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吉時(shí)利發(fā)布脈沖與脈沖I-V測(cè)試解決方案

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作者： 時(shí)間：2007-04-11 來源：edw 收藏
美國(guó)俄亥俄州克利夫蘭市2007年4月10日訊——新興測(cè)量需求解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者美國(guó)吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布獲獎(jiǎng)產(chǎn)品——4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的最新硬件和軟件升級(jí)版本，本次升級(jí)引入4200-SCS新一代脈沖測(cè)試功能。實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)的應(yīng)用將集成直流和脈沖測(cè)量功能與完整的應(yīng)用工具包結(jié)合，為用戶提供完整解決方案。功能增強(qiáng)的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導(dǎo)體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強(qiáng)大新功能。新升級(jí)版本不僅增強(qiáng)了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應(yīng)用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測(cè)量功能進(jìn)一步擴(kuò)展到新領(lǐng)域，例如Flash存儲(chǔ)器測(cè)試、高功率射頻器件測(cè)試以及先進(jìn)半導(dǎo)體材料的脈沖測(cè)試等。

功能增強(qiáng)的測(cè)試硬件

吉時(shí)利（Keithley）新型解決方案增強(qiáng)原有的硬件性能， 其采用的新型脈沖發(fā)生器插卡4205-PG2具備多種新功能，例如已申請(qǐng)技術(shù)專利的Segment ARBTM模式，幫助用戶通過簡(jiǎn)單線段即能輕松產(chǎn)生復(fù)雜波形。Segment ARB功能能夠產(chǎn)生基本的脈沖調(diào)制技術(shù)所無法產(chǎn)生的復(fù)雜波形。該功能非常適于Flash

存儲(chǔ)器測(cè)試，其中需要一些復(fù)雜的碼型用于存儲(chǔ)單元特征分析和壽命測(cè)試。4205-PG2還集成一個(gè)任意波形發(fā)生器，即ARB模式，且具有一內(nèi)置高耐用型輸出繼電器，壽命幾乎無限長(zhǎng)。利用該繼電器可輕易控制和代替Flash測(cè)試中的外置繼電器，縮短耐久性測(cè)試時(shí)間。

此外，新增電源擴(kuò)展4200-SCS系統(tǒng)所允許的配置方案：一個(gè)4200-SCS機(jī)架最多實(shí)現(xiàn)支持四個(gè)獨(dú)立脈沖發(fā)生器卡。由于每個(gè)4200-PG2具有兩個(gè)通道，因此4200-SCS系統(tǒng)每個(gè)機(jī)架最多可支持8個(gè)脈沖通道。同時(shí)，集成的4205-PG2為外部觸發(fā)源提供一個(gè)觸發(fā)輸入信號(hào)，因此每個(gè)機(jī)架內(nèi)的多個(gè)脈沖卡實(shí)現(xiàn)在10納秒內(nèi)完成同步。

應(yīng)對(duì)前沿技術(shù)挑戰(zhàn)的應(yīng)用解決方案

吉時(shí)利（Keithley）本次發(fā)布的應(yīng)用解決方案建立在功能增強(qiáng)的4205-PG2脈沖發(fā)生器卡和新版應(yīng)用軟件基礎(chǔ)之上。4200-PIV-Q工具包針對(duì)由III-V族半導(dǎo)體材料和LDMOS工藝制成的射頻器件和高功率FET進(jìn)行脈沖I-V測(cè)試和信號(hào)分析而特別設(shè)計(jì)。4200-PIV-Q工具簡(jiǎn)單易用，非常靈活，具有



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