新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 解析CAF失效機(jī)理及分析方法

解析CAF失效機(jī)理及分析方法

作者: 時(shí)間:2013-11-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
0px">  5 總結(jié)

  本文通過分析,詳解了失效分析方法,最后提出相應(yīng)的改善對(duì)策,為失效問題提出了預(yù)防思路。

  5.1 CAF

  (1)CAF失效通過兩步進(jìn)行:第一步:化學(xué)鍵水解;第二步:導(dǎo)電陽極絲增長。

 ?。?)CAF形成的影響因素主要包括PCB設(shè)計(jì)的影響,板材配本的影響,PCB加工過程的影響。

  5.2 CAF失效的分析方法

 ?。?)通常使用半分法來鎖定失效區(qū)域;

  (2)使用切片觀察,垂直研磨找出層數(shù),水平研磨找CAF失效點(diǎn);

 ?。?)SEMEDS分析,使用SEM觀察外觀,EDS對(duì)不良區(qū)域進(jìn)行元素分析。

  5.3 防止CAF效應(yīng)對(duì)策

  應(yīng)從設(shè)計(jì)、制作、分析三方面進(jìn)行全方位入手,盡量避免使用可能增大CAF效應(yīng)的方法。


上一頁 1 2 3 4 下一頁

關(guān)鍵詞: CAF 失效機(jī)理

評(píng)論


技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉