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新思CEO:28nm后電晶體成本降低速度將趨緩

作者: 時(shí)間:2014-03-27 來(lái)源:慧聰電子網(wǎng) 收藏
編者按:摩爾定律發(fā)揮多年作用之后,似乎早已顯現(xiàn)出要退役的跡象,28納米是不是一個(gè)節(jié)點(diǎn)呢?如果單純拼制程已經(jīng)不足以提升芯片產(chǎn)品的性價(jià)比,就需要其他革新性的發(fā)展思路接過(guò)摩爾定律的傳遞棒了。

  (Moore’sLaw)將在未來(lái)的十年持續(xù)發(fā)展,但每單位電晶體成本下跌的速度將隨之減緩,無(wú)法再像過(guò)去一樣快速降低了。根據(jù)新思科技董事長(zhǎng)兼執(zhí)行長(zhǎng)AartdeGeus表示,晶片設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜,逐漸延緩向更大晶圓的過(guò)渡,但也為其他替代技術(shù)開啟了大門。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/235394.htm

  AartdeGeus的這番評(píng)論正好出現(xiàn)在當(dāng)今業(yè)界日益關(guān)注半導(dǎo)體技術(shù)的未來(lái)發(fā)展之際。有些業(yè)界觀察家指出,節(jié)點(diǎn)可能會(huì)是最后一次還能以新矽晶制程為客戶帶來(lái)完整的好處了──更低成本、功耗以及更高性能。

  展望未來(lái),「評(píng)判的標(biāo)準(zhǔn)將取決于每個(gè)電晶體成本降價(jià)的速度有多快──這同時(shí)也會(huì)是良率能多快提升的函數(shù),」AartdeGeus指出,「隨著電晶體降價(jià)速度減緩,半導(dǎo)體的價(jià)格很可能就必須提高,」才能使晶片制造商得以回收投資。

  不過(guò),AartdeGeus也轉(zhuǎn)述英特爾資深院士MarkBohr的看法,他說(shuō)MarkBohr表示看到一條可邁向7nm節(jié)點(diǎn)的發(fā)展道路,還「可能以某種方式降低每電晶體價(jià)格?!?/p>

  業(yè)界分析師G.DanHutcheson則指出,目前對(duì)于未來(lái)節(jié)點(diǎn)的每電晶體成本資料掌握有限。不過(guò),根據(jù)以往的發(fā)展經(jīng)驗(yàn),他預(yù)計(jì)業(yè)界將能持續(xù)看到成本下降。

  Hutcheson指出,由于缺少下一代微影工具,晶圓廠自20nm起就必須為一些晶片層進(jìn)行兩次圖樣(pattern)過(guò)程。但微影技術(shù)僅占晶片制造成本的四分之一。

  面對(duì)未來(lái)可能更高的成本,「業(yè)界將竭盡所能的利用目前的節(jié)點(diǎn),」AartdeGeus表示,「由于利潤(rùn)并沒那么高,其他公司可能更指望在16/14nm節(jié)點(diǎn),因此,只有一些廠商會(huì)轉(zhuǎn)移到20nm節(jié)點(diǎn),」他補(bǔ)充說(shuō)。

  這可能會(huì)為其他替代技術(shù)開啟了另一扇門,如意法半導(dǎo)體(ST)以及其他業(yè)者提出的全耗盡型絕緣上覆矽(FD-SOI)技術(shù)?!傅@也會(huì)帶動(dòng)其他主導(dǎo)廠商大力支持FD-SOI,」他說(shuō)。

  考慮到成本不斷的增加以及晶片制造的復(fù)雜度,半導(dǎo)體公司已經(jīng)將從300mm晶圓過(guò)渡到45nn晶圓的時(shí)程延遲到2020年了。AartdeGeus說(shuō):「更大的晶圓有時(shí)雖可帶來(lái)更低成本,但業(yè)界也相應(yīng)地需要一款完整的工具,如今卻還無(wú)法到位?!?/p>

  盡管如此,AartdeGeus對(duì)于未來(lái)發(fā)展仍抱持樂觀看法。隨著該公司推出重要的晶片設(shè)計(jì)軟體升級(jí),他表示,「我們可支援多幾十億種電晶體晶片,而在未來(lái)十年也將看到持續(xù)的進(jìn)展?!?/p>

  有趣的是,在以Synopsys公司工具完成的設(shè)計(jì)中,只有約5%的設(shè)計(jì)采用目前先進(jìn)的制程技術(shù)。根據(jù)AartdeGeus的簡(jiǎn)報(bào)資料,180nm節(jié)點(diǎn)是目前最普遍的制程技術(shù),在采用該工具的設(shè)計(jì)中約占30%,接著分別是65nm以及250nm節(jié)點(diǎn)。

  「這的確是令人驚訝的數(shù)據(jù)分布,讓我不得不再三確認(rèn)圖表與數(shù)字是否確,」AartdeGeus說(shuō),「但可以確定的是我們看到了大量轉(zhuǎn)向28nm的趨勢(shì),接下來(lái)也將逐漸增加過(guò)渡至16/14nm節(jié)點(diǎn)。」



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