變流器核心器件MOSFET與IGBT
首先來說MOSFET,提一個(gè)基礎(chǔ)性問題,驅(qū)動MOSFET導(dǎo)通的最佳柵電壓是多少伏?絕大多數(shù)人的回答是:15V。這個(gè)答案不能說錯(cuò),但是,這活干得太粗。MOSFET的導(dǎo)通電阻是隨柵電壓的提高而下降,當(dāng)柵電壓達(dá)到一定值時(shí),導(dǎo)通電阻就基本不會再降了,暫且稱之為“充分導(dǎo)通”,一般認(rèn)為這個(gè)電壓是低于15V的。
實(shí)際上,不同耐壓的MOSFET達(dá)到充分導(dǎo)通的柵電壓是不同的。基本規(guī)律是:耐壓越高的MOSFET,達(dá)到充分導(dǎo)通的柵電壓越低;耐壓越低的MOSFET,達(dá)到充分導(dǎo)通的柵電壓越高。我查閱了各種耐壓MOSFET的VGS-RDS曲線,得到的結(jié)論是:耐壓200V的MOSFET達(dá)到充分導(dǎo)通的柵電壓>16V;耐壓500V的MOSFET達(dá)到充分導(dǎo)通的柵電壓>12V;耐壓1000V的MOSFET達(dá)到充分導(dǎo)通的柵電壓>8V。因此,建議:耐壓200V及以下的MOSFET柵驅(qū)動電壓=17-18V;耐壓500V的MOSFET柵驅(qū)動電壓=15V;耐壓1000V的MOSFET柵驅(qū)動電壓=12V。
說了MOSFET的驅(qū)動電壓,再來說說IGBT的驅(qū)動電壓,IGBT的驅(qū)動電壓為15±1.5V,與IGBT的耐壓無關(guān)。驅(qū)動電壓低于13.5V,IGBT的飽和壓降會明顯增高;高于16.5V,既沒有必要,還可能帶來不利的影響。
某些用IGBT作為主功率器件的變流器,IGBT的輸出直接與外部負(fù)載連接,例如驅(qū)動電機(jī)調(diào)速的變頻器,司服系統(tǒng)等等。一旦負(fù)載短路,就會造成IGBT極為嚴(yán)重的過流,此時(shí)IGBT會有多大的電流呢?大約是IGBT額定電流的幾倍到十幾倍,過流的嚴(yán)重程度與IGBT的柵驅(qū)動電壓相關(guān),即,當(dāng)IGBT的驅(qū)動電壓在14V以下時(shí),其短路電流就較小,約是其額定電流的幾倍;當(dāng)IGBT的驅(qū)動電壓在16V以上時(shí),其短路電流就很大,約是其額定電流的十幾倍,顯然,這么大的短路電流,對IGBT極具破壞性。雖然,IGBT號稱有10微秒的抗短路能力,十幾倍的額定電流也是難于承受的,我的經(jīng)驗(yàn)是,最多只能承受一次,第二次就玩完。因此,建議,如果有條件嚴(yán)格控制IGBT的驅(qū)動電壓的話,此類變流器IGBT的柵電壓為14.5-15.5V為宜。
IGBT的主要技術(shù)參數(shù)之最大額定電流的定義:在一定的殼溫條件下,可以連續(xù)通過集電極的最大電流(直流)。我們必須關(guān)注的是:最大額定電流指的是直流,也就是說,不能有開關(guān)動作,而且,柵電壓為15V,即IGBT在良好導(dǎo)通的情況下。此時(shí)結(jié)溫不高于規(guī)格書中的最高值。
而實(shí)際應(yīng)用時(shí)總是有開關(guān)動作的,開關(guān)時(shí)的瞬時(shí)功耗遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于導(dǎo)通時(shí)的瞬時(shí)功耗,一般正常工作時(shí),導(dǎo)通時(shí)的峰值電流應(yīng)小于其最大額定電流,應(yīng)該小多少為合理呢?這個(gè)問題不能一概而論。這與所選的IGBT的品牌,開關(guān)速度,工作頻率,母線電壓,外殼溫度等等多種因素有關(guān)。最好向原生產(chǎn)商的技術(shù)支持咨詢。
我曾經(jīng)向三菱作過咨詢,采用三菱的IGBT模塊,設(shè)計(jì)AC380V的通用變頻器,工作頻率6-7KHZ,選擇相應(yīng)適用的系列型號。變頻器輸出額定電流的峰值應(yīng)該設(shè)計(jì)為IGBT最大額定電流的1/2,通用變頻器一般允許最大150%過載,此時(shí)IGBT的峰值電流為IGBT最大額定電流的3/4。
IGBT模塊的壽命
1: 功率循環(huán)壽命:外殼溫度變化很小但結(jié)溫變化頻繁時(shí)的工作模式下的壽命。
2: 熱循環(huán)壽命:系統(tǒng)從啟動到停止期間溫度相對緩慢變化的工作模式下的壽命。
下圖是功率模塊的典型結(jié)構(gòu)
當(dāng)功率模塊結(jié)溫變化時(shí), 由于膨脹系數(shù)的不同,在鋁線和硅片間、硅片和絕緣基片間將產(chǎn)生應(yīng)力應(yīng)變,如果應(yīng)力一直重復(fù),結(jié)合部的熱疲勞將導(dǎo)致產(chǎn)品失效。如下圖
在功率模塊殼溫變化相對緩慢而變化幅度大的工作模式下,由于絕緣基板和銅底板的膨脹系數(shù)不同,絕緣基板和銅底板之間的焊錫層將產(chǎn)生應(yīng)力應(yīng)變。
如果應(yīng)力一直重復(fù), 焊錫層將產(chǎn)生裂紋。如果裂紋擴(kuò)大到硅片的下方,熱阻增大將導(dǎo)致熱失控;或者熱阻增加引起DTj 增加導(dǎo)致功率循環(huán)壽命下降,并最終導(dǎo)致引線剝離失效 。如下圖
三菱IGBT功率模塊熱疲勞壽命(三菱提供)
功率器件的并聯(lián)使用
要實(shí)現(xiàn)功率器件的并聯(lián)使用,應(yīng)滿足兩個(gè)條件:
1、并聯(lián)使用功率器件的一致性好(要選用同一批次的);
2、其導(dǎo)通電阻或飽和壓降為正溫度系數(shù)。
MOSFET的導(dǎo)通電阻都是正溫度系數(shù)的,很容易實(shí)現(xiàn)并聯(lián)使用。
IGBT則不然,有的IGBT飽和壓降是負(fù)溫度系數(shù)的,有的IGBT飽和壓降是正溫度系數(shù)的。
負(fù)溫度系數(shù)飽和壓降的IGBT并聯(lián)使用難于均流,所以,不宜并聯(lián)使用。
正溫度系數(shù)飽和壓降的IGBT是可以并聯(lián)使用的,并且能夠達(dá)到很好的均流效果。
例如,INFINEON的FF450R17ME3,下圖是其飽和壓降的溫度特性,當(dāng)集電極電流大于100A時(shí),飽和壓降有良好的正溫度系數(shù)。本人使用兩個(gè)模塊并聯(lián),輸出總電流400A交流有效值,實(shí)測并聯(lián)模塊電流的不均勻度小于5%。
三菱的CM400DU-24NFH,該器件最大額定電流為400A,這是一個(gè)開關(guān)速度很快的IGBT,其飽和壓降比較大,一般應(yīng)用在工作頻率較高的地方,所以,總損耗較大,因此一般峰值電流在200A左右。從下圖可以清楚地看到,該IGBT集電極電流小于350A時(shí),其飽和壓降為負(fù)溫度系數(shù)。
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