NTC測(cè)溫電路的精度和分辨率的深入分析
之前設(shè)計(jì)過(guò)一個(gè)產(chǎn)品,采用NTC以及PIC單片機(jī)做環(huán)境檢測(cè)。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/202404/457123.htm溫度檢測(cè)回路采用分壓電路,由于熱敏電阻TR1常溫時(shí)(25℃)阻值為10K,所以R44取10K的精密電阻。
負(fù)溫度系數(shù)電阻的性能參數(shù)在來(lái)料檢驗(yàn)時(shí)針對(duì)關(guān)鍵參數(shù)做了詳細(xì)的測(cè)試,如下表:
可采用查表的方式進(jìn)行溫度檢測(cè)。
熱敏電阻TR1的阻值計(jì)算公式為:
TR1的阻值與溫度關(guān)系曲線如下圖:
當(dāng)溫度為-45+273=228K時(shí),
當(dāng)溫度85+273=358K時(shí),
由于A/D VAD電壓為,
由于MCU自帶的A/D為10bit,所以A/D值為:
A/D值曲線如下:
由上圖可知,在高溫及低溫區(qū),此電路的分辨率將降低。
當(dāng)溫度為-45℃時(shí),ΔCAD=1對(duì)應(yīng)的ΔT為:
當(dāng)溫度為-45℃時(shí),電路分辨率為:
當(dāng)溫度為85℃時(shí),ΔCAD=1對(duì)應(yīng)的ΔT為:
當(dāng)溫度為85℃時(shí),電路分辨率為:
當(dāng)溫度為25℃時(shí),ΔCAD=1對(duì)應(yīng)的ΔT為:
當(dāng)溫度為25℃時(shí),電路分辨率為:
α越低,分辨率越高。
當(dāng)溫度在高溫區(qū)時(shí),用此電路測(cè)試溫度是T,那么實(shí)際溫度應(yīng)該是T±0.326℃
當(dāng)溫度在低溫區(qū)時(shí),用此電路測(cè)試溫度是T,那么實(shí)際溫度應(yīng)該是T±0.519℃
當(dāng)溫度在常溫區(qū)時(shí),用此電路測(cè)試溫度是T,那么實(shí)際溫度應(yīng)該是T±0.051℃
考慮溫度、初始及老化公差, R44精度選為2%,R0精度選為2%。
當(dāng)溫度為-45℃時(shí),
綜合考慮電路分辨率及A/D值公差,在低溫區(qū)時(shí),測(cè)得溫度如果為T(mén),那么實(shí)際溫度應(yīng)該是T±1.15℃。
當(dāng)溫度為85℃時(shí),
綜合考慮電路分辨率及A/D值公差,在高溫區(qū)時(shí),測(cè)得溫度如果為T(mén),那么實(shí)際溫度應(yīng)該是T±0.794℃。
當(dāng)溫度為25℃,
綜合考慮電路分辨率及A/D值公差,在常溫區(qū)時(shí),測(cè)得溫度如果為T(mén),那么實(shí)際溫度應(yīng)該是T±0.527℃。
評(píng)論