什么是DFT,DFT是什么意思

DFT:數(shù)字電路(fpga/asic)設(shè)計(jì)入門之可測(cè)試設(shè)計(jì)與可測(cè)性分析,離散傅里葉變換,(DFT)Direct Fouriet Transformer

可測(cè)試性技術(shù)（Design For Testability-DFT）就是試圖增加電路中信號(hào)的可控制性和可觀測(cè)性，以便及時(shí)經(jīng)濟(jì)地測(cè)試芯片是否存在物理缺陷，使用戶拿到良好的芯片。其中包括Ad Hoc技術(shù)和結(jié)構(gòu)化設(shè)計(jì)技術(shù)。目前，任何高IC設(shè)計(jì)系統(tǒng)都采用結(jié)構(gòu)化設(shè)計(jì)技術(shù)，其中主要掃描技術(shù)和內(nèi)建自測(cè)兩種技術(shù)。

一個(gè)電路的測(cè)試性問(wèn)題應(yīng)該包括兩個(gè)方面：
由外部輸入信號(hào)來(lái)控制電路中的各個(gè)節(jié)點(diǎn)的電平值，稱為可控制性。
從外部輸出端觀測(cè)內(nèi)部故障地難易程度，稱為可觀測(cè)性

掃描技術(shù)是指電路中的任一狀態(tài)移進(jìn)或移出的能力，其特點(diǎn)使測(cè)試數(shù)據(jù)的串行化。比較常使用的是全掃描技術(shù)和邊界掃描技術(shù)。全掃描技術(shù)是將電路中的所有觸發(fā)器用特殊設(shè)計(jì)的具有掃描功能的觸發(fā)器代替，使其在測(cè)試時(shí)鏈接成一個(gè)或幾個(gè)移位寄存器，這樣，電路分成了可以進(jìn)行分別測(cè)試的純組合電路和移位寄存器，電路中的所有狀態(tài)可以直接從原始輸入和輸出端得到控制和觀察。這樣子的電路將時(shí)序電路的測(cè)試生成簡(jiǎn)化成組合電路的測(cè)試生成，由于組合電路的測(cè)試生成算法目前已經(jīng)比較完善，并且在測(cè)試自動(dòng)化生成方面比時(shí)序電路的測(cè)試生成容易得多，因此大大降低了測(cè)試生成的難度。

對(duì)于存儲(chǔ)器模塊的測(cè)試一般由生產(chǎn)廠家提供專門的BIST電路，通過(guò)BIST電路可以方便地對(duì)存儲(chǔ)單元地存取功能進(jìn)行測(cè)試，所謂的BIST電路是指把測(cè)試電路做到IC里面，利用測(cè)試電路固有的能力自行執(zhí)行一個(gè)測(cè)試存儲(chǔ)器的程序。另外MBIST還可以解決RAM SHADOW的問(wèn)題提高芯片的可測(cè)試性。

為什么要做DFT呢？因?yàn)槲覀兊脑O(shè)計(jì)，也就是RTL到GDSII交出去的只是一個(gè)版圖，最后芯片需要生產(chǎn)織造是在foundry做的，也就是廠家根據(jù)你提供的數(shù)據(jù)GDSII做成芯片。這個(gè)流程過(guò)程中可能出現(xiàn)缺陷，這個(gè)缺陷可能是物理存在的，也可能是設(shè)計(jì)當(dāng)中的遺留問(wèn)題導(dǎo)致的，另外一方面在封裝的過(guò)程也可能出現(xiàn)缺陷。為了保證我們的芯片能夠不存在物理上的缺陷，所以就要做DFT。也就是說(shuō)，你交給foundry一個(gè)加法器的GDSII，他在做的過(guò)程和封裝的時(shí)候都可能引入缺陷；拿到這個(gè)加法器芯片你怎么知道，里面的一個(gè)與門，廠家給你做的就是一個(gè)正常工作的與門呢？你怎么知道廠家做好的加法器的dier在封裝之后引腳就能正常輸入呢？一句話，就是通過(guò)DFT！