無(wú)源高頻RFID芯片的FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)

根據(jù)式（2）可以推算出天線線圈的等效電感，再根據(jù)式（1）可以計(jì)算出并聯(lián)電容的理論值。

為了補(bǔ)償電路板加工偏差以及電路中其他參數(shù)的不確定因素，消除線圈計(jì)算值與加工后實(shí)際值之間的誤差，線圈匝數(shù)預(yù)留3.5、4.5圈可選的跳線。調(diào)試時(shí)根據(jù)實(shí)際測(cè)量結(jié)果，確定并聯(lián)電容的容值和線圈的具體匝數(shù)。

2.4.2天線調(diào)試

驗(yàn)證平臺(tái)電路板加工、焊接完成后，使用阻抗分析儀測(cè)量天線的實(shí)際電感值，本次測(cè)到的天線線圈的電感值近似為2.9 nH；根據(jù)式（1）重新計(jì)算并聯(lián)電容的值為47.55 nF，校正理論計(jì)算與加工后實(shí)際值之間的偏差。

并聯(lián)電容值確定后，使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量天線的諧振頻率。根據(jù)諧振頻率的偏移情況，逐步增加或者減少線圈匝數(shù)，直到達(dá)到指定的諧振頻率13.56 MHz.

根據(jù)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量結(jié)果顯示，本次天線能成功諧振在13.56 MHz，此時(shí)線圈匝數(shù)為4，并聯(lián)電容大小為47 nF.圖6、圖7為矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量的諧振圖。


圖6 幅頻特性圖

圖7 特性阻抗圖

3測(cè)試結(jié)果

FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)經(jīng)過(guò)器件選型、硬件設(shè)計(jì)、數(shù)字邏輯單元的移植實(shí)現(xiàn)以及系統(tǒng)調(diào)試后，能夠與支持ISO/IEC15693協(xié)議的閱讀器進(jìn)行穩(wěn)定通信。圖8顯示了閱讀器下發(fā)查詢（Inventory）命令時(shí)空間場(chǎng)波形信息；圖9顯示了閱讀器下發(fā)查詢（Inventory）命令時(shí)，標(biāo)簽收到的時(shí)鐘信號(hào)（clk）、解調(diào)信號(hào)（demo_data）以及標(biāo)簽返回的調(diào)制信號(hào)（modu_data）波形。


圖8 命令空間場(chǎng)波形圖


圖9 標(biāo)簽介紹命令、返回?cái)?shù)據(jù)波形圖

本文結(jié)合RFID芯片的設(shè)計(jì)特點(diǎn)，描述了一種FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì)，支撐無(wú)源高頻RFID芯片的FPGA原型驗(yàn)證。經(jīng)測(cè)試表明，該驗(yàn)證平臺(tái)能夠?qū)崿F(xiàn)ISO/IEC15693協(xié)議中的通信功能，能與多款閱讀器進(jìn)行穩(wěn)定的通信，讀寫(xiě)性能優(yōu)異，穩(wěn)定性、可靠性都能達(dá)到預(yù)期的效果，滿足標(biāo)簽芯片F(xiàn)PGA原型驗(yàn)證的需求。

本文設(shè)計(jì)的FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)還可以作為電子標(biāo)簽芯片的原型設(shè)計(jì)提供給客戶試用，提前進(jìn)行軟件開(kāi)發(fā)；還可以提前進(jìn)行第三方的認(rèn)證工作。另外，該驗(yàn)證平臺(tái)對(duì)于符合其他協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的RFID芯片的驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì)也有很好的參考價(jià)值。