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新型電流模式曲率補(bǔ)償帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計

作者: 時間:2011-06-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
基準(zhǔn)電壓源廣泛應(yīng)用于A/D和D/A轉(zhuǎn)換器、開關(guān)電源等電路之中。在眾多的基準(zhǔn)電壓源中,由于帶隙基準(zhǔn)能成功地在標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝中實(shí)現(xiàn),并得到良好的性能而廣受歡迎。隨著電池供電產(chǎn)品(如手機(jī),筆記本電腦等)的發(fā)展,對低壓電源電壓的要求也逐步增高。利用電阻分壓的方法和低閾值電壓器件能夠?qū)崿F(xiàn)可工作在1 V以下的CMOS帶隙基準(zhǔn)源。

  同時,由于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換精度的不斷提高,基準(zhǔn)源的溫度穩(wěn)定性也面臨著新的挑戰(zhàn)。許多曲率補(bǔ)償技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,諸如:二次溫度補(bǔ)償、指數(shù)溫度補(bǔ)償、分段線性曲率校正、電阻溫度補(bǔ)償?shù)鹊?。除了上述的這些方法外,M.D.Ker和J.S.Chen還提出了一種可工作在1 V以下的新型曲率補(bǔ)償帶隙基準(zhǔn),所用的結(jié)構(gòu)利用到了NPN和PNP兩種寄生雙極型晶體管(BJT)。本文提出了一種類似的補(bǔ)償技術(shù),但僅需用到PNP型BJT。

  1 傳統(tǒng)低壓帶隙基準(zhǔn)源的工作原理

  圖1是傳統(tǒng)低壓帶隙基準(zhǔn)的電路結(jié)構(gòu)。該基準(zhǔn)電路能夠工作在低電源電壓的關(guān)鍵是將電壓疊加轉(zhuǎn)換成電流疊加。如圖1所示,輸出電流和輸出電壓可分別表示:

  

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  式中:VT是熱電壓,VT=kT/q;k為波爾茲曼常數(shù)(1.38×10-23J/K);q為電子的帶電量(1.6×10-19C),N為BJT管Q1和Q2的發(fā)射結(jié)面積比。以上兩式的最后一項都是線性正比于絕對溫度(PTAT),被用于補(bǔ)償Veb2的負(fù)溫度系數(shù)。只要合適地選擇N,R1,R2和R3,就能得到一個具有低溫度漂移特性,且值低于1 V的參考電壓。然而,與式(2)的最后一項相比,Q2的射基電壓(Veb2)并不是關(guān)于溫度理想線性的。BJT管的

  射基電壓Veb可以表示為:

  

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  式中:VG為0 K時硅材料的外推帶隙電壓值;η為與工藝技術(shù)相關(guān)的系數(shù);m為BJT管集電極電流的溫度依賴階數(shù);T0為參考溫度。

  

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  上式中包含了一個溫度非線性項Tln(TVT/T0)。將式(3)做泰勒展開,可得:

  

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  式中:a0,a1,a2,…,an都是常數(shù)。一階溫度補(bǔ)償技術(shù)主要是補(bǔ)償a1T項,這是傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)源的情況。若要得到更低的溫度系數(shù),需要采用曲率補(bǔ)償技術(shù)去補(bǔ)償式(4)中的那些高階項。類似于圖1,本文提出的電路結(jié)構(gòu)也基于電流疊加模式原理。電路中引入了第三個電流,以補(bǔ)償Veb的非線性,實(shí)現(xiàn)曲率補(bǔ)償。

  2 新型曲率補(bǔ)償?shù)膸痘鶞?zhǔn)結(jié)構(gòu)

  2.1 電流IREF2的引入

  從式(3)可以看出來,Veb的非線性特性可以通過改變BJT管的集電極電流溫度特性加以控制。本文將要介紹的溫度補(bǔ)償技術(shù)正是基于這個性質(zhì)。圖2顯示了第三個電流IREF2的引入。如圖2所示,IREF2是由BJT管Q2的射基電壓產(chǎn)生的,Q2的集電極電流是一個與溫度無關(guān)的電流IREF,由輸出參考電流鏡像得到。因此,與傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)的BJT管的射基極電壓不同,管Q2的射基電壓VebQ2的m=0。下面將具體介紹如何利用IREF2進(jìn)行曲率補(bǔ)償。

  

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2.2 電路結(jié)構(gòu)與分析

  實(shí)現(xiàn)低壓工作和曲率補(bǔ)償?shù)耐暾娐方Y(jié)構(gòu)如圖3所示。該電路共包含了5個部分:2個電流生成電路,1個偏置電路,1個啟動電路和1個電流相減電路。圖中IREF1是2個電流之和,由傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路產(chǎn)生,可表示為:

  

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  通過電流鏡的鏡像,得到IREF為:

  

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  式中:K1是M3和M2的寬長比比值;K2是M9和M7的寬長比比值。因?yàn)镼1a和Q1b的集電極電流為PTAT電流IPTAT,而Q2的集電極電流為與溫度無關(guān)的電流IREF,回顧式(3),VebQ1a和VebQ2可分別寫成:

  

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  通過改變RREF的阻值,可以得到數(shù)值在VDSsat(M9)和VDD-|VDSsat(M3)|之間的任何電壓值。晶體管M1~M4工作在飽和區(qū),當(dāng)漏端電流減小時,它們的源漏電壓可以很小。所以,該帶隙電路的VDD理論上可以降至Veb(典型情況為0.7 V)。上述電路中,電流鏡被充分使用,不但用于產(chǎn)生參考電流,管Q2的偏置電流,還用于偏置運(yùn)放。為了最大限度地減小電流鏡的失配,管子的長度應(yīng)取足夠長,并且輸出電壓取值宜在0.6 V左右。Ms1~Ms5構(gòu)成了啟動電路,以避免電路工作在零電流狀態(tài)。Ms2的寬長比應(yīng)小于1,確保電路啟動后Ms3~Ms5是完全關(guān)斷的。

  

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  3 仿真驗(yàn)證

  采用標(biāo)準(zhǔn)0.18μm CMOS工藝進(jìn)行設(shè)計驗(yàn)證,HSpice仿真結(jié)果表明,該電路能在1~2.1 V的電源電壓范圍內(nèi)正常工作,并得到0.9 mV/V的電源調(diào)整率。圖4為電源電壓在0~2.1 V變化范圍內(nèi),溫度300 K時參考電壓的輸出波形。圖5顯示了輸出參考電壓VREF的溫度特性,在-55~+125℃的溫度范圍內(nèi),該電路平均輸出電壓為623 mV,溫度系數(shù)達(dá)到4.2 ppm/℃。

  

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  4 結(jié)語

  本文提出了一種新穎的曲率補(bǔ)償帶隙基準(zhǔn)結(jié)構(gòu)。通過3個具有不同溫度依賴性質(zhì)的電流的適當(dāng)疊加,從而產(chǎn)生一個具有極低溫度系數(shù)的參考電壓。仿真結(jié)果表明,該電路在1 V電源電壓下仍能正常工作。并且,在-55~+125℃的溫度范圍內(nèi),其溫度系數(shù)僅為4.2 ppm/℃。



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