,使其免受靜電放電(ESD)沖擊和過壓狀況的影響。多路復(fù)用器輸入可直接承受高達(dá)+/-15V的輸入電壓;高于此的電壓會(huì)產(chǎn)生額外的電流,受100Ω電阻的限制。

●   增益級(jí)

在選定多路復(fù)用器輸入之后有兩個(gè)低噪聲、高速放大器 ADA4898-1,以及驅(qū)動(dòng)ADAQ23878信號(hào)鏈μModule的四通道精密匹配電阻網(wǎng)絡(luò)LT5400。LT5400-7提供0.2ppm/°C的匹配漂移和0.01%的電阻匹配,工作溫度范圍很寬,CMRR優(yōu)于獨(dú)立匹配電阻。默認(rèn)情況下,使用外部增益設(shè)置電阻將兩個(gè)ADA4898-1放大器設(shè)置為增益40的全差分配置。40倍增益在ADAQ23878的輸入端產(chǎn)生2.0V的滿量程電壓,當(dāng)ADAQ23878配置為+/-2.048V范圍時(shí),SNR得以最大化。

●   數(shù)字化前端

圖1中的一個(gè)關(guān)鍵模塊是ADAQ23878 μModule,它包括一個(gè)低噪聲、全差分放大器(FDA)、一個(gè)穩(wěn)定的基準(zhǔn)電壓緩沖器、一個(gè)15MSPS 18位逐次逼近型ADC,以及實(shí)現(xiàn)優(yōu)化性能所需的關(guān)鍵無源元件。

ADAQ23878 μModule是一種系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP)解決方案,可提供精密性能,減少終端系統(tǒng)元件數(shù)量,并在電路板空間約束下提高通道密度。它還緩解了與電流測量測試設(shè)備相關(guān)的校準(zhǔn)負(fù)擔(dān)和熱挑戰(zhàn),但沒有與高集成度專用集成電路(ASIC)相關(guān)的高成本。

FDA周圍的精密電阻陣列采用ADI專有的iPassives?技術(shù)構(gòu)建。這消除了電路不平衡,減少了寄生效應(yīng),提供高達(dá)0.005%的出色增益匹配,并實(shí)現(xiàn)了0.13ppm/°C的優(yōu)化漂移性能。與分立無源元件相比,iPassives技術(shù)還有尺寸優(yōu)勢,可最大限度地減少與溫度相關(guān)的誤差源并減輕系統(tǒng)級(jí)校準(zhǔn)負(fù)擔(dān)。

FDA提供快速建立時(shí)間、寬共模輸入范圍以及精確的可配置增益選項(xiàng)(0.37、0.73、0.87、1.38和2.25),允許進(jìn)行增益或衰減調(diào)節(jié),支持全差分或單端轉(zhuǎn)差分輸入。

●   過采樣和抗混疊

ADAQ23878的高精度性能與高采樣速率相結(jié)合,可降低噪聲并支持過采樣,以實(shí)現(xiàn)極低的RMS噪聲并在寬帶寬內(nèi)檢測小幅度信號(hào)。

使用4.096V基準(zhǔn)電壓并在輸入短接地的情況下進(jìn)行測量,ADAQ23878的典型動(dòng)態(tài)范圍約為89dB,如圖5所示。由于許多電流測量應(yīng)用的帶寬低于7.5MSPS,因此可以應(yīng)用過采樣來提高動(dòng)態(tài)范圍。

image.png

圖5 無過采樣的FFT(輸入短路)

過采樣是指以比兩倍信號(hào)帶寬(滿足奈奎斯特標(biāo)準(zhǔn)所必需)快得多的速度進(jìn)行采樣。以兩倍信號(hào)帶寬采樣時(shí),模擬抗混疊濾波器存在嚴(yán)格的限制,因?yàn)槿魏胃哂?img src="http://editerupload.eepw.com.cn/202302/1676443247211335.png" title="1676443247211335.png" alt="image.png"/>的噪聲或干擾音都會(huì)混疊進(jìn)入通帶?;殳B的傳統(tǒng)解決方案是使用高階濾波器,但這需要權(quán)衡精度、通帶紋波、阻帶抑制、群延遲和功耗。低采樣率還將ADC的所有量化和熱噪聲集中在信號(hào)頻帶中。過采樣有兩方面效應(yīng):

■   模擬抗混疊濾波器可能有更高的截止頻率和/或更低的階數(shù)。

■   ADC噪聲分布在寬得多的帶寬上,帶內(nèi)噪聲得以降低。

image.png

圖6 過采樣對(duì)抗混疊濾波器要求的影響

圖6說明了過采樣的影響??捎眯盘?hào)帶寬為image.png,模擬濾波器的截止頻率可以提高到image.png。信號(hào)通帶遠(yuǎn)低于模擬濾波器的過渡帶,從而將通帶紋波的影響降至最低。信號(hào)通帶響應(yīng)以數(shù)字低通濾波器的響應(yīng)為主,該響應(yīng)在整個(gè)溫度范圍內(nèi)具有確定性和穩(wěn)定性,并且對(duì)元件容差不敏感(與模擬濾波器不同)。大部分?jǐn)?shù)字濾波器會(huì)將輸出數(shù)據(jù)抽取到較低的速率,從而降低數(shù)據(jù)處理要求。例如,級(jí)聯(lián)積分梳狀(CIC)濾波器輸出的抽取因子等于OSR。

過采樣帶來的動(dòng)態(tài)范圍(DR)改善幅度可以使用公式1計(jì)算。

image.png

其中:OSR為過采樣數(shù)據(jù)速率。

過采樣每增加4倍,分辨率就會(huì)增加1位,或者動(dòng)態(tài)范圍增加6dB。對(duì)ADAQ23878的輸出進(jìn)行256倍的過采樣會(huì)產(chǎn)生58.594kSPS (15MSPS/256)的輸出數(shù)據(jù)速率。對(duì)于不同增益選項(xiàng),這對(duì)應(yīng)于29.297kHz的信號(hào)帶寬和接近111dB的動(dòng)態(tài)范圍,因此它能精確檢測幅度非常小的μV信號(hào),如圖7所示。

image.png

圖7 OSR為256的FFT(輸入短路)

●   差分驅(qū)動(dòng)ADAQ23878

選擇ADA4898-1前端放大器是因?yàn)樗哂袑拵?、高壓擺率、低噪聲或失真特性。它還能以15MSPS的全速輕松驅(qū)動(dòng)ADAQ23878的低輸入阻抗,并實(shí)現(xiàn)優(yōu)化性能。

●   基準(zhǔn)電壓

ADAQ23878內(nèi)置一個(gè)2.048V、20ppm/°C基準(zhǔn)電壓源(REF)和一個(gè)基準(zhǔn)電壓緩沖器(REFBUF),后者相對(duì)于REF具有2倍的固定增益?;鶞?zhǔn)電壓緩沖器的4.096V輸出決定了ADAQ23878的滿量程輸入范圍。

在需要較低漂移的應(yīng)用中,REF或REFBUF都可以過驅(qū)。CN0560包括從板載2.048V ADR4520過驅(qū)REF的選項(xiàng),其初始精度為0.025%,漂移為2ppm/°C。或者,板載LTC6655可以過驅(qū)REFBUF,其初始精度為0.025%(最大值),溫度系數(shù)為2ppm/°C(最大值)。

●   電源樹

EVAL-CN0560-FMCZ使用帶有FPGA夾層卡(FMC)連接器的FPGA控制器板進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。板上的所有電源軌均由源自控制器板的3.3V電壓軌生成。電源樹是利用系統(tǒng)級(jí)電源架構(gòu)設(shè)計(jì)工具LTpowerPlanner?設(shè)計(jì)的。

圖8顯示了CN0560電源樹的框圖。兩個(gè)LTM8049雙通道SEPIC或反相μModule DC/DC轉(zhuǎn)換器從3.3V電源軌產(chǎn)生+7V、-2.5V、+15.5V 和 -15.5V電壓軌。LT3023雙通道、低噪聲、微功耗LDO從 +7V產(chǎn)生+5V和+6.5V電壓軌,而ADP7185超低噪聲LDO從-2.5V產(chǎn)生-2V電壓軌。

+6.5V和-2V電壓軌用于ADAQ23878的集成FDA,而+5V電壓軌用于LTC6655以產(chǎn)生4.096V基準(zhǔn)電壓。來自第二LTM8049的+15.5V和-15.5V兩個(gè)電壓軌被饋送到LT3032雙通道LDO,為ADA4898-1和ADG5209產(chǎn)生+15V和-15V電壓軌。低噪聲LDO ADP7118為ADR4520生成+2.5V電壓軌,以產(chǎn)生2.048V基準(zhǔn)電壓。CN0560的總功耗約為910mW,不包括分流電阻的功耗。

image.png

圖8 電源簡化框圖

●   PCB布局布線

印刷電路板(PCB)布局對(duì)于保持信號(hào)完整性和實(shí)現(xiàn)最佳性能至關(guān)重要。圖9顯示了CN0560板信號(hào)鏈部分的PCB布局。此電路板布局使用內(nèi)置開爾文連接的四端子分流電阻,與兩端子分流電阻相比,它能降低TCR效應(yīng)并提供更高的溫度穩(wěn)定性。

必須使用帶開爾文連接的四端子電流檢測電阻,將流過分流電阻的高電流保持在檢測路徑之外。流過電阻的高電流和電壓測量分別有單獨(dú)的終端,這有助于最大限度地提高測量精度。

為每個(gè)校準(zhǔn)電流都實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)檢測布局。對(duì)于阻值非常低的電阻(5mΩ或更小),焊盤上檢測點(diǎn)的物理位置和流過電阻的電流的對(duì)稱性更為重要。例如,具有開爾文連接的四端子高精度金屬箔電阻(5mΩ)用于10A電流量程。該電阻的TCR為± 0.05ppm/°C,容差為0.1%,尺寸非常小(<10mm x 10mm),因此沿焊盤的每毫米電阻都會(huì)影響有效電阻。

image.png

圖9 信號(hào)鏈的PCB布局

建議使用多層板,ADAQ23878 μModule下方第一層中應(yīng)有干凈的內(nèi)部接地層。電路板上的各個(gè)元件和各種信號(hào)的布線也必須小心放置。此外,輸入和輸出信號(hào)的布線最好對(duì)稱。

μModule的接地引腳必須使用多個(gè)過孔直接焊接到PCB的接地層。此外,必須移除μModule輸入和輸出引腳下方的接地層和電源層,以避免出現(xiàn)干擾寄生電容。任何干擾寄生電容都可能影響信號(hào)鏈的失真和線性度性能。敏感的模擬部分和數(shù)字部分必須在PCB上分開,同時(shí)使電源電路遠(yuǎn)離模擬信號(hào)路徑??焖匍_關(guān)信號(hào)(比如CNV±或CLK±)以及數(shù)字輸出DA±和DB±不得靠近或越過模擬信號(hào)路徑,以防噪聲耦合到μModule。

板載LDO的輸出端應(yīng)添加至少2.2μF (X5R)的優(yōu)質(zhì)陶瓷旁路電容,以最大限度地降低電磁干擾(EMI)敏感度,并減少毛刺對(duì)電源線的影響。所有其他必需的旁路電容都包含在ADAQ23878中,從而節(jié)省電路板空間并降低成本。

常見變化

具有+2倍固定增益的ADAQ23875和具有與ADAQ23878類似增益選項(xiàng)的ADAQ23876是引腳兼容的16位、15MSPS、低壓差分信號(hào)(LVDS)接口信號(hào)鏈μModule,可替代ADAQ23878。

低噪聲JFET放大器ADA4627-1是ADA4898-1的引腳兼容替代產(chǎn)品,性能相差不大。請(qǐng)注意,由于帶寬較低,ADA4627-1可能無法以15MSPS的全速驅(qū)動(dòng)ADAQ23878。

電路評(píng)估與測試

EVAL-CN0560-FMCZ使用SDP-H1控制板支持高精度數(shù)據(jù)采集,并使用分析、控制、評(píng)估(ACE)軟件采集時(shí)域和頻域數(shù)據(jù)。有關(guān)測試設(shè)置的完整詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱EVAL-CN0560-FMCZ用戶指南。

●   設(shè)備要求

■   EVAL-CN0560-FMCZ

■   電流源

■   EVAL-SDP-CH1Z

■   數(shù)字萬用表

■   評(píng)估軟件

●   開始使用

1.使用EVAL-CN0560-FMCZ板之前,請(qǐng)先下載ACE軟件和SDP-H1驅(qū)動(dòng)程序并將其安裝到PC。

2.將EVAL-CN0560-FMCZ和SDP-H1板連接到 PC。

3.啟動(dòng)ACE軟件。

4.使用適當(dāng)?shù)牟僮髟O(shè)置正確設(shè)置多個(gè)跳線選項(xiàng),然后將電源和信號(hào)施加到EVAL-CN0560-FMCZ。請(qǐng)注意,EVAL-CN0560-FMCZ板不需要外部電源適配器,它通過160引腳FMC連接器從SDP-H1板獲取電源。

5.斷開EVAL-CN0560-FMCZ與SDP-H1板的連接之前,請(qǐng)先斷開SDP-H1板的電源或撥動(dòng)mini USB端口附近的復(fù)位開關(guān)。

●   測量

圖10顯示積分線性度(INL)數(shù)據(jù)在+/-2.5LSB以內(nèi),該數(shù)據(jù)是使用此板捕獲的,運(yùn)行速度為15MSPS,增益為1.38,ADAQ23878前端分別設(shè)置為10mA和10μA。

image.png

圖10 10mA和10μA范圍的INL數(shù)據(jù)

圖11顯示了三個(gè)電流量程的動(dòng)態(tài)范圍。用戶可以在數(shù)字域中進(jìn)行過采樣或平均,以改善噪聲性能,并針對(duì)目標(biāo)帶寬精確捕獲小幅度信號(hào),放寬對(duì)抗混疊濾波器的要求。

image.png

圖11 動(dòng)態(tài)范圍與ADAQ23878增益的關(guān)系

圖12所示曲線的Y軸表示計(jì)算得出的理想電壓,對(duì)應(yīng)的是μModule的輸出電壓,其中輸入電流從1mA上升到10mA,增益分別為0.87和1.38。

image.png

圖12 信號(hào)鏈輸出電壓與輸入電流的關(guān)系

圖13顯示了未校準(zhǔn)信號(hào)鏈的理想輸出電壓誤差與實(shí)測輸出電壓誤差,可以看到精度為0.01%,使用的是圖10中收集的數(shù)據(jù)。增益誤差主要取決于±0.1%容差的電流檢測電阻。

image.png

圖13  μModule輸出電壓誤差與輸入電流的關(guān)系(未校準(zhǔn))

更多資料

-   O'Sullivan, Marcus.改進(jìn)低值分流電阻的焊盤布局,優(yōu)化高電流檢測精度?!赌M對(duì)話》46-06,2012年6月。

-   Pachchigar,Maithil。利用過采樣提高SAR ADC的動(dòng)態(tài)范圍。Analog.com

-   Mark Thoren和Sal Afzal。了解電源監(jiān)控精度。Analog.com

-   μModule LGA和BGA封裝考慮和裝配說明。Analog.com

數(shù)據(jù)手冊和評(píng)估板

CN0560電路評(píng)估板、ADAQ23878數(shù)據(jù)手冊、ADAQ23878評(píng)估板、ADA4898-1數(shù)據(jù)手冊、ADA4898-1評(píng)估板、LT5400數(shù)據(jù)手冊、LTM8049數(shù)據(jù)手冊、LTM8049評(píng)估板、LT3023數(shù)據(jù)手冊、LT3023評(píng)估板、LT3032數(shù)據(jù)手冊、LT3032評(píng)估板、ADP7185數(shù)據(jù)手冊、ADP7185評(píng)估板、ADP7118數(shù)據(jù)手冊、ADP7118評(píng)估板、AD8421數(shù)據(jù)手冊、AD8421評(píng)估板、ADG5209數(shù)據(jù)手冊、ADG5209評(píng)估板LTC6655數(shù)據(jù)手冊、LTC6655評(píng)估板、ADR4520數(shù)據(jù)手冊

ESD警告

ESD(靜電放電)敏感器件。帶電器件和電路板可能會(huì)在沒有察覺的情況下放電。盡管本產(chǎn)品具有專利或?qū)S斜Wo(hù)電路,但在遇到高能量ESD時(shí),器件可能會(huì)損壞。因此,應(yīng)當(dāng)采取適當(dāng)?shù)腅SD防范措施,以避免器件性能下降或功能喪失。

Circuits from the Lab?參考設(shè)計(jì)是經(jīng)過測試的參考設(shè)計(jì),有助于加速設(shè)計(jì),同時(shí)簡化系統(tǒng)集成,幫助解決當(dāng)今的模擬、混合信號(hào)和RF設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。

連接/參考器件

ADAQ23878

18位、15MSPS μModule數(shù)據(jù)采集解決方案

LT3032

雙通道150mA正/負(fù)、低噪聲、LDO線性穩(wěn)壓器,寬輸入電壓范圍

ADA4898-1

高電壓、低噪聲、低失真、單位增益穩(wěn)定的高速運(yùn)算放大器

ADP7185

-500mA、超低噪聲、高PSRR、LDO線性穩(wěn)壓器

LT3023

雙通道微功耗、低噪聲、過流/過溫保護(hù)穩(wěn)壓器,10引腳DFN封裝

ADP7118

單通道20V、200mA、低噪聲、CMOS LDO線性穩(wěn)壓器

LTM8049

雙輸出開關(guān)電源,寬輸入電壓范圍

LT5400

四通道匹配電阻網(wǎng)絡(luò)

ADR4520

超低噪聲、高精度2.048V基準(zhǔn)電壓源

LTC6655

0.25ppm噪聲、低漂移精密基準(zhǔn)電壓源

ADI的Circuits from the Lab?電路由ADI工程師設(shè)計(jì)構(gòu)建。每個(gè)電路的設(shè)計(jì)和構(gòu)建都嚴(yán)格遵循標(biāo)準(zhǔn)工程規(guī)范,電路的功能和性能都在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中以室溫條件進(jìn)行了測試和檢驗(yàn)。不過,您需負(fù)責(zé)自行測試電路,并確定其是否適用。因而,ADI將不對(duì)由任何原因、連接到任何所用參考電路上的任何物品所導(dǎo)致的直接、間接、特殊、偶然、必然或者懲罰性的損害負(fù)責(zé)。

Circuits from the Lab電路僅供與ADI產(chǎn)品一起使用,并且其知識(shí)產(chǎn)權(quán)歸ADI或其授權(quán)方所有。雖然您可以在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中使用參考電路,但是并未默認(rèn)授予其它許可,或是通過此參考電路的應(yīng)用及使用而獲得任何專利或其它知識(shí)產(chǎn)權(quán)。ADI確信其所提供的信息是準(zhǔn)確可靠的。不過,Circuits from the Lab電路是以“原樣”的方式提供的,并不具有任何性質(zhì)的承諾,包括但不限于:明示、暗示或者法定承諾,任何適銷性、非侵權(quán)或者某特定用途實(shí)用性的暗示承諾,ADI無需為參考電路的使用承擔(dān)任何責(zé)任,也不對(duì)那些可能由于其使用而造成任何專利或其它第三方權(quán)利的侵權(quán)負(fù)責(zé)。ADI有權(quán)隨時(shí)修改任何參考電路,恕不另行通知。



評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉