一種基于FPGA的新型數(shù)字電壓表研究與設(shè)計
4.2 信號采樣周期自調(diào)整算法
為協(xié)調(diào)好數(shù)據(jù)精度和系統(tǒng)負(fù)擔(dān)兩者之間的關(guān)系,對于疊加周期信號的輸入信號Vi,規(guī)定單個周期的數(shù)據(jù)采集不少于8個點(diǎn),因此要對AD0809的采樣周期進(jìn)行自適應(yīng)調(diào)整。這里使用過零點(diǎn)檢測的方法,如果疊加信號的周期在0~25 Hz范圍內(nèi),采樣周期為5 ms。疊加信號周期在25~50 Hz時,采樣周期為2 ms;疊加信號周期在50~100 Hz時,采樣周期為1 ms。
設(shè)采樣周期的初始值為2 ms,采樣數(shù)為100點(diǎn)。則有:首先采集100個數(shù)據(jù),計算平均值,作為輸入信號Vi的均估值(平均值的估計值);再采集100個數(shù)據(jù),與Vi的均估值進(jìn)行比較,計算過零點(diǎn)的數(shù)量并統(tǒng)計;根據(jù)此數(shù)量,調(diào)整采樣周期,當(dāng)此數(shù)量大于20時,令采樣周期為1 ms。當(dāng)此數(shù)量不大于10時,令采樣周期為5 ms。其他令采樣周期為2 ms。
4.3 檢測疊加信號周期算法
依舊采用檢測過零點(diǎn)的數(shù)目來檢測周期。
設(shè)采集的數(shù)據(jù)點(diǎn)為1O0個,計算均值,作為輸入信號Vi的均估值;再采集數(shù)據(jù),與Vi的均估值進(jìn)行比較,計算過零點(diǎn)的數(shù)量并統(tǒng)計,同時統(tǒng)計每個數(shù)據(jù)過零點(diǎn)的時刻;檢測到三個過零點(diǎn)時,判斷其是否符合均勻分布,判斷是否檢測到一個周期。若檢測到一個周期,則停止檢測并計算此周期,否則繼續(xù)檢測。若檢測到相當(dāng)數(shù)量的數(shù)據(jù)點(diǎn),過零點(diǎn)數(shù)量仍小于3個,則認(rèn)為輸入信號為直流信號。
5 程序流程
程序流程如圖6所示。
6 測試結(jié)果分析
采用高精度數(shù)字多用表UT88B輸出值作為標(biāo)準(zhǔn)值。由表1所示。
由數(shù)據(jù)對比可以看出,在O~5 V檔位上,該數(shù)字電壓表的誤差基本在O.01 V內(nèi)。在O~50 V檔位上,誤差有所增大,但也控制在O.02 V以內(nèi),體現(xiàn)了ADC0809的轉(zhuǎn)換精度,電路整體設(shè)計合理可靠。至于O.02 V以內(nèi)的偏差,可修改程序,采用軟件的方法進(jìn)行數(shù)據(jù)校正,也可以進(jìn)一步校正A/D的基準(zhǔn)電壓。
7 結(jié)語
利用現(xiàn)場可編程門陣列技術(shù),設(shè)計了該新型數(shù)字式電壓表。用軟件替代諸多硬件,在一塊高性能FPGA芯片上,實(shí)現(xiàn)采樣時序的控制、檔位的判斷選擇、碼制的轉(zhuǎn)換和LCD驅(qū)動,極大地提高了系統(tǒng)集成度和可靠性。文中重點(diǎn)介紹了檔位電路和FPGA內(nèi)部模塊的設(shè)計以及關(guān)鍵算法的實(shí)現(xiàn)步驟。由測試結(jié)果,可看出該儀表測量范圍較寬,測量精度較高,能夠滿足物理實(shí)驗(yàn)中電量的測量要求。經(jīng)實(shí)際使用證明,系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定、操作方便。為了方便電壓表系統(tǒng)與計算機(jī)直接通信,還可進(jìn)一步增加RS 232接口,進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換,可將測得的數(shù)據(jù)實(shí)時導(dǎo)入計算機(jī)中使用。
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