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高頻鎖相環(huán)的可測性設(shè)計(jì)

作者： 時(shí)間：2012-02-23 來源：網(wǎng)絡(luò) 收藏
0px">　　本文將基于IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描技術(shù)應(yīng)用于模擬電路可測性設(shè)計(jì)中，對一款高頻鎖相環(huán)提出了測試方案，并給出了相應(yīng)的測試電路。并對采用該方案進(jìn)行測試的高速鎖相環(huán)在增加測試電路前后電路的仿真結(jié)果進(jìn)行了比較。結(jié)果表明，本文所提出的高頻鎖相環(huán)測試方案對鎖相環(huán)本身的功能影響很小。

　　參考文獻(xiàn)

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