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LTE發(fā)機ACLR性能的測量技術

作者: 時間:2013-09-28 來源:網絡 收藏
DDING-LEFT: 0px; PADDING-BOTTOM: 0px; MARGIN: 0px 0px 20px; WORD-SPACING: 0px; FONT: 14px/25px 宋體, arial; TEXT-TRANSFORM: none; COLOR: rgb(0,0,0); TEXT-INDENT: 0px; PADDING-TOP: 0px; WHITE-SPACE: normal; LETTER-SPACING: normal; webkit-text-size-adjust: auto; orphans: 2; widows: 2; webkit-text-stroke-width: 0px">  圖 3. 此處顯示的是使用優(yōu)化設置后的 Agilent X 系列信號分析儀獲得的 測量結果。與圖 2 使用嵌入式 N9080A 測量應用軟件獲得的結果相比,圖 3 中的 實現了 11dB 的改善。

  總結

  符合標準的頻譜測量(例如 )對于射頻工程師開發(fā)下一代無線系統(tǒng)具有極其重要的作用。然而使用 應用軟件進行測量時,受多種因素的影響,鄰近信道帶寬的變化、發(fā)射濾波器的選擇、不同帶寬和不同干擾靈敏度的信道之間的射頻變量的交互使得這些測量非常復雜。應對這一挑戰(zhàn)的實用解決方案是使用安裝有特定標準測量應用軟件的頻譜分析儀或信號分析儀。此組合能夠減少復雜測量中的錯誤,自動配置限制表和指定的測試裝置,確保測量具有出色的可重復性。使用分析儀優(yōu)化技術可以進一步改善測量結果。

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關鍵詞: LTE ACLR 測量技術

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