新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 牛人業(yè)話 > 提高M(jìn)SP430G 系列單片機(jī)的Flash 擦寫壽命方法

提高M(jìn)SP430G 系列單片機(jī)的Flash 擦寫壽命方法

作者: 時(shí)間:2014-10-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  2.2.1 軟件描述

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/263652.htm

  在軟件實(shí)現(xiàn)上,為了便于軟件處理,建議定義一些關(guān)鍵宏定義和結(jié)構(gòu)體,指定 模擬

   的起始、結(jié)束地址、頁的大小、子頁的大小、每個(gè)頁的子頁數(shù)目等參數(shù),同時(shí)將需要操作的參數(shù)封裝起來,便于軟件操作和管理,不建議定義許多離散的標(biāo)志變量。

  在軟件操作上, 模擬 模塊需要提供幾個(gè)API 接口給應(yīng)用程序調(diào)用。

  通過typedef 關(guān)鍵字定義設(shè)備類型,typedef unsigned char u8;

  ChkFstPowerOnInfo()用于檢測芯片是否為第一次上電并初始化 參數(shù)到內(nèi)存,原型如下。

  Void ChkFstPowerOnInfo(void);

  Write()用于寫 Flash,傳遞的形參包括指向待寫入數(shù)據(jù)的指針,待寫入數(shù)據(jù)在子頁中的起始字節(jié)編號,寫入數(shù)據(jù)的長度,原型如下。

  void FlashWrite( u8 *array, u8 startNum, u8 length );

  FlashErase()用于擦除 Flash,傳遞的形參是子頁的編號,在擦除函數(shù)中需要根據(jù)子頁的編號判斷是否需要執(zhí)行頁的擦除操作,原型如下。

  void FlashErase(u8 seg_sn);

  

 

  2.2.2 軟件流程圖

  軟件啟動(dòng)后,初始化模擬EEPROM 流程圖描述如下。

  

 

  圖四 初始化流程圖

  調(diào)用 API,向模擬 EEPROM 寫入數(shù)據(jù)的軟件流程如圖五所示。在軟件處理中,要特別注意目標(biāo)指針的切換和保證寫入數(shù)據(jù)的正確性,在代碼空間允許的情況下,可以增加一些校驗(yàn)算法來保證。

  

 

  圖五 寫入模擬EEPROM 數(shù)據(jù)流程

  采用劃分子頁的方案總結(jié)如下。

  每次寫入模擬EEPROM 的數(shù)據(jù)長度為定長,即為子頁的長度。

  軟件需要定義一個(gè)存儲(chǔ)變量結(jié)構(gòu)體,用于刷新和同步模擬EEPROM 內(nèi)容。在將數(shù)據(jù)寫入模擬EEPROM 之前,程序員需要按照約定的數(shù)據(jù)格式,在內(nèi)存中將所有的目標(biāo)存儲(chǔ)變量進(jìn)行整理。

  在軟件處理上,需要計(jì)算當(dāng)前寫入和下一次寫入的物理地址;在每一次執(zhí)行寫入操作后,根據(jù)子頁長度大小,將指向子頁的目的操作指針自動(dòng)累加。

  待一個(gè)頁(Page)寫滿后,需要將最后更新的模擬EEPROM 數(shù)據(jù)拷貝到下一個(gè)頁,再對寫滿頁執(zhí)行一次擦除操作。

  在嵌入式軟件處理上需加入合適的校驗(yàn)機(jī)制,保證寫入數(shù)據(jù)的正確性并監(jiān)測用于模擬EEPROM功能的Flash 子頁是否已經(jīng)失效。

  2.3 兩種方案的對比分析

  兩種方案的對比分析見表二。

  

 

  表二 兩種方案的對比分析

  3.實(shí)際的嵌入式應(yīng)用

  根據(jù)軟件需要,建議采用字節(jié)(8bit)做為操作的最小粒度,適用性會(huì)更廣泛。

  3.1 Flash 存儲(chǔ)器擦寫壽命的提升

  對于G 系列的Flash 存儲(chǔ)器,可以保證至少10000 次的編程和擦除壽命。如圖六所示。

  

 

  圖六 G 系列單片機(jī)Flash 編程和擦除壽命

  采用劃分小頁結(jié)合至少分配2 個(gè)大頁的操作方式,則可以大大增加Flash 模擬EEPROM 的擦寫壽命。例如,對于G 系列單片機(jī),如果將每個(gè)小頁的尺寸劃分為16 字節(jié),采用2 個(gè)大頁(每頁512 字節(jié))作為模擬 EEPROM 使用,則可以提供 64 個(gè)操作子頁((512/16)x2=64),可以保證至少640000 次的擦寫壽命。

  3.2 掉電時(shí)的異常處理

  如果正在進(jìn)行Flash 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)時(shí)發(fā)生掉電,數(shù)據(jù)可能會(huì)保存不成功,存在異常。為了增強(qiáng)健壯性,在軟件處理上,需要考慮設(shè)備異常掉電等可能會(huì)導(dǎo)致Flash 擦寫失敗的情況。

  在軟件處理中,當(dāng)成功保存Flash 數(shù)據(jù)后,再寫入該子頁的狀態(tài)標(biāo)志。單片機(jī)上電后,用戶程序?qū)⒉檎易詈笠淮螌懭氲淖禹?,再將該子頁的?shù)據(jù)內(nèi)容并恢復(fù)到內(nèi)存中的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中。

  4. 系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)

  4.1 時(shí)鐘源的選擇

  由于驅(qū)動(dòng)Flash 的時(shí)鐘源(ACLK、MCLK、SMCLK)和時(shí)鐘頻率可以設(shè)定,為了保證在將數(shù)據(jù)寫入模擬EEPROM 時(shí)的可靠性,建議在將Flash 的時(shí)鐘頻率降低后,再對其進(jìn)行操作。例如將Flash 的時(shí)鐘頻率降低到1MHz 后,進(jìn)行寫入操作。需要注意,在降低了時(shí)鐘頻率后,若此時(shí)鐘源也是定時(shí)器(Timer)的時(shí)鐘源,則可能會(huì)影響到定時(shí)器的定時(shí)準(zhǔn)確性,需要軟件上做好處理。

  4.2 代碼在RAM 中運(yùn)行

  由于向Flash 寫入數(shù)據(jù)操作是通過執(zhí)行Flash 中程序代碼,對Flash 進(jìn)行擦除和編程操作。由于對Flash 的編程需要mcu 內(nèi)部執(zhí)行一個(gè)升壓操作,所以如果有足夠的內(nèi)存空間,建議將編程、擦除等關(guān)鍵代碼拷貝到RAM 中運(yùn)行,可以使用關(guān)鍵字__ramfunc 指定,如下圖七所示。

  

 

  圖七 使用關(guān)鍵字__ramfunc 將程序指定到Ram 中運(yùn)行

  5.總結(jié)

  本文從軟件方面,以及安全性方面探討了使用MSP430G 系列單片機(jī)在使用Flash 模擬EEPROM方面的應(yīng)用,提供了兩種不同的方式供選擇。兩種方式都可以大幅度提高模擬EEPROM 的編寫、擦除壽命,并且滿足高可靠性的應(yīng)用設(shè)計(jì),用戶可以結(jié)合具體的應(yīng)用進(jìn)行選擇。

存儲(chǔ)器相關(guān)文章:存儲(chǔ)器原理



上一頁 1 2 下一頁

關(guān)鍵詞: MSP430 Flash EEPROM

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉