新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設計應用 > 一種基于BQ24161+TPS2419雙電池供電方案

一種基于BQ24161+TPS2419雙電池供電方案

作者: 時間:2014-09-10 來源:網絡 收藏

  

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/262769.htm
備電插入、拔出系統(tǒng)供電流程圖

 

  1) 當主電池給系統(tǒng)供電時,插入備電,如果備電電壓滿足VBAT2_SYS-VSYS>65mV,那么備電的會打開外部的MOSFET,備電給系統(tǒng)供電,VSYS=VBAT2_SYS-Vdrop2,其中Vdrop2是MOSFET上的導通壓降。對于主電的通路來說,如果此時VBAT1_SYS-VSYS滿足關斷條件,那么主電池通路的MOSFET會關斷,由備電給系統(tǒng)供電,關斷過程中VSYS電壓保持穩(wěn)定,能夠保證系統(tǒng)供電的可靠性。如果VBAT1_SYS-VSYS不滿足關斷條件,那么主電的通路的MOSFET仍然導通,此時主電備電的同時給系統(tǒng)供電。

  2) 當主電池給系統(tǒng)供電時,拔出備電,因為此時備電通路MOSFET沒有打開,拔出備電對VSYS沒有任何影響,VSYS仍然由主電來提供。

  3) 當備電給系統(tǒng)供電時,拔出備電。在拔出備電的過程中VSYS電壓會有下降的趨勢,當VSYS電壓跌落到主電通路VBAT1_SYS-VSYS>65mV的導通門檻時,主電回路的會迅速打開MOSFET,VSYS電流由主電池來提供,由于能夠迅速打開,因此在整個切換過程中能夠保證VSYS供電的可靠性。

  綜合以上幾種條件下分析,表明本文中TPS2419設計實現(xiàn)的電路在備電突然插入或者拔出的情況下,能夠完全保證系統(tǒng)供電的可靠性。

  下面先來分析討論一下主電通路TPS2419電路的設計,如圖4所示。

  

主電通路TPS2419電路的設計

 

  TPS2419的A、C引腳電壓檢測輸入引腳,用來檢測外部MOSFET上的壓降,分別連接MOSFET的源極和漏極,分別連接470nF的去耦電容。對于MOSFET的選擇要考慮電壓等級、Rdson、尺寸、驅動電壓等級以及成本等因素。本設計中采用CSD16412Q5A型N-MOSFET,其VDS電壓等級為25V,RDS(on)只有13mΩ。為了最大程度減小對TPS2419內部電源的干擾,BYP引腳需要連接一個2.2nF的去耦電容。GATE引腳提供外部MOSFET的柵極驅動信號,其強健的驅動能力可以使得TPS2419在100-200ns的時間里迅速的關斷外部MOSFET,為了防止過快的電流變化對電路的影響,需要GATE引腳與MOSFET的柵極之間串聯(lián)一個10Ω~200Ω的電阻,本設計中選取30Ω電阻R13.RSET引腳是用力設置MOSFET的關斷門檻,如下式:

  

 

  負的關斷門檻可以防止由于總線上噪聲引起的誤關斷動作,但也會造成大的反向電流;正的關斷門檻可以防止或減小反向電流,但是對噪聲的敏感度高,易在輕載時不斷關斷、重起。由于本設計是針對電池的應用,輸入電源噪聲很小,另外負載電流不太大,為了盡量防止反向電流引起的電池之間互充,可以設置關斷門檻為0mV,因此取

  

 

  EN引腳為TPS2419的使能控制,為了最大限度的減小系統(tǒng)待機時候的靜態(tài)電流,當系統(tǒng)處于待機條件下OREN1信號拉低,TPS2419處于不使能狀態(tài),靜態(tài)電流可以維持在最小,此時系統(tǒng)的供電經過肖特基二極管D2來提供。

  

備電通路TPS2419電路的設計

 

  圖5是備電通路TPS2419電路的設計。

  備電池通路與主電池通路TPS2419電路設計基本相同,只是MOSFET管的設計稍有區(qū)別。對于相同部分的電流這里不再贅述,只對MOSFET部分進行分析討論。如果在應用中需要關斷備電池的放電,如果選用單MOSFET的設計,當OREN2設置TPS2419處于不使能狀態(tài)時,如果備電池電壓高于VSYS時,電流就會從外部MOSFET的體二極管流向VSYS,從而不能斷開備電的放電,因此這里需要采用對管的結構,這樣就可以完全切斷備電放電的通路。

  2.4 實驗結果分析

  測試電路在靜態(tài)負載以及動態(tài)負載不同負載條件下,系統(tǒng)供電電壓VSYS的穩(wěn)定性以及VBAT1_SYS與VBAT2_SYS之間是否相互影響:

  1) 備電不在位,主電提供系統(tǒng)電壓VSYS,VBAT1_SYS>VBAT2_SYS條件下插入備電。過程中不存在主電、備電切換供電過程,測試VSYS電壓的穩(wěn)定性以及備電對主電通路的影響;

  2) 備電不在位,主電提供系統(tǒng)電壓VSYS,VBAT1_SYS<=“” p=“”>

  3) 備電在位,主電提供系統(tǒng)電壓VSYS,VBAT1_SYS>VBAT2_SYS,拔出備電。過程中不存在主電、備電切換供電過程,測試VSYS的穩(wěn)定性以及備電對主電通路的影響;

  4) 備電在位,備電提供系統(tǒng)電壓VSYS,VBAT1_SYS<=“” p=“”>

  下面分為靜態(tài)負載電流以及動態(tài)負載電流兩種情況,在不同工作條件下測試系統(tǒng)電壓VSYS的穩(wěn)定性以及VBAT1_SYS與VBAT2_SYS之間是否相互影響,其中:CH1-VSYS,CH2-VBAT1_SYS,CH3-VBAT2_SYS,CH4-ISYS.

  1) 持續(xù)負載電流條件下測試

  測試方法:VSYS系統(tǒng)供電端上加恒定3A靜態(tài)電流負載,在主電、備電供電條件下,測試備電插入、拔出過程中VSYS電壓的穩(wěn)定性和穩(wěn)定性。

  

持續(xù)負載電流條件下測試

 

  

持續(xù)負載電流條件下測試


關鍵詞: BQ24161 TPS2419 ORing

評論


技術專區(qū)

關閉